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混合技术电路板簇测试的多边界扫描链优化配置被引量：2: 1; 作者刘冠军温熙森 +1 位作者曾芷德易晓山《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2000年第10期792-795,共4页; 由边界扫描器件和非边界扫描器件组装的混合技术电路板将在今后相当长时间内广泛存在 ,板中由非边界扫描器件组成的簇的测试是边界扫描测试领域重要而富有实际价值的问题 .为减少其测试时间 ,基于贪婪策略和单扫描链最优排序技术 ,提出... 展开更多; 关键词边界扫描簇测试混合技术电路板 VLSI; 在线阅读下载PDF 职称材料

混合技术PCB可测试性设计优化方法被引量：1: 2; 作者胡政温熙森刘冠军《电子测量技术》 1999年第1期4-7,共4页; 文中对既包含JTAG芯片又包含非JTAG芯片的混合技术电路板的设计问题进行了深入的研究,构造了两种优化设计算法。应用这两种算法设计的电路,不仅可以满足应用JTAG机制对所有芯片进行测试的要求——可测试必要条件,而且具备最低的整体费... 展开更多; 关键词可测试性设计混合技术系统优化 PCB 电子电路; 在线阅读下载PDF 职称材料

新颖综合可测试性设计优化算法被引量：1: 3; 作者胡政温熙森刘冠军《电子测量技术》 2000年第3期7-9,共3页; 可测试性设计是提高产品质量、可靠性、维修性的重要手段。文中对混合技术电路板的可测试性设计问题进行了深入的研究,应用图论模型对综合应用多种可测试性机制进行优化设计的问题进行描述,并应用“贪婪”算法策略构造了一种可行的求解... 展开更多; 关键词可测试性设计边界扫描混合技术电路板; 在线阅读下载PDF 职称材料