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X光电子能谱法研究色素炭黑的表面化学性质 被引量:3
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作者 王道宏 王日杰 +1 位作者 张继炎 何菲 《天津大学学报(自然科学与工程技术版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第7期634-638,共5页
色素炭黑是炭黑工业中的高性能、高附加值品种,深入认识色素炭黑的表面物理化学性质对于开发利用新品种色素炭黑很重要.通过X光电子能谱法测试表征了用不同方法生产的多种典型色素炭黑的表面元素组成与化学性质,阐明了导致接触法炭黑和... 色素炭黑是炭黑工业中的高性能、高附加值品种,深入认识色素炭黑的表面物理化学性质对于开发利用新品种色素炭黑很重要.通过X光电子能谱法测试表征了用不同方法生产的多种典型色素炭黑的表面元素组成与化学性质,阐明了导致接触法炭黑和炉法炭黑表面性质上差异的主要原因,以及炉法炭黑在臭氧化处理过程中表面化学结构发生的主要变化.研究结果指出,接触法炭黑与氧化炉法炭黑的表面在碳 氧键合结构形式及含量上有很大的差异;炉法炭黑的pH值高于接触法炭黑的主要原因是炉法炭黑表面碳 氧双键结构含量较低;炉法炭黑表面臭氧化过程中主要生成的是表面碳 氧单键结构,进一步氧化为双键的程度很低.此外,实验分析了接触法炭黑表面氮元素的组成,结果表明主要是以氨基和硝基的形式存在. 展开更多
关键词 包素炭黑 x光电子能谱 表面酸性含氧基团
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MOCVD生长AlGaN薄膜的X光电子能谱 被引量:3
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作者 苑进社 陈光德 +1 位作者 林景瑜 汪红星 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第8期925-927,共3页
用X光电子能谱和X射线衍射谱方法分析了MOCVD生长的AlGaN薄膜的实际表面形态和晶体结构 基于XPS测量结果 ,通过分析计算 ,发现实际表面除GaN外存在Ga2 O3和Al2 O3及其它与O有关的络合物构成的混合氧化物覆盖层 ,估计覆盖层厚度约 1.2nm... 用X光电子能谱和X射线衍射谱方法分析了MOCVD生长的AlGaN薄膜的实际表面形态和晶体结构 基于XPS测量结果 ,通过分析计算 ,发现实际表面除GaN外存在Ga2 O3和Al2 O3及其它与O有关的络合物构成的混合氧化物覆盖层 ,估计覆盖层厚度约 1.2nm XRD结果显示生长的AlGaN薄膜为以GaN(0 0 0 2 )取向为主的多晶结构 。 展开更多
关键词 MOCVD A1GaN薄膜 x光电子能谱 x射线衍射
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X光电子能谱研究氧离子束辅助PLD共淀积ZnO薄膜 被引量:3
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作者 吴正龙 李庚伟 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第2期373-376,372,共5页
在ZnO的XPS分析中,ZnLMM俄歇峰能很好地指认氧化锌淀积膜中Zn的价态,结合O1s光电子峰的分析,可表征ZnO中缺氧程度。通过XPS的对比实验,表明采用氧(O)离子辅助PLD共淀积ZnO薄膜,能明显改善淀积ZnO膜的缺氧问题,降低薄膜层中的孔隙率,提... 在ZnO的XPS分析中,ZnLMM俄歇峰能很好地指认氧化锌淀积膜中Zn的价态,结合O1s光电子峰的分析,可表征ZnO中缺氧程度。通过XPS的对比实验,表明采用氧(O)离子辅助PLD共淀积ZnO薄膜,能明显改善淀积ZnO膜的缺氧问题,降低薄膜层中的孔隙率,提高淀积ZnO薄膜质量。XPS深度剖析结果还表明采用O离子辅助PLD共淀积后膜层中Zn的氧化组分和孔隙率随深度变化平缓。 展开更多
