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题名嵌入式存储器内建自测试的一种新型应用
被引量：3
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作者
孙华义
郑学仁
闾晓晨
王颂辉
吴焯焰
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机构
华南理工大学微电子研究所
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出处
《中国集成电路》
2007年第11期82-87,共6页
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文摘
当今,嵌入式存储器在SoC芯片面积中所占的比例越来越大,成为SoC芯片发展的一个显著特点。由于本身单元密度很高,嵌入式存储器比芯片上面的其它元件更容易造成硅片缺陷,成为影响芯片成品率的一个重要因素。本文对采用MARCH-C算法的嵌入式存储器内建自测试进行了改进,实现了对嵌入式存储器故障的检测和定位,能够准确判断故障地址和故障类型,使嵌入式存储器故障修复更加快捷、准确,同时达到故障覆盖率高、测试时间短的目的。
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关键词
soc
嵌入式存储器
march算法
故障检测
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Keywords
soc ,embedded memory,march algorithm,fault checking
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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