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可演化TMR容错表决电路的设计研究
被引量：
2
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作者
吴会丛
刘尚合
+1 位作者
赵强
原亮
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2006年第5期370-373,共4页
在高温、辐射等恶劣环境下微电子设备的可靠性要求越来越高,利用演化硬件(EHW)原理,将EHW技术与三模块冗余(TMR)容错技术相结合,在FPGA上实现可演化的TMR表决电路,使硬件本身具有自我重构和自修复能力,大大提高了系统的可靠性。
关键词
演化硬件
三模冗余
现场可编程门阵列
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职称材料
题名
可演化TMR容错表决电路的设计研究
被引量：
2
1
作者
吴会丛
刘尚合
赵强
原亮
机构
军械工程学院静电与电磁防护研究所
军械工程学院计算机教研室
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2006年第5期370-373,共4页
基金
国家自然科学基金资助项目(50237040
50077024)
文摘
在高温、辐射等恶劣环境下微电子设备的可靠性要求越来越高,利用演化硬件(EHW)原理,将EHW技术与三模块冗余(TMR)容错技术相结合,在FPGA上实现可演化的TMR表决电路,使硬件本身具有自我重构和自修复能力,大大提高了系统的可靠性。
关键词
演化硬件
三模冗余
现场可编程门阵列
Keywords
evolvable hardware （ehw）
,
triple modular redundancy （tmr）
FPGA
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
可演化TMR容错表决电路的设计研究
吴会丛
刘尚合
赵强
原亮
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2006
2
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