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两次全反射X射线荧光能谱分析仪的研制
被引量:
5
1
作者
金立云
黄清良
+2 位作者
李云
袁慧
高宏
《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1995年第5期401-408,共8页
文章概述自行研制的两次全反射x射线荧光(TXRF)能谱分析仪的结构和性能。该谱仪使用与之配套而开发的SPAN/XRFV4.ox射线谱处理软件。实验测试结果表明:对原子序数Z>l6的大部分元素的探测下限可达10 ̄(-1...
文章概述自行研制的两次全反射x射线荧光(TXRF)能谱分析仪的结构和性能。该谱仪使用与之配套而开发的SPAN/XRFV4.ox射线谱处理软件。实验测试结果表明:对原子序数Z>l6的大部分元素的探测下限可达10 ̄(-10)g。该能谱分析仪为测定动力堆乏燃料元件溶解液中的不溶残渣的化学元素而研制,但可推广用于痕量元素分析的诸多研究和应用领域。
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关键词
痕量元素
txrf
X射线
荧光能谱分析仪
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职称材料
题名
两次全反射X射线荧光能谱分析仪的研制
被引量:
5
1
作者
金立云
黄清良
李云
袁慧
高宏
机构
中国原子能科学研究院放射化学研究所
出处
《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1995年第5期401-408,共8页
文摘
文章概述自行研制的两次全反射x射线荧光(TXRF)能谱分析仪的结构和性能。该谱仪使用与之配套而开发的SPAN/XRFV4.ox射线谱处理软件。实验测试结果表明:对原子序数Z>l6的大部分元素的探测下限可达10 ̄(-10)g。该能谱分析仪为测定动力堆乏燃料元件溶解液中的不溶残渣的化学元素而研制,但可推广用于痕量元素分析的诸多研究和应用领域。
关键词
痕量元素
txrf
X射线
荧光能谱分析仪
Keywords
txrf analysis trace element minimum detection limit
分类号
TH838.3 [机械工程—精密仪器及机械]
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作者
出处
发文年
被引量
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1
两次全反射X射线荧光能谱分析仪的研制
金立云
黄清良
李云
袁慧
高宏
《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1995
5
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