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ZnO缓冲层对W掺杂VO_2薄膜光电性能的影响
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作者 周矗 李合琴 +4 位作者 刘心同 徐昱昊 叶楠 钱满满 成聪 《稀有金属与硬质合金》 CAS CSCD 北大核心 2014年第5期39-42,共4页
用磁控溅射法在载玻片基底上分别制备W-VO2单层薄膜与ZnO/W-VO2双层薄膜,并在Ar气氛中进行退火。用X射线衍射仪、LCR测试仪、扫描电镜、紫外-可见分光光度计和红外光谱仪对薄膜样品的晶体结构、电阻-温度特性、表面形貌、可见光透过率... 用磁控溅射法在载玻片基底上分别制备W-VO2单层薄膜与ZnO/W-VO2双层薄膜,并在Ar气氛中进行退火。用X射线衍射仪、LCR测试仪、扫描电镜、紫外-可见分光光度计和红外光谱仪对薄膜样品的晶体结构、电阻-温度特性、表面形貌、可见光透过率和红外光透过率进行测试。结果表明:ZnO/W-VO2双层薄膜的相变温度降低至35℃,薄膜生长更加致密均匀,可见光透过率提高约23%,对红外光的屏蔽效果更优。 展开更多
关键词 ZnO/w-vo2薄膜 w-vo2单层薄膜 相变温度 电阻-温度曲线 可见光透过率 红外光透过率
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