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低Z泡沫材料密度测量 被引量:4
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作者 贾鹏 马小军 +3 位作者 高党忠 罗青 叶成刚 李宝荣 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第9期847-850,共4页
采用低能X射线对低原子序数(低Z)泡沫样品进行透射照相,以胶片作为记录介质,对材料密度进行测量。描述了测量方法的原理、系统的组成及测量数据的获取及其分析。采用此方法可实现泡沫样品密度的小批量测量。基于测试图像分析,可获得不... 采用低能X射线对低原子序数(低Z)泡沫样品进行透射照相,以胶片作为记录介质,对材料密度进行测量。描述了测量方法的原理、系统的组成及测量数据的获取及其分析。采用此方法可实现泡沫样品密度的小批量测量。基于测试图像分析,可获得不同泡沫样品的平均密度、密度均方差、密度分布图像。该测量技术为CH泡沫类靶材制备工艺的进一步改善提供了有力的分析测试手段。 展开更多
关键词 低能x射线 ch泡沫材料 密度分布
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