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基于P-SV波反射系数的裂缝型致密储层流体识别
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作者 窦喜英 王恩利 《科技创新与应用》 2024年第35期1-11,共11页
低频条件下的等效孔隙裂缝模型更贴合实际地下裂缝型致密储层介质。借助线性滑动模型与等效孔隙裂缝介质模型的等价关系,推导出基质孔隙度、裂缝密度、填充流体与等效孔隙裂缝介质P-SV波反射系数的直接显示函数关系,并进行归一化处理后... 低频条件下的等效孔隙裂缝模型更贴合实际地下裂缝型致密储层介质。借助线性滑动模型与等效孔隙裂缝介质模型的等价关系,推导出基质孔隙度、裂缝密度、填充流体与等效孔隙裂缝介质P-SV波反射系数的直接显示函数关系,并进行归一化处理后开展各向同性介质/等效孔隙裂缝介质双层模型的方位AVO特征数值模拟。模拟结果表明,3类AVO等效孔隙裂缝介质中,水饱和状态下归一化P-SV波反射系数对裂缝密度的敏感性均高于气饱和状态,2种饱和状态间的反射系数随裂缝密度变化而变化的差异从大到小依次为AVOⅢ、AVOⅡ和AVOⅠ等效孔隙裂缝介质;而基质孔隙度变化对AVOⅠ和AVOⅡ等效孔隙介质中气、水饱和状态的反射系数产生的变化差异很小,但在AVOⅢ等效孔隙裂缝介质中差异非常明显,说明基质孔隙度只对该类型介质中的流体敏感。 展开更多
关键词 p-sv波反射系数 方位AVO分析 裂缝密度 基质孔隙度 流体类型
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