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全扫描设计中多扫描链的构造
被引量：
2
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作者
李兆麟
叶以正
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000年第2期90-93,共4页
本文在交迭测试体系[2 ,3] 的基础上提出了一种多扫描链的区间构造法 ,对于确定的测试向量集能够显著地减少测试应用时间 .该构造方法根据规定的扫描链数 ,通过求解线性规划问题的方法确定扫描寄存器在扫描链上的优化的分布区间 ,从而...
本文在交迭测试体系[2 ,3] 的基础上提出了一种多扫描链的区间构造法 ,对于确定的测试向量集能够显著地减少测试应用时间 .该构造方法根据规定的扫描链数 ,通过求解线性规划问题的方法确定扫描寄存器在扫描链上的优化的分布区间 ,从而构造多扫描链 ,最后根据对多扫描链进行连线复杂度的定性分析 。
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关键词
多扫描链
集成电路
全扫描设计
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职称材料
题名
全扫描设计中多扫描链的构造
被引量：
2
1
作者
李兆麟
叶以正
机构
哈尔滨工业大学微电子中心
出处
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000年第2期90-93,共4页
文摘
本文在交迭测试体系[2 ,3] 的基础上提出了一种多扫描链的区间构造法 ,对于确定的测试向量集能够显著地减少测试应用时间 .该构造方法根据规定的扫描链数 ,通过求解线性规划问题的方法确定扫描寄存器在扫描链上的优化的分布区间 ,从而构造多扫描链 ,最后根据对多扫描链进行连线复杂度的定性分析 。
关键词
多扫描链
集成电路
全扫描设计
Keywords
multiple scan chains
test application time
,
region configuration
,
routing complexity
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
全扫描设计中多扫描链的构造
李兆麟
叶以正
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000
2
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