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聚甲基丙烯酸对STI CMP中SiO_(2)和Si_(3)N_(4)去除速率选择比的影响
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作者 李相辉 张祥龙 +3 位作者 孟妮 聂申奥 邱宇轩 何彦刚 《半导体技术》 北大核心 2024年第2期131-137,共7页
在浅沟槽隔离(STI)化学机械抛光(CMP)中,需要保证极低的Si_(3)N_(4)去除速率,以及相对较高的SiO_(2)去除速率,并且要达到SiO_(2)与Si_(3)N_(4)的去除速率选择比大于30的要求。在CeO_(2)磨料质量分数为0.25%,抛光液pH=4的前提下,研究了... 在浅沟槽隔离(STI)化学机械抛光(CMP)中,需要保证极低的Si_(3)N_(4)去除速率,以及相对较高的SiO_(2)去除速率,并且要达到SiO_(2)与Si_(3)N_(4)的去除速率选择比大于30的要求。在CeO_(2)磨料质量分数为0.25%,抛光液pH=4的前提下,研究了聚甲基丙烯酸(PMAA)对SiO_(2)与Si_(3)N_(4)去除速率以及二者去除速率选择比的影响,分析了PMAA在影响SiO_(2)与Si_(3)N_(4)去除速率过程中的作用机理。结果表明,PMAA的加入可以降低SiO_(2)与Si_(3)N_(4)的去除速率,当PMAA的质量分数为120×10^(-6)时,SiO_(2)和Si_(3)N_(4)的去除速率分别为185.4 nm/min和3.0 nm/min,去除速率选择比为61。抛光后SiO_(2)与Si_(3)N_(4)晶圆表面有较好的表面粗糙度,分别为0.290 nm和0.233 nm。 展开更多
关键词 浅沟槽隔离(STI) 化学机械抛光(CMP) 二氧化硅(SiO_(2)) 氮化硅(Si_(3)n_(4)) 聚甲基丙烯酸(PMAA) 去除速率选择比
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利用高长径比β-Si_(3)N_(4)晶须模压制备氮化硅多孔陶瓷及性能研究 被引量:1
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作者 史卓涛 智强 +3 位作者 白宇松 李凤 王波 杨建锋 《陶瓷学报》 CAS 北大核心 2022年第4期644-651,共8页
为改善多孔氮化硅的抗弯强度和耐高温性,通过常压烧结制备β-Si_(3)N_(4)晶须,将其压制成型后采用酚醛树脂浸渍碳化,再通过SiO蒸汽与残留碳反应实现碳热还原过程,制备α-Si_(3)N_(4)搭接的β-Si_(3)N_(4)晶须多孔陶瓷,并研究了β-Si_(3)... 为改善多孔氮化硅的抗弯强度和耐高温性,通过常压烧结制备β-Si_(3)N_(4)晶须,将其压制成型后采用酚醛树脂浸渍碳化,再通过SiO蒸汽与残留碳反应实现碳热还原过程,制备α-Si_(3)N_(4)搭接的β-Si_(3)N_(4)晶须多孔陶瓷,并研究了β-Si_(3)N_(4)的晶须尺寸、成型压力和浸渍次数对多孔陶瓷性能的影响。结果表明:添加烧结助剂Y_(2)O_(3)与采用松装方式有利于提高β-Si_(3)N_(4)晶须长径比,其平均长径比为13.8,最高可达25.7。成型时增加压力可以提高材料的致密度和晶须的定向程度,增加晶须搭接点的数量,降低气孔率,从而有利于改善材料的强度。增加浸渍次数提高碳热还原后α-Si_(3)N_(4)的含量,1~3次浸渗提高了氮化硅晶须的搭接程度,因而强度大幅度增加,超过三次浸渍后晶须之间实现了有效搭接。因此,材料强度由于气孔率的降低而小幅增加,120 MPa成型的样品五次浸渍后其气孔率和抗弯强度分别为41.0%和213.4 MPa。 展开更多
关键词 β-si_(3)n_(4)晶须 多孔氮化硅 有效搭接
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氰酸酯树脂/表面多步接枝改性γ-Si_(3)N_(4)复合材料制备及性能 被引量:1