关键词 x光电子能谱 俄歇电子能 氧化锌 氧离子束辅助PLD共淀积
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纺织纤维表面的X光电子能谱研究 被引量:1
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作者 袁骏 《材料科学与工程》 CSCD 北大核心 2001年第1期73-75,共3页
由于纤维聚集体不同于紧密结构材料 ,在用XPS测定分析纤维表面结构时 ,电子被电离射出的量要小得多 ,测定的灵敏度较低。通常纤维的聚集结构越紧密 ,对测定分析结果越有利 ,机织物是较好的测试材料形式。在对纤维表面元素含量测定时 ,... 由于纤维聚集体不同于紧密结构材料 ,在用XPS测定分析纤维表面结构时 ,电子被电离射出的量要小得多 ,测定的灵敏度较低。通常纤维的聚集结构越紧密 ,对测定分析结果越有利 ,机织物是较好的测试材料形式。在对纤维表面元素含量测定时 ,低含量成分有变小的趋势 ,而高含量成分有变大的趋势。在测定分析纤维表面元素含量时 ,这种影响趋势对测定低含量成分可能会有较大的影响。 展开更多
关键词 表面结构 纺织纤维 表面分析 x光电子能谱
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月岩(70017—291)的X光电子能谱(XPS)初步研究 被引量:1
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作者 陈德玉 张永福 +1 位作者 江绍猷 吕国栋 《地球化学》 CAS 1980年第4期428-432,共5页
Using X-ray photoemission spectroscopy (XPS), the Preliminary results on the lunar basalt sample (70017-291)are shown in the paper. Major elements (O, Si,Al, Fe, Ca, Mg, Ti, etc.) of the lunar sample are similar to th... Using X-ray photoemission spectroscopy (XPS), the Preliminary results on the lunar basalt sample (70017-291)are shown in the paper. Major elements (O, Si,Al, Fe, Ca, Mg, Ti, etc.) of the lunar sample are similar to that of the Jilin meteorite and the Allende meteorite. The valence of iron in the sample has also been studied in detail. The authors suggest that Fe^++ may be differentiated from Fe^+++ in the XPS spectra in terms of the satellite lines of Fe(2p3/2). 展开更多
关键词 月球探测 岩石 中子活化分析 微量元素 x光电子能谱
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基于X光电子能谱的芸豆表面成分分析
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作者 宣艳 潘明珠 +5 位作者 李卫正 唐颖 孙海军 林峰 闵辉华 杨静 《中国粮油学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2015年第12期38-42,48,共6页
