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n^(+)/n^(-)型硅衬底扩散片X_(jn+)理论分析与测试方法优化
1
作者
张现磊
李立谦
+1 位作者
周涛
张志林
《半导体技术》
CAS
北大核心
2025年第1期39-45,共7页
n型衬底扩散片扩散深度(X_(jn+))是n^(+)/n^(-)型硅衬底扩散片最重要的参数之一,X_(jn+)的理论计算对磷扩散生产和X_(jn+)测试具有重要的指导意义。但现有扩散理论计算结果与实验数据差异较大,需更精准的计算方法。通过实验对X_(jn+)的...
n型衬底扩散片扩散深度(X_(jn+))是n^(+)/n^(-)型硅衬底扩散片最重要的参数之一,X_(jn+)的理论计算对磷扩散生产和X_(jn+)测试具有重要的指导意义。但现有扩散理论计算结果与实验数据差异较大,需更精准的计算方法。通过实验对X_(jn+)的测试与理论计算结果进行对比分析,引入了修正系数k_(n)与k_(p),得到理论计算与测试结果吻合的X_(jn+)计算方法。并根据修正后的计算方法对染色法测试X_(jn+)进行了优化。新的X_(jn+)计算方法得到的结果与测试结果差异小于2%,可用于指导生产,且优化后的X_(jn+)测试方法更加便捷。
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关键词
衬底扩散片
扩散系数修正
协同扩散
n型衬底扩散片扩散深度(
x
_(
jn
+))计算
x
_(
jn
+)
测试方法
优化
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职称材料
题名
n^(+)/n^(-)型硅衬底扩散片X_(jn+)理论分析与测试方法优化
1
作者
张现磊
李立谦
周涛
张志林
机构
洛阳鸿泰半导体有限公司
出处
《半导体技术》
CAS
北大核心
2025年第1期39-45,共7页
基金
三维半导体材料及应用项目(2201020A)。
文摘
n型衬底扩散片扩散深度(X_(jn+))是n^(+)/n^(-)型硅衬底扩散片最重要的参数之一,X_(jn+)的理论计算对磷扩散生产和X_(jn+)测试具有重要的指导意义。但现有扩散理论计算结果与实验数据差异较大,需更精准的计算方法。通过实验对X_(jn+)的测试与理论计算结果进行对比分析,引入了修正系数k_(n)与k_(p),得到理论计算与测试结果吻合的X_(jn+)计算方法。并根据修正后的计算方法对染色法测试X_(jn+)进行了优化。新的X_(jn+)计算方法得到的结果与测试结果差异小于2%,可用于指导生产,且优化后的X_(jn+)测试方法更加便捷。
关键词
衬底扩散片
扩散系数修正
协同扩散
n型衬底扩散片扩散深度(
x
_(
jn
+))计算
x
_(
jn
+)
测试方法
优化
Keywords
substrate diffusion wafer
diffusion coefficient correction
collaborative diffusion
diffusion depth of the n-type substrate diffusion wafer(
x
_(
jn
+))calculation
x
_(
jn
+)testing method optimization
分类号
TN304.12 [电子电信—物理电子学]
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作者
出处
发文年
被引量
操作
1
n^(+)/n^(-)型硅衬底扩散片X_(jn+)理论分析与测试方法优化
张现磊
李立谦
周涛
张志林
《半导体技术》
CAS
北大核心
2025
0
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