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带时间参数的测试产生
被引量：
3
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作者
李华伟
李忠诚
闵应骅
《计算机学报》
EI
CSCD
北大核心
1999年第4期390-394,共5页
时延测试对于高速集成电路非常重要．本文介绍一个带时间参数的时延测试产生系统．该系统使用一个时刻逻辑值表来表示一个波形，并将输入波形限制为只有唯一的一个输入在0时刻有跳变，其它输入为稳定的0或1，从而实现了波形敏化条件下...
时延测试对于高速集成电路非常重要．本文介绍一个带时间参数的时延测试产生系统．该系统使用一个时刻逻辑值表来表示一个波形，并将输入波形限制为只有唯一的一个输入在0时刻有跳变，其它输入为稳定的0或1，从而实现了波形敏化条件下的时延测试产生．与以往的不考虑时间因素的时延测试产生系统相比，带时间参数的测试产生提高了故障覆盖率，并且更接近于电路的实际．
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关键词
时间参数
测试产生
波形敏化
VLSI
集成电路
在线阅读
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职称材料
单跳变敏化
被引量：
1
2
作者
李华伟
李忠诚
闵应骅
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2000年第4期308-311,共4页
出于定量地测量被测通路的传输延迟的考虑 ,文中提出一种基于波形敏化的“单跳变敏化”的概念 ,对波形敏化与传统的通路敏化的区别 ,以及基于波形敏化的单跳变敏化的特点进行了分析 ,并利用带时间参数的测试产生系统 DTGWTP[7] 取得了...
出于定量地测量被测通路的传输延迟的考虑 ,文中提出一种基于波形敏化的“单跳变敏化”的概念 ,对波形敏化与传统的通路敏化的区别 ,以及基于波形敏化的单跳变敏化的特点进行了分析 ,并利用带时间参数的测试产生系统 DTGWTP[7] 取得了单跳变敏化的实验结果 .利用单跳变敏化在目标通路的原始输出线上输出单跳变的特点 ,可以进行时延故障诊断 .实验数据表明 ,单跳变敏化的覆盖率远远高于单通路敏化的覆盖率 。
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关键词
时间参数
波形敏化
单跳变敏化
数字电路
测试
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职称材料
题名
带时间参数的测试产生
被引量：
3
1
作者
李华伟
李忠诚
闵应骅
机构
中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室
出处
《计算机学报》
EI
CSCD
北大核心
1999年第4期390-394,共5页
基金
国家自然科学基金
文摘
时延测试对于高速集成电路非常重要．本文介绍一个带时间参数的时延测试产生系统．该系统使用一个时刻逻辑值表来表示一个波形，并将输入波形限制为只有唯一的一个输入在0时刻有跳变，其它输入为稳定的0或1，从而实现了波形敏化条件下的时延测试产生．与以往的不考虑时间因素的时延测试产生系统相比，带时间参数的测试产生提高了故障覆盖率，并且更接近于电路的实际．
关键词
时间参数
测试产生
波形敏化
VLSI
集成电路
Keywords
time parameter
, test generation,
waveform sensitization
分类号
TN470.7 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
单跳变敏化
被引量：
1
2
作者
李华伟
李忠诚
闵应骅
机构
中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室
出处
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2000年第4期308-311,共4页
基金
国家自然科学基金重点项目!( 6973 3 0 10 )
文摘
出于定量地测量被测通路的传输延迟的考虑 ,文中提出一种基于波形敏化的“单跳变敏化”的概念 ,对波形敏化与传统的通路敏化的区别 ,以及基于波形敏化的单跳变敏化的特点进行了分析 ,并利用带时间参数的测试产生系统 DTGWTP[7] 取得了单跳变敏化的实验结果 .利用单跳变敏化在目标通路的原始输出线上输出单跳变的特点 ,可以进行时延故障诊断 .实验数据表明 ,单跳变敏化的覆盖率远远高于单通路敏化的覆盖率 。
关键词
时间参数
波形敏化
单跳变敏化
数字电路
测试
Keywords
time parameter
,
waveform sensitization
,
single transition sensitization
分类号
TN790.7 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
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作者
出处
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被引量
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1
带时间参数的测试产生
李华伟
李忠诚
闵应骅
《计算机学报》
EI
CSCD
北大核心
1999
3
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职称材料
2
单跳变敏化
李华伟
李忠诚
闵应骅
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2000
1
在线阅读
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职称材料
已选择
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参考文献
引证文献
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