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Color Enhancement by Diffusion of Beryllium in Dark Blue Sapphire 被引量:1
1
作者 Kyungjin Kim Yongkil Ahn 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2016年第5期1623-1628,共6页
Diffusion of beryllium was performed on dark blue sapphire from China and Australia.The samples were heated with beryllium as a dopant in a furnace at 1 600℃ for 42 hin air.After beryllium diffusion,samples were anal... Diffusion of beryllium was performed on dark blue sapphire from China and Australia.The samples were heated with beryllium as a dopant in a furnace at 1 600℃ for 42 hin air.After beryllium diffusion,samples were analyzed by UV-Vis,FTIR,and WD-XRF spectroscopy.After heat-treatment with Be as a catalyst,the irons of the ferrous state were changed to the ferric state.Therefore,reaction of Fe^(2+)/Ti^(4+) IVCT was decreased.The absorption peaks at 3 309cm^(-1) attributed to OH radical were disappeared completely due to carry out heat treatment.Consequently,the intensity of absorption band was decreased in the visible region.Especially,decreased absorption band in the vicinity of 570 nm was responsible for the lighter blue color.Therefore,we confirmed that the dark blue sapphires from China and Australia were changed to vivid blue. 展开更多
关键词 Blue sapphire BERYLLIUM DIFFUSION UV-VIS FTIR wd-xrf spectroscopy
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斯里兰卡乳白色蓝宝石的热处理 被引量:1
2
作者 金英福 《矿物学报》 CAS CSCD 北大核心 2015年第4期550-554,共5页
采用Ⅹ射线荧光仪(WD-XRF)、光学显微镜、紫外-可见-近红外分光光度计(UV-VIS-NIR)、傅里叶红外光谱仪(FT-IR)和拉曼光谱仪等分析方法,研究了斯里兰卡产乳白色蓝宝石(Geudas)。Geudas虽然具有能致蓝色所需的Fe2O3、Ti O2,但这种次透明... 采用Ⅹ射线荧光仪(WD-XRF)、光学显微镜、紫外-可见-近红外分光光度计(UV-VIS-NIR)、傅里叶红外光谱仪(FT-IR)和拉曼光谱仪等分析方法,研究了斯里兰卡产乳白色蓝宝石(Geudas)。Geudas虽然具有能致蓝色所需的Fe2O3、Ti O2,但这种次透明乳白色天然蓝宝石属于低级别。为了提高Geudas的颜色等级和级别,观察了真空状态下,1600℃加热5 h和1800℃加热1 h时Geudas颜色、内含物的变化。结果表明,Geudas中的致色物Fe2O3、Ti O2含量与合成蓝宝石中的含量相当。在1600℃热处理时,宝石的颜色不发生变化,只是宝石内部不透明内含物得到生长。在1800℃热处理时,宝石颜色由乳白色变成蓝色,同时具有内含物得到生长的特点。因此,为使Geudas的颜色得到改善,应采用1800℃高温热处理的方法。 展开更多
关键词 傅立叶红外光谱仪 热处理 拉曼光谱仪 蓝宝石 Ⅹ射线荧光仪
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波长色散X射线荧光分析的新发展 被引量:2
3
作者 Shimadzu (Hong Kong) Ltd., Beijing Office (Shimadzu (Hong Kong) Ltd., Beijing Office, Beijing 100020, China) 《岩矿测试》 CAS CSCD 北大核心 2003年第4期311-314,共4页
除了继续发展波长色散X射线荧光分析装置在主、次量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外,进一步提高灵敏度,使分析范围扩展到痕量分析;开拓微区面分布的元素成像分析;进一步对传统分析困难的轻元素和中、重金属元素的探讨,开发新... 除了继续发展波长色散X射线荧光分析装置在主、次量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外,进一步提高灵敏度,使分析范围扩展到痕量分析;开拓微区面分布的元素成像分析;进一步对传统分析困难的轻元素和中、重金属元素的探讨,开发新的高级次谱线分析方法;适应新材料特别是纳米材料的分析要求,对薄膜分析的开拓等方面,已经有了长足的发展。在介绍商品化的分析装置方面的发展状况的同时,对无标样分析的基本参数法目前发展状况也做了介绍。 展开更多
关键词 波长色散 X射线荧光分析 元素成像分析 高级次谱线分析 薄膜分析 无标样分析
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