X光电子能谱是一种以X射线为激发源,测定材料的成分及其化学态的电子能谱技术。本试验以4种常见芸豆为研究对象,利用光电子能谱仪测定芸豆子叶和种皮,并对其谱图进行了分析和比较。结果表明,芸豆的子叶主要是由C、O、N元素组成。黑芸豆... X光电子能谱是一种以X射线为激发源,测定材料的成分及其化学态的电子能谱技术。本试验以4种常见芸豆为研究对象,利用光电子能谱仪测定芸豆子叶和种皮,并对其谱图进行了分析和比较。结果表明,芸豆的子叶主要是由C、O、N元素组成。黑芸豆子叶中氧碳物质的量比(nO/nC)最高,为0.26。芸豆的种皮除了有C、O、N还有Si、Ca、Zn元素,Si、Ca和Zn的含量超过子叶中的含量,花芸豆种皮氧碳物质的量比最高,为0.22。红芸豆、白芸豆和花芸豆的子叶和种皮中的碳有C—C(或C—H)、C—O(或C—N)和CO这3种存在形态,氧对应有C—O和CO 2种存在形态。黑芸豆子叶中碳的形态中还出现了OCO或者NCON结合形成的峰,氧对应有3种存在形态。芸豆种皮的碳有3种形态,氧有2种形态。 展开更多
关键词 x射线光电子能谱 芸豆 表面分析 高分辨
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催化剂研究中的X射线光电子能谱(XPS)分析方法概述
7
作者 赵志娟 徐鹏 +2 位作者 章小余 屈宝龙 刘芬 《中国无机分析化学》 北大核心 2025年第1期44-55,共12页
催化剂在现代化工领域扮演着至关重要的角色,在提高生产效率、降低能源消耗以及减少环境污染等方面起着不可替代的作用。随着科学认知的不断提升,催化剂的研究已经从宏观的动力学性能评估,深入到微观的分子层面和电子结构分析。作为材... 催化剂在现代化工领域扮演着至关重要的角色,在提高生产效率、降低能源消耗以及减少环境污染等方面起着不可替代的作用。随着科学认知的不断提升,催化剂的研究已经从宏观的动力学性能评估,深入到微观的分子层面和电子结构分析。作为材料表界面研究领域中最有效的一种分析方法,在过去几十年里X射线光电子能谱(XPS)技术以其坚实的物理学基础和表面灵敏性已经成为研究催化材料的标准分析工具,且随着XPS仪器的日益普及,其应用也在不断增长。然而催化剂材料中的活性组分多趋于低含量、小尺度且成分复杂不稳定,对XPS高质量测试提出了巨大挑战。对催化剂研究中的常规XPS分析方法进行系统性的综述,对样品制备、实验设计、数据处理与谱图解析等流程中存在的问题和可能的处理方法进行了讨论,并对XPS技术在催化领域的应用前景进行了展望,以期为其他材料研究提供参考和启示。 展开更多
关键词 催化剂 x射线光电子能谱(xPS) 多相催化 纳米颗粒
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基于常规X射线光电子能谱(XPS)和X射线衍射(XRD)技术的透明柔性导电膜薄膜厚度表征
8
作者 张少鸿 莫家媚 苏秋成 《中国无机分析化学》 北大核心 2025年第1期118-125,共8页
X射线光电子能谱仪(XPS)和X射线衍射仪(XRD)已越来越成为实验室的常规必备设备。XPS是一种表面分析技术,典型的分析深度约为10 nm,主要用于表征材料表面元素及其化学状态,并可利用刻蚀离子枪对材料元素及其化学态纵深分布进行研究。XRD... X射线光电子能谱仪(XPS)和X射线衍射仪(XRD)已越来越成为实验室的常规必备设备。XPS是一种表面分析技术,典型的分析深度约为10 nm,主要用于表征材料表面元素及其化学状态,并可利用刻蚀离子枪对材料元素及其化学态纵深分布进行研究。XRD主要利用晶体对X射线的衍射测定材料的晶体结构;同时可利用材料表面、界面对X射线的反射,研究材料的物性,包括密度、厚度、粗糙度等。利用实验室常规的XPS和XRD联合表征多层薄膜厚度;结合两者各自的优势,通过简单、便捷的方法实现多层薄膜的结构表征。通过XRD测试多层薄膜的反射干涉条纹,运用快速傅里叶变换(FFT)方法得到其厚度信息;通过XPS深度剖析得到膜层组分及其纵向分布的信息,从而完整表征了多层薄膜的结构。所表征的样品为组成和结构未知的透明柔性导电膜。结合XPS和XRD分析得到结果:薄膜为三层复合膜结构,首层由SnO_(2)、In_(2)O_(3)、TiO_(2)和ZnO组成,厚度为42.6 nm;中间为19.2 nm Ag纳米线;靠近基底层由ZnO、In_(2)O_(3)和TiO_(2)组成,厚度为59.0 nm。建立的方法完全避免了建模的繁杂过程和不确定性,方便、快速地得到薄膜结构组成,包括:每层薄膜厚度、组成成分、层间堆叠顺序等。方法在薄膜研究、生产过程质量控制等方面应用都有十分重要意义。 展开更多
