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芯片测试探针X射线图像模式识别技术研究
被引量:
1
1
作者
黄传霞
赵勋杰
《计算机应用与软件》
CSCD
北大核心
2013年第7期244-247,共4页
研究IC半导体芯片测试探针图像模式识别的关键技术和方法。通过对大量测试探针图片的分析,发现不同系列探针图像的长、宽、各部分比例、面积有明显差别,而同一系列探针的相差不大,主要差别在头部和尾部的形状上。根据各种型号探针头部...
研究IC半导体芯片测试探针图像模式识别的关键技术和方法。通过对大量测试探针图片的分析,发现不同系列探针图像的长、宽、各部分比例、面积有明显差别,而同一系列探针的相差不大,主要差别在头部和尾部的形状上。根据各种型号探针头部和尾部的形状特点,提出识别每种型号探针的形状特征参数,建立探针特征数据库。以其中3个系列16种探针为例,详细介绍探针形状特征的提取方法,并基于MATLAB开发了一个探针图像模式识别系统。实验表明该系统能够实现图像抓取、预处理、特征提取、识别及报警功能。
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关键词
测试探针
X图像
形状特征
模式识别
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职称材料
题名
芯片测试探针X射线图像模式识别技术研究
被引量:
1
1
作者
黄传霞
赵勋杰
机构
苏州大学物理科学与技术学院
出处
《计算机应用与软件》
CSCD
北大核心
2013年第7期244-247,共4页
文摘
研究IC半导体芯片测试探针图像模式识别的关键技术和方法。通过对大量测试探针图片的分析,发现不同系列探针图像的长、宽、各部分比例、面积有明显差别,而同一系列探针的相差不大,主要差别在头部和尾部的形状上。根据各种型号探针头部和尾部的形状特点,提出识别每种型号探针的形状特征参数,建立探针特征数据库。以其中3个系列16种探针为例,详细介绍探针形状特征的提取方法,并基于MATLAB开发了一个探针图像模式识别系统。实验表明该系统能够实现图像抓取、预处理、特征提取、识别及报警功能。
关键词
测试探针
X图像
形状特征
模式识别
Keywords
test probe x-ray image shape feature pattern recognition
分类号
TP391.41 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
芯片测试探针X射线图像模式识别技术研究
黄传霞
赵勋杰
《计算机应用与软件》
CSCD
北大核心
2013
1
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