针对非正态响应的稳健设计,首先在均值与散度的联合广义线性模型基础上构建了基于广义线性模型(generalized linear model,GLM)的双响应曲面模型。然后,鉴于所构建的双响应曲面模型为高度复杂的非线性函数,运用遗传算法与模式搜索的混...针对非正态响应的稳健设计,首先在均值与散度的联合广义线性模型基础上构建了基于广义线性模型(generalized linear model,GLM)的双响应曲面模型。然后,鉴于所构建的双响应曲面模型为高度复杂的非线性函数,运用遗传算法与模式搜索的混合算法对其进行参数优化,获得可控因子的最佳参数设计值。最后,运用所提出方法对某测试晶片电阻率的参数设计进行了分析。研究结果表明,该方法能有效地减少测试晶片电阻率的质量波动,提高了产品质量的稳健性。展开更多
针对非正态响应的部分因子试验,当筛选试验所涉及的因子数目较大时,提出了基于广义线性模型(generalized linear models,GLM)的贝叶斯变量与模型选择方法.首先,针对模型参数的不确定性,选择了经验贝叶斯先验.其次,在广义线性模型的线性...针对非正态响应的部分因子试验,当筛选试验所涉及的因子数目较大时,提出了基于广义线性模型(generalized linear models,GLM)的贝叶斯变量与模型选择方法.首先,针对模型参数的不确定性,选择了经验贝叶斯先验.其次,在广义线性模型的线性预测器中对每个变量设置了二元变量指示器,并建立起变量指示器与模型指示器之间的转换关系.然后,利用变量指示器与模型指示器的后验概率来识别显著性因子与选择最佳模型.最后,以实际的工业案例说明此方法能够有效地识别非正态响应部分因子试验的显著性因子.展开更多
文摘针对非正态响应的稳健设计,首先在均值与散度的联合广义线性模型基础上构建了基于广义线性模型(generalized linear model,GLM)的双响应曲面模型。然后,鉴于所构建的双响应曲面模型为高度复杂的非线性函数,运用遗传算法与模式搜索的混合算法对其进行参数优化,获得可控因子的最佳参数设计值。最后,运用所提出方法对某测试晶片电阻率的参数设计进行了分析。研究结果表明,该方法能有效地减少测试晶片电阻率的质量波动,提高了产品质量的稳健性。
文摘针对非正态响应的部分因子试验,当筛选试验所涉及的因子数目较大时,提出了基于广义线性模型(generalized linear models,GLM)的贝叶斯变量与模型选择方法.首先,针对模型参数的不确定性,选择了经验贝叶斯先验.其次,在广义线性模型的线性预测器中对每个变量设置了二元变量指示器,并建立起变量指示器与模型指示器之间的转换关系.然后,利用变量指示器与模型指示器的后验概率来识别显著性因子与选择最佳模型.最后,以实际的工业案例说明此方法能够有效地识别非正态响应部分因子试验的显著性因子.