关键词 x射线光电子能谱(xPS) x射线衍射(xRD) 薄膜厚度 深度剖析 x射线反射率(xRR) 快速傅里叶变换(FFT)
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基于X射线光电子能谱的NCM正极材料中过渡金属化学态判断和定量分析:挑战及解决方法
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作者 段铭秋 陈思 +6 位作者 赖浩 王素娟 黄文玉 杨慕紫 龚力 陈建 谢方艳 《中国无机分析化学》 北大核心 2025年第1期86-100,共15页
X射线光电子能谱(XPS)在锂离子电池镍钴锰酸锂(LiNi_(x)Co_(y)Mn_(1-x-y)O_(2),NCM)正极材料的分析中有着重要应用,然而NCM中Ni、Co、Mn过渡金属主峰与俄歇峰相互重叠使这三种元素的化学态识别和定量分析变得困难。以LiNi_(0.8)Co_(0.1)... X射线光电子能谱(XPS)在锂离子电池镍钴锰酸锂(LiNi_(x)Co_(y)Mn_(1-x-y)O_(2),NCM)正极材料的分析中有着重要应用,然而NCM中Ni、Co、Mn过渡金属主峰与俄歇峰相互重叠使这三种元素的化学态识别和定量分析变得困难。以LiNi_(0.8)Co_(0.1)Mn_(0.1)O_(2)(NCM811)为例,分析了XPS谱图中过渡金属主峰与俄歇峰的干扰问题,并提出一个基于非线性最小二乘拟合的算法对相互重叠时的过渡金属2p峰进行分峰拟合。通过比较不同化学态的Ni/Co/Mn参考样品,选取Ni(OH)_(2)、NiOOH、LiCoO_(2)、MnO_(2)作为拟合参考谱图。与常规的高斯/洛伦兹拟合方法相比,建立的非线性最小二乘拟合方法无需手动调整拟合参数,使得XPS谱图拟合过程不依赖于操作者,可重复性得到提高,并验证了这种拟合方法在NCM811正极材料XPS谱图分析中的有效应用,将过渡金属的主峰和其他元素的俄歇峰进行分离,为Ni、Co、Mn过渡金属主峰与俄歇峰相互重叠的化学态识别和定量分析难题提供了可参考的解决方案。 展开更多
关键词 锂离子电池 镍钴锰酸锂 x射线光电子能谱 非线性最小二乘拟合
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基于原位光辐照X射线光电子能谱(ISI-XPS)技术的光催化材料石墨相氮化碳(g-C_(3)N_(4))研究
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作者 徐鹏 赵志娟 +1 位作者 章小余 郭延军 《中国无机分析化学》 北大核心 2025年第1期101-108,共8页
原位光辐照X射线光电子能谱(ISI-XPS)技术用于非氧化物光催化材料g-C_(3)N_(4)分析时,由于光辐照对结合能位移影响很小而常被忽略其光照过程中的结构变化。采用自行搭建的原位光辐照XPS装置进行测试发现,相比于波长405 nm的辐照光源,波... 原位光辐照X射线光电子能谱(ISI-XPS)技术用于非氧化物光催化材料g-C_(3)N_(4)分析时,由于光辐照对结合能位移影响很小而常被忽略其光照过程中的结构变化。采用自行搭建的原位光辐照XPS装置进行测试发现,相比于波长405 nm的辐照光源,波长375 nm的光源(辐照光源功率大于15 mW)辐照g-C_(3)N_(4)材料15 min,g-C_(3)N_(4)共轭结构中C和N的XPS信号相对强度均出现明显变化,这归因于光辐照诱导电子转移而导致其化学结构发生改变,为光催化机理研究提供了补充证据。同时经过实验验证,紫外光辐照后,g-C_(3)N_(4)材料表面由于能量注入引起温度升高,表面吸附的污染碳出现一定程度的减少。 展开更多
关键词 石墨相氮化碳(g-C_(3)N_(4)) 原位光辐照 x射线光电子能谱 光催化
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基于X射线光电子能谱(XPS)的铁基合金氧化行为研究
