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基于JTAG标准的边界扫描在通用CPU中的设计 被引量:3
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作者 鲁巍 杨修涛 李晓维 《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心 2004年第19期30-31,87,共3页
剖析了JTAG标准的精髓,分析了其组成﹑功能与时序控制等关键技术,结合一款通用CPU的具体要求,给出了一种实现JTAG结构的具体方法,并介绍了其功能测试的方法。
关键词 边界扫描 可测性设计 ieeeI 149.1 标准(JTAG)
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边界扫描结构的设计及仿真 被引量:3
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作者 罗涛 林明 邱卫东 《科学技术与工程》 2011年第2期261-265,共5页
在集成电路高速发展的今天,许多传统形式的测试技术受到越来越多的挑战。就测试技术本身而言,其作用和地位不再是集成电路生产的末端环节,而是作为一种前端环节对整个系统的设计都有着至关重要的作用,这就要求工程师在电路板设计之初就... 在集成电路高速发展的今天,许多传统形式的测试技术受到越来越多的挑战。就测试技术本身而言,其作用和地位不再是集成电路生产的末端环节,而是作为一种前端环节对整个系统的设计都有着至关重要的作用,这就要求工程师在电路板设计之初就必须考虑后期的测试问题,即可测试性设计。边界扫描作为一种结构化的DFT技术,它的出现为集成电路板板级测试提供了一个更加先进和便捷的策略。剖析了支持边界扫描标准的芯片结构,并通过VHDL语言对其进行建模,完成边界扫描结构的软核设计及仿真。 展开更多
关键词 边界扫描 仿真 ieee std1149.1 vhdl dft
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