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全反射X射线荧光分析
被引量：
9
1
作者
杨明太
张连平
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2002年第6期572-575,共4页
综述了全反射 X射线荧光分析技术的基本原理、装置及特点 ,介绍了全反射 X射线荧光分析技术的应用及其前景。
关键词
全反射X射线荧光分析
原理
txrf装置
痕量分析
微量分析
在线阅读
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职称材料
题名
全反射X射线荧光分析
被引量：
9
1
作者
杨明太
张连平
机构
中国工程物理研究院
出处
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2002年第6期572-575,共4页
文摘
综述了全反射 X射线荧光分析技术的基本原理、装置及特点 ,介绍了全反射 X射线荧光分析技术的应用及其前景。
关键词
全反射X射线荧光分析
原理
txrf装置
痕量分析
微量分析
Keywords
total reflection X ray fluorescence
analysis techniques
summarized
分类号
O657.34 [理学—分析化学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
全反射X射线荧光分析
杨明太
张连平
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2002
9
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