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化学分离-质谱法定量分析高纯Dy_2O_3中稀土杂质 被引量:3
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作者 王子树 隋喜云 +1 位作者 李丽君 刘长路 《分析测试学报》 CAS CSCD 1995年第6期31-36,共6页
以P_(507)萃淋树脂为固定相,HCl-NH4Cl为淋洗液,研究了99.999%~99.9999%高纯Dy2O3中痕量稀土与基体Dy的分离法,以及火花源质谱法的测定条件。可分析99.9999%超高纯Dy2O3中痕量... 以P_(507)萃淋树脂为固定相,HCl-NH4Cl为淋洗液,研究了99.999%~99.9999%高纯Dy2O3中痕量稀土与基体Dy的分离法,以及火花源质谱法的测定条件。可分析99.9999%超高纯Dy2O3中痕量稀土杂质,测定限0.001~0.1×10-6,误差30%。 展开更多
关键词 萃淋树脂 稀土 质谱 氧化镝
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辉光放电质谱仪的历史现状与未来 被引量:3
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作者 杭纬 杨成隆 +3 位作者 苏永选 杨芃原 王小如 黄本立 《质谱学报》 EI CAS CSCD 1996年第2期8-14,共7页
本文介绍辉光放电(GlowDischarge,GD)作为质谱仪离子源的发展过程,叙述了多种形式的辉光放电离子源的特性及应用,并就辉光放电质谱仪做为分析手段与其他分析方法进行了比较,对该领域的杰出人士及辉光放电商品仪器... 本文介绍辉光放电(GlowDischarge,GD)作为质谱仪离子源的发展过程,叙述了多种形式的辉光放电离子源的特性及应用,并就辉光放电质谱仪做为分析手段与其他分析方法进行了比较,对该领域的杰出人士及辉光放电商品仪器进行了介绍,最后根据专家们的分析,探讨了辉光放电质谱仪的未来工作方向。 展开更多
关键词 辉光放电质谱仪 离子源 原子光谱仪 辉光放电
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高纯Y_2O_3微量元素的火花源质谱法测定 被引量:1
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作者 周之荣 李炳林 《厦门大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 1997年第2期267-271,共5页
利用同位素稀释法和内标法相结合,建立了火花源质谱法定量测定高纯Y2O3中20种微量元素的分析方法.大多数元素检测限为0.00xμg/g。
关键词 火花源质谱 同位素稀释 微量元素 测定 氧化钇
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高纯稀土氧化物的火花源质谱定量分析
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作者 隋喜云 王子树 +3 位作者 刘慧敏 毕书蔚 马会军 温津 《质谱学报》 EI CAS CSCD 1995年第4期14-19,共6页
采用同位素稀释和相对灵敏度因子法相结合,定量分析了高纯稀土氧化物Tm2O3、Tb4O7和Eu2O3(纯度99.999%~99.9999%)中25种痕量稀土杂质与非稀土杂质元素,测定下限为0.0X~0.00Xμg/g,... 采用同位素稀释和相对灵敏度因子法相结合,定量分析了高纯稀土氧化物Tm2O3、Tb4O7和Eu2O3(纯度99.999%~99.9999%)中25种痕量稀土杂质与非稀土杂质元素,测定下限为0.0X~0.00Xμg/g,相对标准偏差在30%以内,其中Cu、Zn、Ba、Dy、Eu采用同位素稀释法分析,相对标准偏差均在10%以内。 展开更多
关键词 质谱 同位素稀释 稀土 痕量分析
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P_(507)萃淋树脂分离—火花源质谱法定量分析高纯Nd_(2)O_3中痕量稀土元素
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作者 隋喜云 王子树 黄富嵘 《质谱学报》 EI CAS CSCD 1996年第1期56-62,共7页
本采用萃取色谱法,以P507萃淋树脂为固定相,以HCl-NH4Cl体系为淋洗液,研究了高纯Nd2O3(99.999%~99.9999%)中稀土杂质与Nd基体的分离方法。选择螯合剂-活性碳柱富集淋洗液中痕量稀土,采用火... 本采用萃取色谱法,以P507萃淋树脂为固定相,以HCl-NH4Cl体系为淋洗液,研究了高纯Nd2O3(99.999%~99.9999%)中稀土杂质与Nd基体的分离方法。选择螯合剂-活性碳柱富集淋洗液中痕量稀土,采用火花源质谱法分析,测定下限0.01μg/g。 展开更多
关键词 萃取 色谱分离 质谱 氧化钕 稀土
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U_3O_8中杂质含量的全分析 被引量:2
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作者 王兴尧 赵敦忠 +3 位作者 李泽 吴杰 罗上庚 刘大呜 《质谱学报》 EI CAS CSCD 2001年第1期40-43,共4页
利用火花源质谱法对天然铀氧化物粉末 (U3O8)样品进行杂质元素的全分析 ,获得了
关键词 火花源质谱 全分析 八氧化三铀 核材料 杂质元素
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火花源质谱法测定高纯银粉中六个微量元素
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作者 周之荣 李炳林 《华东地质学院学报》 1995年第4期381-384,共4页
本文利用同位素稀释法和内标法相结合,建立了火花源质谱法同时测定高纯银粉中六个微量元素的分析方法。对通常使用的内标公式进行了扩展,使其更为普遍适用。方法测定灵敏度可达0.1μg/g,相对标准偏差为9.3%~16.5%。
关键词 火花源质谱法 微量元素 纯银粉
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硅藻土,硬铝,不锈钢,金属铜和镍中杂质含量的全分析
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作者 王兴尧 赵敦忠 +3 位作者 李泽 吴杰 罗上庚 刘大鸣 《核化学与放射化学》 CAS CSCD 北大核心 2001年第3期178-183,共6页
为提供NDA标准样品用的基体材料、容器材料和镀层材料中杂质元素含量的有关数据 ,并建立杂质元素含量的全分析方法 ,采用火花源质谱法分析了硅藻土 ,硬铝 ,不锈钢 ,金属铜和镍样品中杂质元素含量 ,每个样品获得了约
关键词 杂质含量 火花源质谱法 全分析 硅藻土 硬铝 不锈钢 金属铜 金属镍
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用辉光放电质谱法和火花源质谱法分析表征金属和半导体 被引量:7
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作者 刘成德 《质谱学报》 EI CAS CSCD 1996年第3期6-17,共12页
辉光放电质谱(GDMS)和火花源质谱(SSMS)是进行高纯固体材料直接和全面分析的两种主要的分析技术,GDMS和SSMS各有所长,有互补性。适当运用这两种技术,综合其优势,可望在固体样品分析表征的许多应用中获得更全面... 辉光放电质谱(GDMS)和火花源质谱(SSMS)是进行高纯固体材料直接和全面分析的两种主要的分析技术,GDMS和SSMS各有所长,有互补性。适当运用这两种技术,综合其优势,可望在固体样品分析表征的许多应用中获得更全面的信息和更可靠的分析结果。本文介绍了GDMS在贵金属分析领域中的两个应用,讨论了高纯镓分析中的表面富集问题,介绍了用SSMS研究杂质元素分布均匀性和相关性的方法。 展开更多
关键词 辉光放电质谱 火花源质谱 金属 半导体 质谱法
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火花源质谱定量分析中的基体效应问题
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作者 祝大昌 《分析测试通报》 CSCD 1991年第5期1-6,共6页
本文着重评述了80年代研究火花源质谱法中的基体效应问题所取得的成绩和面临的困难。
关键词 火花源质谱 基体效应 灵敏度 RSF
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