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芯片测试探针X射线图像模式识别技术研究 被引量:1
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作者 黄传霞 赵勋杰 《计算机应用与软件》 CSCD 北大核心 2013年第7期244-247,共4页
研究IC半导体芯片测试探针图像模式识别的关键技术和方法。通过对大量测试探针图片的分析,发现不同系列探针图像的长、宽、各部分比例、面积有明显差别,而同一系列探针的相差不大,主要差别在头部和尾部的形状上。根据各种型号探针头部... 研究IC半导体芯片测试探针图像模式识别的关键技术和方法。通过对大量测试探针图片的分析,发现不同系列探针图像的长、宽、各部分比例、面积有明显差别,而同一系列探针的相差不大,主要差别在头部和尾部的形状上。根据各种型号探针头部和尾部的形状特点,提出识别每种型号探针的形状特征参数,建立探针特征数据库。以其中3个系列16种探针为例,详细介绍探针形状特征的提取方法,并基于MATLAB开发了一个探针图像模式识别系统。实验表明该系统能够实现图像抓取、预处理、特征提取、识别及报警功能。 展开更多
关键词 测试探针 X图像 形状特征 模式识别
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