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高速采样/保持放大器的孔径时间测定
被引量:
1
1
作者
廖述剑
李迅波
陈光
《电子测量与仪器学报》
CSCD
2000年第2期32-34,共3页
本文从孔径时间的定义和影响因素出发 ,给出一种以欠采样技术为基础的测试方案 ,并在LTX公司的SynchroⅡ混合信号电路测试系统上加以实现 。
关键词
s/h放大器
孔径时间
欠采样技术
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职称材料
题名
高速采样/保持放大器的孔径时间测定
被引量:
1
1
作者
廖述剑
李迅波
陈光
机构
电子科技大学CAT室
出处
《电子测量与仪器学报》
CSCD
2000年第2期32-34,共3页
文摘
本文从孔径时间的定义和影响因素出发 ,给出一种以欠采样技术为基础的测试方案 ,并在LTX公司的SynchroⅡ混合信号电路测试系统上加以实现 。
关键词
s/h放大器
孔径时间
欠采样技术
Keywords
s
ample-and-
h
old amplifier
Aperture time
Under
s
ampling tec
h
nique
分类号
TN722 [电子电信—电路与系统]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
高速采样/保持放大器的孔径时间测定
廖述剑
李迅波
陈光
《电子测量与仪器学报》
CSCD
2000
1
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