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作者 李亚丽 隆聪 +3 位作者 赵勇 杨妮 宋廷鲁 苏岳锋 《中国无机分析化学》 北大核心 2025年第1期126-135,共10页
铁(Fe)作为目前应用最为广泛的金属材料之一,被应用在各种不同的服役环境中。在有氧条件下,铁基材料易发生不同程度与形式的氧化,会在表面形成一定厚度的氧化层。研究表明添加元素形成合金后能有效提高铁基材料的抗氧化性,而对于铁基合... 铁(Fe)作为目前应用最为广泛的金属材料之一,被应用在各种不同的服役环境中。在有氧条件下,铁基材料易发生不同程度与形式的氧化,会在表面形成一定厚度的氧化层。研究表明添加元素形成合金后能有效提高铁基材料的抗氧化性,而对于铁基合金氧化初期的氧化行为缺乏足够的研究。基于扫描电子显微镜(SEM),X射线能谱(EDS)与X射线光电子能谱(XPS)分析技术,对添加了Si、Cr、Mn等元素的铁基材料在常温及高温环境下表面形成的氧化物进行形貌、元素及价态分析。结果表明,铁基合金在常温和高温含氧环境下会发生不同的氧化行为。常温环境下Fe进行自然氧化形成纳米尺度厚度的Fe_(2)O_(3)薄膜;高温下元素会按照Si>Mn>Cr>Fe的优先级进行氧化,并在表面形成Si-Mn-Cr-Fe-O复合薄膜,阻碍Fe的向外扩散,提高抗氧化性能;提高Cr的含量能够有效提高铁基合金的抗氧化性能。XPS技术有效地解决了X射线衍射(XRD)探测深度过大无法准确表征铁基合金表面氧化物薄膜物相的不足,能够分析出纳米级薄膜的化学组成与化学态,为后续金属氧化物薄膜研究提供了技术借鉴。 展开更多
关键词 x射线光电子能谱 铁基合金 氧化行为
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离子束溅射技术在X射线光电子能谱(XPS)深度剖析中的应用 被引量:1
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作者 周传强 袁干印 +1 位作者 龚翔翔 黄学武 《中国无机分析化学》 北大核心 2025年第1期56-63,共8页
X射线光电子能谱技术是唯一一种既能检测材料表面元素组成又可分析元素价态或化学态的现代分析测试方法,但它只能探测样品表面1~10个原子层深度。离子束溅射技术能够实现材料表面层的逐层可控剥离,广泛应用于功能材料的X射线光电子能谱... X射线光电子能谱技术是唯一一种既能检测材料表面元素组成又可分析元素价态或化学态的现代分析测试方法,但它只能探测样品表面1~10个原子层深度。离子束溅射技术能够实现材料表面层的逐层可控剥离,广泛应用于功能材料的X射线光电子能谱深度剖析。对近年来离子束溅射技术在材料X射线光电子能谱深度剖析中的应用研究进行综述,分析了当前单原子离子束与气体团簇离子束溅射技术在材料深度剖析中面临的瓶颈难题,讨论了离子束溅射技术的应用前景和发展趋势。 展开更多
关键词 x射线光电子能谱 表面分析 溅射 深度剖析
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X射线光电子能谱(XPS)在催化产氢研究中的应用
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作者 文瑜琼 曹亚鹏 +6 位作者 温翀 祝天琪 高星星 王爱玲 许家胜 王舰 姚文清 《中国无机分析化学》 北大核心 2025年第1期1-20,共20页
催化产氢技术因其高效、清洁的特性而备受关注,其中,催化材料性能的探索与优化是提升氢能产率的关键。X射线光电子能谱技术(XPS)作为一种表面分析技术,能够通过测量光电子的能量分布来解析样品表面的化学信息,包括元素的种类、含量、化... 催化产氢技术因其高效、清洁的特性而备受关注,其中,催化材料性能的探索与优化是提升氢能产率的关键。X射线光电子能谱技术(XPS)作为一种表面分析技术,能够通过测量光电子的能量分布来解析样品表面的化学信息,包括元素的种类、含量、化学状态及电子结构,为催化产氢研究提供了不可或缺的工具。通过对XPS原理、催化产氢几种常见类型及原理、XPS在几种常见催化产氢材料体系的应用进行归纳,表明XPS不仅能够揭示材料表面活性位点的电子结构与化学环境,还能深入理解催化机理和反应路径,指导材料的理性设计。最后,对XPS技术未来在催化产氢领域的发展进行了展望,随着XPS与其他多种手段的结合,有助于推动催化产氢领域向更深层次的机理探索和高性能材料的开发,这一研究方向不仅促进了催化科学的发展,也为氢能经济的实现提供了强有力的支撑。 展开更多
