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题名基于分区再训练的RRAM阵列多缺陷容忍算法
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作者
王梦可
杨朝晖
查晓婧
夏银水
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机构
宁波大学信息科学与工程学院
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出处
《计算机应用研究》
CSCD
北大核心
2024年第10期3068-3072,共5页
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基金
国家自然科学基金资助项目(62131010,U22A2013)
国家自然科学基金青年项目(62304115)
+1 种基金
浙江省自然科学基金创新群体资助项目(LDT23F04021F04)
浙江省科研计划一般项目(Y202248965)。
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文摘
针对RRAM单元制造工艺不完善造成神经网络矩阵向量乘法计算错误问题,根据RRAM阵列多缺陷特性进行建模,提出了多缺陷容忍算法。首先根据RRAM阵列常见的转变缺陷和粘连缺陷对神经网络计算准确度的影响,对两种缺陷统一建模;然后对神经网络进行划分,基于改进的知识蒸馏方式进行分区训练;最后选择适配的损失函数加入归一化层,进一步优化算法。在MNIST和Cifar-10数据集上进行实验,结果表明该方法在多个神经网络上能够得到98%以上的恢复率,说明该方法可有效降低RRAM阵列多缺陷对神经网络计算准确度的影响。
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关键词
rram阵列
缺陷容忍
神经网络
知识蒸馏
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Keywords
rram crossbar
fault tolerance
neural network
knowledge distillation
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分类号
TP391.7
[自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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题名阻变存储阵列的自动化测试系统
被引量：3
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作者
董大年
汪毓铎
吕杭炳
姚志宏
冯雪
余兆安
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机构
北京信息科技大学信息与通信工程学院
中国科学院微电子研究所微电子器件与集成技术重点实验室
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出处
《半导体技术》
CSCD
北大核心
2017年第12期956-959,共4页
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基金
国家自然科学基金资助项目(61522408)
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文摘
阻变存储器(RRAM)是一种新型的不挥发存储技术,研究阻变存储器阵列规模的存储性能以及可靠性问题是推进RRAM实用化的关键。目前通用的基于微控探针台的半导体参数分析的常规测量系统无法完成对阵列的自动化测试。利用半导体参数分析仪(4200-SCS)、开关矩阵以及相关外围电路搭建了一套针对阻变存储阵列的自动测试系统,实现了1Mbit RRAM芯片的初始阻态分布的读取、初始化测试、存储单元的自动化编程/擦除操作。测试结果表明,该测试系统可以实现阻变存储阵列的自动化测试,为进一步工艺参数和编程算法的优化设计奠定基础。
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关键词
阻变存储(rram)阵列
半导体参数分析仪
自动测试系统
可靠性
开关矩阵
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Keywords
resistive random access memory （rram） array
semiconductor parameter analyzer
automatic test system
reliability
switch matrix
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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