传统的相机检校直接线性变换(direct linear transform,DLT)算法中,利用最小二乘方法求解相机内方位元素以及畸变参数。在实际应用过程中,误差方程的系数矩阵是非奇异矩阵,但是检校场纵深程度不够大,使得系数矩阵条件数过大,其他因素的...传统的相机检校直接线性变换(direct linear transform,DLT)算法中,利用最小二乘方法求解相机内方位元素以及畸变参数。在实际应用过程中,误差方程的系数矩阵是非奇异矩阵,但是检校场纵深程度不够大,使得系数矩阵条件数过大,其他因素的微小搅动将会引起计算结果的很大变化,因此使得误差方程呈现出病态。针对该情况,文章提出了一种简易检校场建立方法,并引用病态整体最小二乘方法对相机检校DLT算法进行改进,以适用于该检校场解算相机的畸变参数,最后用算例验证其可行性。展开更多
针对摄像机位姿问题提出了一种加权线性方法,其关键思想是通过加权使经典线性方法的代数误差近似于重投影算法的几何误差,从而达到接近于最大似然估计(Levenberg-Marquardt简称ML)的精度.通过对经典DLT(direct linear transformation)...针对摄像机位姿问题提出了一种加权线性方法,其关键思想是通过加权使经典线性方法的代数误差近似于重投影算法的几何误差,从而达到接近于最大似然估计(Levenberg-Marquardt简称ML)的精度.通过对经典DLT(direct linear transformation)算法和EPnP算法使用加权的方法,给出了加权DLT算法(WDLT)和加权EPnP算法(WEPnP).大量模拟数据和真实图像实验结果均表明,WDLT和WEPnP算法不仅能提高DLT和EPnP算法的精度,而且在深度较小的情况下优于Lu的非线性算法.展开更多
非量测相机在无人机航测等领域应用中存在光学畸变大、无法记录内方位元素等缺陷,文章提出一种直接线性变换(direct linear transformation,DLT)和附加参数光束法协同检校算法,利用DLT求解出的内、外方位元素作为附加参数光束平差法的...非量测相机在无人机航测等领域应用中存在光学畸变大、无法记录内方位元素等缺陷,文章提出一种直接线性变换(direct linear transformation,DLT)和附加参数光束法协同检校算法,利用DLT求解出的内、外方位元素作为附加参数光束平差法的初始值,通过附加参数光束法完成整体平差,弥补DLT只能独立处理单个模型的不足,并满足光束法对初始值高精度的需求;同时考虑非量测相机比例尺不一致误差与坐标轴不正交误差,利用这2类误差参数进一步优化附加参数光束法的数据处理模型。文中以武汉大学室内三维控制场为例,对检校参数进行精度评定,验证该算法的可行性。实验结果表明,该算法可明显提高非量测相机检校精度,其检查点坐标精度在DLT的基础上提高19.17%,且引入的参数不影响其他参数的解算。展开更多
文摘传统的相机检校直接线性变换(direct linear transform,DLT)算法中,利用最小二乘方法求解相机内方位元素以及畸变参数。在实际应用过程中,误差方程的系数矩阵是非奇异矩阵,但是检校场纵深程度不够大,使得系数矩阵条件数过大,其他因素的微小搅动将会引起计算结果的很大变化,因此使得误差方程呈现出病态。针对该情况,文章提出了一种简易检校场建立方法,并引用病态整体最小二乘方法对相机检校DLT算法进行改进,以适用于该检校场解算相机的畸变参数,最后用算例验证其可行性。
文摘针对摄像机位姿问题提出了一种加权线性方法,其关键思想是通过加权使经典线性方法的代数误差近似于重投影算法的几何误差,从而达到接近于最大似然估计(Levenberg-Marquardt简称ML)的精度.通过对经典DLT(direct linear transformation)算法和EPnP算法使用加权的方法,给出了加权DLT算法(WDLT)和加权EPnP算法(WEPnP).大量模拟数据和真实图像实验结果均表明,WDLT和WEPnP算法不仅能提高DLT和EPnP算法的精度,而且在深度较小的情况下优于Lu的非线性算法.
文摘非量测相机在无人机航测等领域应用中存在光学畸变大、无法记录内方位元素等缺陷,文章提出一种直接线性变换(direct linear transformation,DLT)和附加参数光束法协同检校算法,利用DLT求解出的内、外方位元素作为附加参数光束平差法的初始值,通过附加参数光束法完成整体平差,弥补DLT只能独立处理单个模型的不足,并满足光束法对初始值高精度的需求;同时考虑非量测相机比例尺不一致误差与坐标轴不正交误差,利用这2类误差参数进一步优化附加参数光束法的数据处理模型。文中以武汉大学室内三维控制场为例,对检校参数进行精度评定,验证该算法的可行性。实验结果表明,该算法可明显提高非量测相机检校精度,其检查点坐标精度在DLT的基础上提高19.17%,且引入的参数不影响其他参数的解算。
