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基于测前迭代仿真的模拟电路故障诊断方法 被引量:7
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作者 胡梅 王红 杨士元 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2010年第6期914-920,共7页
针对非线性模拟电路中元件表现出的折线故障特征,提出一种基于测前迭代仿真的模拟电路统一故障诊断方法.在测前将线性元件参数分段划分区间,在各区间进行仿真得到节点电压平面上的点计算斜率特征,对于斜率变化的区间重新进行参数扫描,... 针对非线性模拟电路中元件表现出的折线故障特征,提出一种基于测前迭代仿真的模拟电路统一故障诊断方法.在测前将线性元件参数分段划分区间,在各区间进行仿真得到节点电压平面上的点计算斜率特征,对于斜率变化的区间重新进行参数扫描,并通过迭代仿真得到连续平滑的折线轨迹上的点作为测后诊断依据;在测后诊断中,通过计算实测点到各条折线轨迹的点集合的最小距离来定位电路故障,并根据测前仿真的分段信息对故障元件的参数区间进行识别.文中利用计算机程序实现了测前迭代仿真和测后故障定位及参数区间识别,能够同时诊断容差电路元件的硬故障(开路、短路)和软故障(元件参数变化至容差允许范围之外).最后通过实例的仿真实验和实际电路实验验证了该方法的有效性. 展开更多
关键词 模拟电路 故障诊断 折线故障特征 参数扫描 测前迭代仿真 容差 故障定位 参数区间识别
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模拟量分段线性化校正电路设计 被引量:3
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作者 国培光 《西北农业大学学报》 CSCD 1995年第3期55-62,共8页
根据分段线性提升法对非线性过程参数线性化处理的方法,采用集成运放组件进行了含非线性过程参数校正电路的设计。
关键词 模拟量 分段线性化 校正电路
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Nano-scale Bias-scalable CMOS Analog Computational Circuits Using Margin Propagation
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作者 GU Ming 《机床与液压》 北大核心 2012年第19期1-8,共8页
Approximation techniques are useful for implementing pattern recognizers, communication decoders and sensory processing algorithms where computational precision is not critical to achieve the desired system level perf... Approximation techniques are useful for implementing pattern recognizers, communication decoders and sensory processing algorithms where computational precision is not critical to achieve the desired system level performance. In our previous work, we had proposed margin propagation (MP) as an efficient piece-wise linear (PWL) approximation technique to a log-sum-exp function and had demonstrated its advantages for implementing probabilistic decoders. In this paper, we present a systematic and a generalized approach for synthesizing analog piecewise-linear (PWL) computing circuits using the MP principle. MP circuits use only addition, subtraction and threshold operations and hence can be implemented using universal conservation principles like the Kirchoff's current law. Thus, unlike the conventional translinear CMOS current-mode circuits, the operation of the MP circuits are functionally similar in weak, moderate and strong inversion regimes of the MOS transistor making the design approach bias-scalable. This paper presents measured results from MP circuits prototyped in a 0.5μm standard CMOS process verifying the bias-scalable property. As an example, we apply the synthesis approach towards designing linear classifiers and verify its performance using measured results. 展开更多
关键词 机床行业 液压系统 产品介绍 创新
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