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高速采样/保持放大器的孔径时间测定 被引量:1
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作者 廖述剑 李迅波 陈光 《电子测量与仪器学报》 CSCD 2000年第2期32-34,共3页
本文从孔径时间的定义和影响因素出发 ,给出一种以欠采样技术为基础的测试方案 ,并在LTX公司的SynchroⅡ混合信号电路测试系统上加以实现 。
关键词 s/h放大器 孔径时间 欠采样技术
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