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混合表面等离子体微盘腔模式特征及传感特性
被引量：
1
1
作者
张蒙
吴根柱
+2 位作者
王聪
刘彬斌
陈达如
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2015年第6期6-10,共5页
为了实现高Q值极小模体积的表面等离子体微腔,提出一种混合表面等离子体微盘腔,介质微盘上放置横截面为矩形的金属纳米环形条,微盘腔中间由低折射率材料隔离.用有限元法对混合微腔的模式特性进行数值模拟,研究了其品质因子、有效模式体...
为了实现高Q值极小模体积的表面等离子体微腔,提出一种混合表面等离子体微盘腔,介质微盘上放置横截面为矩形的金属纳米环形条,微盘腔中间由低折射率材料隔离.用有限元法对混合微腔的模式特性进行数值模拟,研究了其品质因子、有效模式体积和腔外能量比随器件几何尺寸的变化规律.结果表明,所设计微盘腔具有较低的传播损耗、较强的光场约束能力和较高的腔外能量比,品质因子高达7 000,最小模体积仅为0.315μm3,可实现高灵敏度折射率传感.
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关键词
混合表面等离子体微腔
spp
—WG混合
模式
品质因子
有效
模式
体积
高灵敏度传感
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职称材料
科研光、电测试系统
2
作者
郑怡
欧昌刚
+1 位作者
孔凡
袁仁宽
《电子测量技术》
2003年第6期41-41,43,共2页
在Win2000下,利用计算机并行口的SPP模式,开发了一套集信号发生,光电信号转换与瞬态信号采集的科研测试系统。此系统在有机半导体发光器件的瞬态光、电特性研究中得到应用。
关键词
spp模式
信号发生
光电信号转换
瞬态信号采集
测试系统
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职称材料
针对Motorola微处理器的BDM调试系统的设计
被引量：
3
3
作者
简敬元
龙占超
《现代电子技术》
2004年第6期46-48,56,共4页
BDM调试模式全称背景调试模式(Background Debugger Mode)。在Motorola的PowelPC 5xx/8xx,ColdFire系列微处理器中,都集成有这种调试模块。本文将详细的介绍BDM调试方式的特点,并在基础上针对ColdFire系列处理器MCF5272讨论了BDM调试系...
BDM调试模式全称背景调试模式(Background Debugger Mode)。在Motorola的PowelPC 5xx/8xx,ColdFire系列微处理器中,都集成有这种调试模块。本文将详细的介绍BDM调试方式的特点,并在基础上针对ColdFire系列处理器MCF5272讨论了BDM调试系统的软硬件设计方法。
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关键词
BDM
MCF5272
并口
spp模式
GAL器件
LINUX
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职称材料
题名
混合表面等离子体微盘腔模式特征及传感特性
被引量：
1
1
作者
张蒙
吴根柱
王聪
刘彬斌
陈达如
机构
浙江师范大学信息光学研究所
浙江省光信息检测与显示技术研究重点实验室
浙江师范大学与浙江大学光学联合研究实验室
浙江师范大学行知学院
出处
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2015年第6期6-10,共5页
基金
浙江省自然科学基金(Nos.LY15F050001
2011C21038
+2 种基金
2011C22051)
国家自然科学基金(No.61007029)
浙江省点科技创新团队(No.2010R50007)资助
文摘
为了实现高Q值极小模体积的表面等离子体微腔,提出一种混合表面等离子体微盘腔,介质微盘上放置横截面为矩形的金属纳米环形条,微盘腔中间由低折射率材料隔离.用有限元法对混合微腔的模式特性进行数值模拟,研究了其品质因子、有效模式体积和腔外能量比随器件几何尺寸的变化规律.结果表明,所设计微盘腔具有较低的传播损耗、较强的光场约束能力和较高的腔外能量比,品质因子高达7 000,最小模体积仅为0.315μm3,可实现高灵敏度折射率传感.
关键词
混合表面等离子体微腔
spp
—WG混合
模式
品质因子
有效
模式
体积
高灵敏度传感
Keywords
Hybrid plasmonic microcavity
Hybrid plasmonic mode
Quality factor
Effective mode volume
High sensitive sensor
分类号
O436 [机械工程—光学工程]
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职称材料
题名
科研光、电测试系统
2
作者
郑怡
欧昌刚
孔凡
袁仁宽
机构
南京大学
出处
《电子测量技术》
2003年第6期41-41,43,共2页
文摘
在Win2000下,利用计算机并行口的SPP模式,开发了一套集信号发生,光电信号转换与瞬态信号采集的科研测试系统。此系统在有机半导体发光器件的瞬态光、电特性研究中得到应用。
关键词
spp模式
信号发生
光电信号转换
瞬态信号采集
测试系统
Keywords
photoelectric transform data acquisition signal creation WinDriver
分类号
TP274 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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职称材料
题名
针对Motorola微处理器的BDM调试系统的设计
被引量：
3
3
作者
简敬元
龙占超
机构
华中科技大学电信系
出处
《现代电子技术》
2004年第6期46-48,56,共4页
文摘
BDM调试模式全称背景调试模式(Background Debugger Mode)。在Motorola的PowelPC 5xx/8xx,ColdFire系列微处理器中,都集成有这种调试模块。本文将详细的介绍BDM调试方式的特点,并在基础上针对ColdFire系列处理器MCF5272讨论了BDM调试系统的软硬件设计方法。
关键词
BDM
MCF5272
并口
spp模式
GAL器件
LINUX
Keywords
BDM
MCF5272
parallel
spp
mode i GAL component
Linux
分类号
TP368.1 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
混合表面等离子体微盘腔模式特征及传感特性
张蒙
吴根柱
王聪
刘彬斌
陈达如
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2015
1
在线阅读
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职称材料
2
科研光、电测试系统
郑怡
欧昌刚
孔凡
袁仁宽
《电子测量技术》
2003
0
在线阅读
下载PDF
职称材料
3
针对Motorola微处理器的BDM调试系统的设计
简敬元
龙占超
《现代电子技术》
2004
3
在线阅读
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职称材料
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