关键词 催化产氢 x射线光电子能谱技术(xPS) 催化材料 表面分析 催化机理 材料设计
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X射线光电子能谱测试技术应用中常见问题探究 被引量:1
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作者 潘燕芳 杨文超 +3 位作者 李晓静 林晓倩 贺舜 许燕娜 《中国无机分析化学》 北大核心 2025年第1期73-85,共13页
X射线光电子能谱(XPS)已在新能源、催化和半导体等领域中得到广泛应用,然而XPS数据的可靠性与真实性与测试工程师的经验有关,是一种考验测试经验的表面分析技术。为归纳X射线光电子能谱测试技术的应用,主要从测试原理、制样方法、测试... X射线光电子能谱(XPS)已在新能源、催化和半导体等领域中得到广泛应用,然而XPS数据的可靠性与真实性与测试工程师的经验有关,是一种考验测试经验的表面分析技术。为归纳X射线光电子能谱测试技术的应用,主要从测试原理、制样方法、测试参数设定、仪器校正及测试常见问题等方面进行了总结:在测试原理上概述了荷电效应及补偿方法、采样深度及靶材的选择;在制样上详细介绍样品要求、样品台的选择及制样要领;测试参数上阐述了表面采谱和深剖采谱的参数设定,并着重强调测试通能和能量分辨率的相互关系,举例说明X射线和溅射对某些物质的还原作用;在仪器校正上分述能量分辨率检验和非线性校正的物质;最后汇总XPS数据常见问题。希望未来能开发出空间分辨率好,能量分辨率高、功能更多更稳定的仪器,以满足更多的测试需求。 展开更多
关键词 x射线光电子能谱(xPS) 深度剖析 能量分辨率 半高宽(FMHW) 荷电效应 非线性校正 刻蚀还原
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固态电解质界面的X射线光电子能谱(XPS)测试方法
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作者 赵利媛 方岩 +2 位作者 王珊珊 陈艳 宋廷鲁 《中国无机分析化学》 北大核心 2025年第1期109-117,共9页
固态电解质界面(SEI)对二次电池的性能至关重要,其成分及化学态通常使用X射线光电子能谱(XPS)来测定。然而,由于SEI组成复杂且稳定性差,其化学态极易受到外界条件的影响,带来错误的电池机理解释,这对XPS测试方法提出了更高要求,常规XPS... 固态电解质界面(SEI)对二次电池的性能至关重要,其成分及化学态通常使用X射线光电子能谱(XPS)来测定。然而,由于SEI组成复杂且稳定性差,其化学态极易受到外界条件的影响,带来错误的电池机理解释,这对XPS测试方法提出了更高要求,常规XPS测试获得的SEI成分信息的真实性、准确性值得探究。此外,由于离子溅射时存在择优溅射,XPS深度剖析测试时SEI是否存在组分还原的情况仍未可知。以锂金属电池的SEI为例,结合实际测试情况,详细研究测试位置、X射线、真空静置时间以及溅射条件对谱图的影响。结果表明,不同测试位置获得的SEI组成不同,真空静置时SEI也不稳定,成分发生变化,离子溅射导致SEI成分发生分解,而SEI在X射线辐照下可以保持稳定。基于此,建立了适用于锂金属电池中SEI组分研究的XPS测试方法,并为其他二次电池体系中的界面研究提供参考与借鉴。 展开更多
关键词 锂金属电池 固态电解质界面 x射线光电子能谱 化学态
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高分辨X射线光电子能谱研究Ge_(x)Ga_(8)Se_(92-x)玻璃的结构
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作者 许思维 王荣平 王训四 《材料导报》 北大核心 2025年第16期34-39,共6页
