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氢氧化镍正极材料的X射线衍射峰强比与其电化学性能关系研究 被引量:1
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作者 杨慧 蒋文全 +3 位作者 傅钟臻 于丽敏 郭荣贵 李涛 《分析科学学报》 CAS CSCD 北大核心 2011年第5期573-576,共4页
利用"管道式合成"方法合成了5种成分相同、结构不同的Ni(OH)2样品。采用X射线衍射(XRD)、场发射扫描电镜表征材料的微观结构及参数。测试了材料的电化学性能,考察了I101/I001比值与Ni(OH)2材料电化学性能的关系。研究结果表明... 利用"管道式合成"方法合成了5种成分相同、结构不同的Ni(OH)2样品。采用X射线衍射(XRD)、场发射扫描电镜表征材料的微观结构及参数。测试了材料的电化学性能,考察了I101/I001比值与Ni(OH)2材料电化学性能的关系。研究结果表明,随I101/I001比值的增大,样品的电化学性能呈下降的趋势。说明XRD峰强比可以作为快速表征相同制备方法及成分的Ni(OH)2材料性能的方法,简化了现有测试手段。 展开更多
关键词 氢氧化镍 x射线衍射峰强比 性能表征
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