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反熔丝FPGA延时电路γ瞬时辐射效应
被引量：
9
1
作者
杜川华
詹峻岭
徐曦
《强激光与粒子束》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006年第2期321-324,共4页
简要叙述了反熔丝FPGA的基本结构,介绍了一种FPGA延时电路的工作原理以及利用该电路在“强光一号”脉冲加速器上进行γ瞬时辐照试验的方法,给出了试验测量结果。分析表明:高剂量率γ瞬时电离辐射会破坏FPGA延时电路一个信号周期的工作状...
简要叙述了反熔丝FPGA的基本结构,介绍了一种FPGA延时电路的工作原理以及利用该电路在“强光一号”脉冲加速器上进行γ瞬时辐照试验的方法,给出了试验测量结果。分析表明:高剂量率γ瞬时电离辐射会破坏FPGA延时电路一个信号周期的工作状态,因此存在功能失效的可能性。但就整体而论,反熔丝FPGA抗瞬时辐射的性能要优于其它许多大规模CMOS集成电路。
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关键词
反熔丝
fpga
延时电路
辐射效应
Γ剂量率
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职称材料
反熔丝FPGA电路瞬时电离辐射效应及加固设计
被引量：
2
2
作者
杜川华
詹峻岭
+1 位作者
许献国
袁国火
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2012年第11期1247-1250,共4页
针对反熔丝FPGA电路,在"强光一号"加速器上进行了瞬时电离辐射试验,发现γ射线瞬时电离辐射会导致FPGA内部寄存器清零,使FPGA运行状态被初始化。为了解决该问题,设计了一种"FPGA+FRAM(铁电存储器)+特殊时序读写软件"...
针对反熔丝FPGA电路,在"强光一号"加速器上进行了瞬时电离辐射试验,发现γ射线瞬时电离辐射会导致FPGA内部寄存器清零,使FPGA运行状态被初始化。为了解决该问题,设计了一种"FPGA+FRAM(铁电存储器)+特殊时序读写软件"的加固电路,通过γ射线瞬时电离辐射试验证明:该加固电路实现了瞬时电离辐射状态下FPGA内部重要数据的实时保存与恢复,成功规避了FPGA电路的瞬时电离辐射效应。
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关键词
反熔丝现场可编程门阵列
Γ射线
瞬时电离辐射效应
铁电存储器
信息保存与恢复
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职称材料
反熔丝型FPGA单粒子效应及加固技术研究
被引量：
6
3
作者
张然
丁玮
+2 位作者
于海龙
王锦涛
许涛
《电子设计工程》
2013年第21期184-189,共6页
在当今复杂电磁环境和强干扰的条件下,航空和航天装备的信号处理器件的逻辑可能产生意外翻转而产生功能失效,甚至导致系统工作状态异常,因此器件的可靠性至关重要。反熔丝型FPGA(现场可编程门阵列)因其低功耗、高可靠性、高保密性等特点...
