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FPGA测试技术及ATE实现
被引量：
10
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作者
龙祖利
王子云
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
2011年第6期65-67,共3页
随着FPGA的规模和复杂性的增加,测试显得尤为重要。介绍了SRAM型FPGA的结构概况及FPGA的测试方法,以Xilinx公司的spartan3系列芯片为例,利用检测可编程逻辑资源的多逻辑单元(CLB)混合故障的测试方法,阐述了如何在自动测试系统(ATE)上实...
随着FPGA的规模和复杂性的增加,测试显得尤为重要。介绍了SRAM型FPGA的结构概况及FPGA的测试方法,以Xilinx公司的spartan3系列芯片为例,利用检测可编程逻辑资源的多逻辑单元(CLB)混合故障的测试方法,阐述了如何在自动测试系统(ATE)上实现FPGA的在线配置以及功能和参数测试,为FPGA面向应用的测试提供了一种可行的方法。
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关键词
现场可编程门阵列(FPGA)
多逻辑单元(
clb
)
测试
自动测试系统
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职称材料
题名
FPGA测试技术及ATE实现
被引量：
10
1
作者
龙祖利
王子云
机构
西南科技大学
中国工程物理研究院电子工程研究所
出处
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
2011年第6期65-67,共3页
文摘
随着FPGA的规模和复杂性的增加,测试显得尤为重要。介绍了SRAM型FPGA的结构概况及FPGA的测试方法,以Xilinx公司的spartan3系列芯片为例,利用检测可编程逻辑资源的多逻辑单元(CLB)混合故障的测试方法,阐述了如何在自动测试系统(ATE)上实现FPGA的在线配置以及功能和参数测试,为FPGA面向应用的测试提供了一种可行的方法。
关键词
现场可编程门阵列(FPGA)
多逻辑单元(
clb
)
测试
自动测试系统
Keywords
Field Programmable Gate Array（FPGA）
multi-detection logic cell（clb）
test
Automatic Test System（ATE）
分类号
TP302 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
FPGA测试技术及ATE实现
龙祖利
王子云
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
2011
10
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