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作者 胡明 祝保林 《工程塑料应用》 CAS CSCD 北大核心 2022年第1期21-27,共7页
通过硅烷偶联剂A-1120对立方氮化硅(γ-Si_(3)N_(4))粒子进行表面初步接枝,再以甲基丙烯酸甲酯(MMA)单体对经过初步接枝的γ-Si_(3)N_(4)粒子进行表面二次接枝,实现了对该粒子的表面多步接枝改性。将改性后粒子加入氰酸酯树脂(CE)中,制... 通过硅烷偶联剂A-1120对立方氮化硅(γ-Si_(3)N_(4))粒子进行表面初步接枝,再以甲基丙烯酸甲酯(MMA)单体对经过初步接枝的γ-Si_(3)N_(4)粒子进行表面二次接枝,实现了对该粒子的表面多步接枝改性。将改性后粒子加入氰酸酯树脂(CE)中,制备了CE/γ-Si_(3)N_(4)复合材料,考察了CE/γ-Si_(3)N_(4)复合体系的黏度变化,表征了复合材料的力学性能、热稳定性和介电性能。结果表明,经表面多步接枝后γ-Si_(3)N_(4)粒子的加入,使复合材料的综合性能得到了改善,一方面其力学性能、热稳定性、介电性能较纯CE固化物得以提高,另一方面,复合体系的黏度较低,更有利于复合材料固化工艺的优化。当经过两次表面接枝改性的γ-Si_(3)N_(4)(记作SN3)粒子用量达到CE单体质量5%时,复合材料的冲击强度由纯CE固化物的8.42 kJ/m^(2)提高到15.84 kJ/m^(2),提升了88.12%;当SN3粒子用量达到6%时,弯曲强度由82.56 MPa提高到156.53 MPa,提升了89.60%,复合材料热失重5%的温度由392.6℃上升到467.8℃,提高了19.2%,600℃质量保持率由51.5%上升至67.2%,提高了30.5%,介电常数增大23.8%,介电损耗正切值减小63.2%。 展开更多
关键词 立方氮化硅(γ-si_(3)n_(4)) 氰酸酯树脂 表面接枝改性 力学性能 热稳定性 介电性能
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直接氮化法制备高品质氮化硅陶瓷粉体
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作者 赵丽艳 刘耀耀 +4 位作者 杨静思 韩江则 李昆杰 赵瑞红 赵佳赛 《粉末冶金技术》 北大核心 2025年第1期61-70,共10页
以硅粉为原料,采用直接氮化法制备高品质氮化硅陶瓷粉体,研究了氮化温度、升温速率、硅粉粒径及稀释剂用量对氮化硅陶瓷粉体的影响。结果表明,原料硅粉不添加稀释剂,反应温度为1400℃时,在1100~1400℃温度区间将升温速率控制在5℃·... 以硅粉为原料,采用直接氮化法制备高品质氮化硅陶瓷粉体,研究了氮化温度、升温速率、硅粉粒径及稀释剂用量对氮化硅陶瓷粉体的影响。结果表明,原料硅粉不添加稀释剂,反应温度为1400℃时,在1100~1400℃温度区间将升温速率控制在5℃·min^(−1),硅粉完全氮化,制备得到粒径均匀的(396~458 nm)类球状氮化硅材料,材料分散性好,α相质量分数高达95.02%。研究表明,随着氮化温度的升高,硅粉直接氮化反应呈现出明显的阶段性。在相同反应时间下,最佳氮化温度为1400℃,反应温度过高或过低都会影响硅粉界面α-Si_(3)N_(4)向β-Si_(3)N_(4)转变与内部氮化反应的竞争关系,影响α-Si_(3)N_(4)含量。升温速率为控制反应进程的关键因素,最佳升温速率为5℃·min^(−1),当升温速率过快或者过慢时,氮化硅α相到β相的转化程度超过内部反应程度,硅粉反应不完全。适宜的球磨时间能够减小原料硅粉的粒度,增加比表面积,同时增加硅粉与氮气接触面积,有利于提高氮化率,增加α-Si_(3)N_(4)质量分数。添加α-Si_(3)N_(4)粉末稀释剂能降低硅粉中的氧含量和氮化温度,加速氮化过程,促进产物中α-Si_(3)N_(4)的形成,还能吸收硅和氮之间反应释放的额外热量,起到受热体的作用。 展开更多
关键词 氮化硅 直接氮化法 陶瓷粉体 升温速率 α-si_(3)n_(4)
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