硫系玻璃Ge-Ga-Se凭借其显著的特性成为制造光纤激光器、光放大器和平面波导等有源光子器件的重要基质材料。因此,系统地了解Ge-Ga-Se玻璃的结构对于设计出最优化的光学玻璃至关重要。然而无论是拉曼散射、红外光谱,还是核磁共振等测试... 硫系玻璃Ge-Ga-Se凭借其显著的特性成为制造光纤激光器、光放大器和平面波导等有源光子器件的重要基质材料。因此,系统地了解Ge-Ga-Se玻璃的结构对于设计出最优化的光学玻璃至关重要。然而无论是拉曼散射、红外光谱,还是核磁共振等测试技术,对Ge-Ga-Se玻璃结构的研究所提供的信息均在不同程度上存在不足。因此,本研究利用高分辨率X射线光电子能谱技术对一组从富Se到贫Se的硫系玻璃Ge_(x)Ga_(8)Se_(92-x)(x=16%、20%、24%、26.67%、29.6%、32%和36%)结构的演化进行了研究,发现在Ge-Ga-Se玻璃中Ge、Ga和Se原子的配位数主要表现为4、4和2,并且Ga原子优先于Ge原子与玻璃中的Se原子结合形成四配位结构。Ge_(x)Ga_(8)Se_(92-x)玻璃从富Se状态转变为贫Se状态的过程中,Se-Se-Se和Se-Se-Ge/Ga结构单元逐渐减少,相继消失于Ge_(26.67)Ga_(8)Se_(65.33)和Ge_(32)Ga_(8)Se_(60)玻璃结构中。GeSe_(4)和GaSe_(4)四面体结构单元也不断演变为缺陷状态,甚至出现Ge或Ga原子高度聚集的情况。由此表明,相对于贫Se状态下的Ge-Ga-Se玻璃而言,Ga原子在富Se的Ge-Ga-Se玻璃结构中分布更加均匀,因此,其更适合作为稀土离子掺杂的理想宿主。 展开更多
关键词 硫系玻璃 结构 x射线光电子能谱(xPS) 红外 掺杂 稀土离子
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近常压X射线光电子能谱研究固-气和固-液界面
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作者 刘崇静 夏雨健 +7 位作者 张鹏军 魏世强 曹登丰 圣蓓蓓 褚勇衡 陈双明 宋礼 刘啸嵩 《物理化学学报》 北大核心 2025年第2期14-31,共18页
材料表面是能量储存和转化反应发生的直接场所,因此,真实反应条件下材料的表面化学和结构在理解反应机理方面起着关键作用。X射线光电子能谱是一种表面敏感技术,已经成为研究材料表面复杂成分和电子结构的主要工具之一。传统的X射线光... 材料表面是能量储存和转化反应发生的直接场所,因此,真实反应条件下材料的表面化学和结构在理解反应机理方面起着关键作用。X射线光电子能谱是一种表面敏感技术,已经成为研究材料表面复杂成分和电子结构的主要工具之一。传统的X射线光电子能谱受限于真空条件,这限制了对原位条件下固-气和固-液界面的研究。但随着真空差分技术和静电透镜系统的引入,X射线光电子能谱不再局限于超高真空条件。结合同步辐射光源的优势,近常压X射线光电子能谱(NAP-XPS)展现出更先进的特点。在近年来,NAP-XPS迅速成为研究各种固-气和固-液界面的重要工具。通过NAP-XPS和一些先进的光谱学和显微镜技术,研究人员可以获得原子尺度的界面信息,这使得他们能够更深入地了解这些界面的性质。本文对近年来代表性的NAP-XPS研究进展进行了简要回顾,以阐明其在固-气和固-液界面研究领域中引发的新认识。最后,文章还讨论了关于NAP-XPS技术的挑战和前景,希望可以激发新的研究思路。 展开更多
关键词 近常压 x射线光电子能谱 同步辐射 能源材料 固-气界面 固-液界面
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准原位X射线光电子能谱法分析薄膜半导体材料的环境失效行为
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作者 李夏 郭佳睿 +3 位作者 庄敏 陈瑜 白杰 严楷 《中国无机分析化学》 北大核心 2025年第1期150-158,共9页
