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铁电液晶SmC^*相介电特性的研究
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作者 钱祥忠 《液晶与显示》 CAS CSCD 2000年第2期85-91,共7页
建立了铁电液晶SmC*相介电特性的分子理论,求出在外加交变电场作用下液晶系统的自由能密度,得到极化强度〈P〉和复介电常数ε*的近似表达式。结果表明ε*是外加交变电场的角频率、幅值、温度以及液晶的分子结构参数的函数。
关键词 复介电常数 角频率 铁电液晶 SmC^*相
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