在当今复杂电磁环境和强干扰的条件下,航空和航天装备的信号处理器件的逻辑可能产生意外翻转而产生功能失效,甚至导致系统工作状态异常,因此器件的可靠性至关重要。反熔丝型FPGA(现场可编程门阵列)因其低功耗、高可靠性、高保密性等特点,广泛应用于航空航天的电子系统中。文章在介绍反熔丝型FPGA的基本结构的基础上,对反熔丝型FPGA单粒子效应(SEE)进行了详细分析,提出了相应的SEE加固设计措施及实现方法。通过重离子地面加速试验对加固设计方法进行验证,试验结果及分析表明,加固设计方法可以有效提高商用现货(COTS)反熔丝型FPGA的可靠性,可以为同类型的电子系统设计提供有价值的参考。
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关键词
可靠性
反熔丝型
fpga
单粒子效应
加固技术
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职称材料
题名
反熔丝FPGA延时电路γ瞬时辐射效应
被引量：
9
1
作者
杜川华
詹峻岭
徐曦
机构
中国工程物理研究院电子工程研究所
出处
《强激光与粒子束》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006年第2期321-324,共4页
基金
国防科技基础研究基金资助课题
文摘
简要叙述了反熔丝FPGA的基本结构,介绍了一种FPGA延时电路的工作原理以及利用该电路在“强光一号”脉冲加速器上进行γ瞬时辐照试验的方法,给出了试验测量结果。分析表明:高剂量率γ瞬时电离辐射会破坏FPGA延时电路一个信号周期的工作状态,因此存在功能失效的可能性。但就整体而论,反熔丝FPGA抗瞬时辐射的性能要优于其它许多大规模CMOS集成电路。
关键词
反熔丝
fpga
延时电路
辐射效应
Γ剂量率
Keywords
antifuse
-
based
fpga
Delay cireuits
Radiation effeet
γ dose rate
分类号
TL843 [核科学技术—核技术及应用]
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职称材料
题名
反熔丝FPGA电路瞬时电离辐射效应及加固设计
被引量：
2
2
作者
杜川华
詹峻岭
许献国
袁国火
机构
中国工程物理研究院电子工程研究所
出处
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2012年第11期1247-1250,共4页
文摘
针对反熔丝FPGA电路,在"强光一号"加速器上进行了瞬时电离辐射试验,发现γ射线瞬时电离辐射会导致FPGA内部寄存器清零,使FPGA运行状态被初始化。为了解决该问题,设计了一种"FPGA+FRAM(铁电存储器)+特殊时序读写软件"的加固电路,通过γ射线瞬时电离辐射试验证明:该加固电路实现了瞬时电离辐射状态下FPGA内部重要数据的实时保存与恢复,成功规避了FPGA电路的瞬时电离辐射效应。
关键词
反熔丝现场可编程门阵列
Γ射线
瞬时电离辐射效应
铁电存储器
信息保存与恢复
Keywords
antifuse - based fpga
γ
-
ray
transient ionizing radiation effects
FRAM
information saving and resume
分类号
TN47 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
反熔丝型FPGA单粒子效应及加固技术研究
被引量：
6
3
作者
张然
丁玮
于海龙
王锦涛
许涛
机构
中国人民解放军总参谋部陆航部军事代表局
中国国防科技信息中心
中国人民解放军
出处
《电子设计工程》
2013年第21期184-189,共6页
文摘
在当今复杂电磁环境和强干扰的条件下,航空和航天装备的信号处理器件的逻辑可能产生意外翻转而产生功能失效,甚至导致系统工作状态异常,因此器件的可靠性至关重要。反熔丝型FPGA(现场可编程门阵列)因其低功耗、高可靠性、高保密性等特点,广泛应用于航空航天的电子系统中。文章在介绍反熔丝型FPGA的基本结构的基础上,对反熔丝型FPGA单粒子效应(SEE)进行了详细分析,提出了相应的SEE加固设计措施及实现方法。通过重离子地面加速试验对加固设计方法进行验证,试验结果及分析表明,加固设计方法可以有效提高商用现货(COTS)反熔丝型FPGA的可靠性,可以为同类型的电子系统设计提供有价值的参考。
关键词
可靠性
反熔丝型
fpga
单粒子效应
加固技术
Keywords
space electronic system
antifuse
-
based
fpga
SEE
hardening technology
分类号
TN492 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
反熔丝FPGA延时电路γ瞬时辐射效应
杜川华
詹峻岭
徐曦
《强激光与粒子束》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006
9
在线阅读
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职称材料
2
反熔丝FPGA电路瞬时电离辐射效应及加固设计
杜川华
詹峻岭
许献国
袁国火
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2012
2
在线阅读
下载PDF
职称材料
3
反熔丝型FPGA单粒子效应及加固技术研究
张然
丁玮
于海龙
王锦涛
许涛
《电子设计工程》
2013
6
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职称材料
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