处于使用和贮存状态的薄膜半导体材料因其经历的自然和诱导环境因素而引起器件的性能退化甚至失效,进而影响器件甚至整个系统的可靠性。目前对于环境失效行为的研究方法都很难捕获实时或准实时的表面成分及价态信息,难以判断其早期失效... 处于使用和贮存状态的薄膜半导体材料因其经历的自然和诱导环境因素而引起器件的性能退化甚至失效,进而影响器件甚至整个系统的可靠性。目前对于环境失效行为的研究方法都很难捕获实时或准实时的表面成分及价态信息,难以判断其早期失效的行为特性以及深入掌握其失效机理。利用原位及准原位X射线光电子能谱(XPS)分析技术,通过调控环境失效因素研究薄膜半导体材料表界面成分、化学态以及电子结构的变化规律,揭示环境失效行为与失效机理,建立薄膜半导体相关材料及器件环境失效行为的分析新方法。结合准原位XPS对Au/Ni/Cu/HfO_(2)薄膜材料热过应力失效行为进行研究,结果表明:环境气氛中的氧气能够进一步诱导体相内Ni、Cu原子向表面层的扩散。热处理温度升高引起氧元素吸附模式由起初的物理吸附转变为化学吸附,并在Au层表面内反应产生NiO、Ni_(2)O_(3)以及CuO,导致薄膜材料表面成分的变化,表明利用准原位XPS法能够获取薄膜半导体材料准实时的表面成分及化学态信息,能更系统地剖析早期失效行为特性并分析其失效机理,对设备设计与生产过程中薄膜半导体材料体系的合理选择、设计改进以及提高电子芯片的环境适应性与可靠性具有重要意义。 展开更多
关键词 准原位x射线光电子能谱 环境失效 薄膜半导体 表面分析 扩散机理
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X射线光电子能谱(XPS)分析方法中的数据处理
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作者 潘燕芳 李晓静 +2 位作者 廖华平 李东 林晓倩 《中国无机分析化学》 北大核心 2025年第8期1280-1294,共15页
主要阐述X射线光电子能谱(XPS)数据的分析步骤及方法,从分析软件选择、荷电校准、背底基线扣除方式、峰形拟合方式、元素定性定量等方面进行详细概述,并列举了XPS有关手册及相关的数据库网站,举例说明文章中常见的错误。旨在帮助XPS分... 主要阐述X射线光电子能谱(XPS)数据的分析步骤及方法,从分析软件选择、荷电校准、背底基线扣除方式、峰形拟合方式、元素定性定量等方面进行详细概述,并列举了XPS有关手册及相关的数据库网站,举例说明文章中常见的错误。旨在帮助XPS分析领域的初学者,包括尚未完全熟悉XPS分析技术的研究人员、研究生和X射线光电子能谱从业人员,使他们能够全面了解XPS分析的方法步骤,基本掌握X射线光电子能谱数据的处理步骤及方法,在后续的数据处理中避免或减少分析错误,提升数据分析质量,让X射线光电子能谱测试技术更好地服务于科研,助力科研的发展进步。 展开更多
关键词 x射线光电子能谱(xPS) 化合态分析 表面分析 荷电校正
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X射线光电子能谱(XPS)谱图的分峰拟合
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作者 吴璇 吴正龙 《中国无机分析化学》 北大核心 2025年第1期64-72,共9页
X射线光电子能谱(XPS)分峰拟合是数据结果后处理的常用技术,实际工作中,缺乏XPS分析工作经验的使用者对分峰拟合结果不确定性大。为尽量提高结果的确定度,XPS分峰处理时,需要对样品采集的XPS谱峰进行必要的分析判断、选择正确拟合模型... X射线光电子能谱(XPS)分峰拟合是数据结果后处理的常用技术,实际工作中,缺乏XPS分析工作经验的使用者对分峰拟合结果不确定性大。为尽量提高结果的确定度,XPS分峰处理时,需要对样品采集的XPS谱峰进行必要的分析判断、选择正确拟合模型、合理的参量值或范围、选用适当的谱峰背景扣除方法等。在简述分峰拟合基本理论的基础上,通过列举O 1s的自重叠、C 1s与Ru 3d相互重叠、N 1s与GaLM俄歇峰群重叠的分峰典型案例,由浅入深,分析评估了拟合参量对拟合结果的影响,探索分峰拟合技术,努力提高XPS分峰结果确定性。 展开更多
关键词 x射线光电子能谱(xPS) 峰重叠 分峰拟合 Voigt函数
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