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p-Si单晶低表面复合速度的获得
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作者 颜永美 《厦门大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2001年第5期1045-1050,共6页
提出减低 p- Si单晶表面复合速度参数值的两个行而有效的方法 ,解释了其不同的作用机理 .实验表明 ,经 HF腐蚀处理过的 p- Si单晶 ,自然晾干的表面复合速度测算值比红外灯烘干的测算值低 1个量级以上 ;而对于同一 p- Si单晶 ,置于氮气... 提出减低 p- Si单晶表面复合速度参数值的两个行而有效的方法 ,解释了其不同的作用机理 .实验表明 ,经 HF腐蚀处理过的 p- Si单晶 ,自然晾干的表面复合速度测算值比红外灯烘干的测算值低 1个量级以上 ;而对于同一 p- Si单晶 ,置于氮气氛围之中的测算值要比大气之中的测算值低 展开更多
关键词 p-si单晶 低表面复合速度 半导体 表面性质 电学性能 氟化氢腐蚀
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