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深亚微米大容量PROM芯片ESD保护技术 被引量:1
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作者 裴国旭 邓玉良 +2 位作者 樊利慧 李晓辉 彭锦军 《电子器件》 CAS 北大核心 2014年第4期587-590,共4页
从全芯片角度出发,采用多电源ESD架构和全芯片ESD设计,对整颗芯片提供全方位的ESD保护,介绍了基于0.18μm CMOS工艺设计的大容量PROM芯片的ESD设计技术。同时,通过对高压编程引脚的ESD加固设计,提高了芯片的整体抗ESD能力。最终产品ESD... 从全芯片角度出发,采用多电源ESD架构和全芯片ESD设计,对整颗芯片提供全方位的ESD保护,介绍了基于0.18μm CMOS工艺设计的大容量PROM芯片的ESD设计技术。同时,通过对高压编程引脚的ESD加固设计,提高了芯片的整体抗ESD能力。最终产品ESD测试满足项目要求。 展开更多
关键词 静电放电(ESD) 可编程只读存储器(prom) 全芯片
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反熔丝的研究与应用 被引量:20
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作者 王刚 李平 +3 位作者 李威 张国俊 谢小东 姜晶 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第11期30-33,共4页
综述了ONO(氧化物-氮化物-氧化物)反熔丝、非晶硅(a-Si)反熔丝和栅氧化层反熔丝的制作工艺、性能参数及其优缺点,介绍了反熔丝器件包括反熔丝可编程只读存储器(PROM)和反熔丝现场可编程门阵列(FPGA)在器件应用、存储容量、可用门数、工... 综述了ONO(氧化物-氮化物-氧化物)反熔丝、非晶硅(a-Si)反熔丝和栅氧化层反熔丝的制作工艺、性能参数及其优缺点,介绍了反熔丝器件包括反熔丝可编程只读存储器(PROM)和反熔丝现场可编程门阵列(FPGA)在器件应用、存储容量、可用门数、工作电压和抗辐射性能等方面的研究进展,指出了反熔丝以及反熔丝器件的4个主要发展趋势,即工艺兼容、高密度、有机/柔性和新材料。 展开更多
关键词 反熔丝 氧化物-氮化物-氧化物 非晶硅 栅氧化层 反熔丝prom 反熔丝FPGA
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用XCF32P实现FPGA的高速动态配置 被引量:6
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作者 李燕斌 李燕春 《电讯技术》 2006年第6期199-202,共4页
分析了X ilinx的VertexⅡPro系列FPGA的配置流程和时序要求,以及X ilinx的在系统可编程PROM芯片XCF32P的内部结构和功能特点,介绍了在同一硬件平台下用XCF32P对FPGA不同的软件版本实现动态加载的设计方法及应用。
关键词 软件无线电 FPGA 在系统可编程prom 动态配置
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WBQ_2—003型数控系统用户程序的固化及修改
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作者 张洪香 刘丽娟 谷金凤 《煤矿机械》 北大核心 2001年第3期49-50,共2页
通过对EPROM2 716芯片的固化 ,实现用户程序的输入与修改。
关键词 ROM prom EPRON RAM 固化 WBQ2-003型数控系统
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