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通过PO-KELM的3D NAND FLASH寿命预测方法研究
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作者 卜柯方 李杰 秦丽 《中国测试》 CAS 北大核心 2024年第9期74-82,共9页
随着半导体行业的快速发展,以及各种芯片国产化的趋势越来越明显,3D NAND FLASH作为当前存储器件的重要代表,其寿命预测对于保障系统可靠性至关重要。因此,通过硬件搭建现场可编程门阵列采集平台,对3D NAND FLASH进行特性分析,在不同擦... 随着半导体行业的快速发展,以及各种芯片国产化的趋势越来越明显,3D NAND FLASH作为当前存储器件的重要代表,其寿命预测对于保障系统可靠性至关重要。因此,通过硬件搭建现场可编程门阵列采集平台,对3D NAND FLASH进行特性分析,在不同擦除/写入次数下模拟FLASH可能发生的不同误码情况,分析耐久性、数据保持特性以及读、写干扰特性的变化趋势。同时提出鹦鹉优化器改进的核极限机器学习机,由于核极限学习机参数寻优困难,鹦鹉优化器通过搜索位置提高参数寻优速度和准确度。采用将已使用的循环次数作为输出结果对FLASH进行寿命预测。实验结果表明,相比其他机器学习,采用鹦鹉优化的核极限学习机预测模型精度可以达到98.5%,在提升训练速度和准确度中具有重要的现实意义。 展开更多
关键词 3D nand flash 现场可编程门阵列(FPGA) 机器学习 鹦鹉优化器(PO) 核极限学习机(KELM)
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基于USB 3.0的NAND FLASH数据存储设计 被引量:1
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作者 白昊宇 余红英 牛焱坤 《现代电子技术》 北大核心 2024年第18期101-106,共6页
由于目前采用的串口和USB 2.0检测坏块、实现数据读取的方法存在数据读取慢以及数据稳定性低的问题,而在高速大容量存储装置设计中,存储器通常采用NAND FLASH,故提出一种基于USB 3.0总线的NAND FLASH数据存储设计。采用FPGA作为逻辑主... 由于目前采用的串口和USB 2.0检测坏块、实现数据读取的方法存在数据读取慢以及数据稳定性低的问题,而在高速大容量存储装置设计中,存储器通常采用NAND FLASH,故提出一种基于USB 3.0总线的NAND FLASH数据存储设计。采用FPGA作为逻辑主控单元,选用USB 3.0芯片CYUSB3014作为FPGA与上位机的通信桥梁,并在FPGA软件上设计ECC数据校验纠错以及NAND FLASH的坏块管理。用户可通过上位机实现数据读取、擦除以及分析。实验结果表明,所设计系统可通过USB 3.0接口将NAND FLASH中存储的数据传输到上位机,传输速度实际可达39 MB/s。 展开更多
关键词 数据存储 nand flash FPGA USB 3.0 坏块管理 数据校验 高速数据处理 上位机
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基于NAND Flash的CPU安全启动设计与实现 被引量:2
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作者 龚锐 石伟 +2 位作者 刘威 张剑锋 王蕾 《计算机工程与科学》 CSCD 北大核心 2022年第6期971-978,共8页
NAND Flash存储器以其容量大、成本低和速度快的优势,在嵌入式系统中得到广泛的应用。但是,由于NAND Flash固有的器件特性,必须要有驱动才能对其进行读写,存储于其上的代码不能直接执行,因此其并不适合作为系统启动代码的存储介质。一... NAND Flash存储器以其容量大、成本低和速度快的优势,在嵌入式系统中得到广泛的应用。但是,由于NAND Flash固有的器件特性,必须要有驱动才能对其进行读写,存储于其上的代码不能直接执行,因此其并不适合作为系统启动代码的存储介质。一般采用NOR Flash存储启动代码并直接执行,然后再引导存储于NAND Flash中的操作系统镜像,这增大了系统成本和功耗。设计并实现了一种基于NAND Flash的CPU安全启动方法。该方法首先通过软硬件结合的方式,在片内NAND Flash控制器中增加块映射表结构,并由NAND Flash中第1块空间存储的代码进行好块寻找和块映射表填写,使NAND Flash的一部分存储空间可以直接映射为硬件可访问的内存空间,从而使得NAND Flash可以作为系统启动的存储介质,实现仅需NAND Flash存储的系统。还提出了一种扩展BootROM的方案,结合NAND Flash地址映射结构,将片内BootROM的一部分扩展到NAND Flash的第1块存储空间中,并通过Hash比对验证BootROM,从而有效降低了片内BootROM的设计复杂度,减少了代码量。通过提出的方法,可以有效地实现单NAND Flash系统的安全启动,降低了系统成本,提高了系统的安全特性。 展开更多
关键词 安全启动 nand flash 微处理器 嵌入式系统 可信根
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一种基于RCRF+BCH算法的NAND FLASH纠错方案的FPGA设计与实现 被引量:3
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作者 刘洋 李杰 +2 位作者 李金强 李炳臻 赵计贺 《空军工程大学学报(自然科学版)》 CSCD 北大核心 2020年第6期46-52,共7页
针对目前NAND FLASH随着使用时间的增长误码率随之增高的特性,提出了一种在使用更少校验位的情况下纠错能力更强的高速并行RCRF+BCH纠错方案,初步用RCRF的思想对部分初始擦除错误进行纠正,然后级联BCH码纠正剩余的位错,很好地保证数据... 针对目前NAND FLASH随着使用时间的增长误码率随之增高的特性,提出了一种在使用更少校验位的情况下纠错能力更强的高速并行RCRF+BCH纠错方案,初步用RCRF的思想对部分初始擦除错误进行纠正,然后级联BCH码纠正剩余的位错,很好地保证数据的准确性,显著提高存储系统的可靠性。首先详细阐述了该高速并行算法的编译码原理和执行步骤,在BCH部分中使用消耗更少硬件资源的无求逆的iBM关键方程求解算法,然后推导出错误位置多项式不同路径的几种确定形式,方便应用组合逻辑对其进行描述,避免了复杂的迭代判断过程,进一步提高了译码速度,并采用模块化的处理方式和流水线的操作模式优化了BCH的编译码结构。最终在FPGA平台硬件实现并仿真验证了此方案的有效性。 展开更多
关键词 纠错系统 Reset-Check-Reverse-Flag算法 Bose-Chaudhuri-Hocquenghem nand flash
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一种基于虚拟页地址映射的NAND Flash管理算法 被引量:3
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作者 许娜 彭飞 +2 位作者 谭彦亮 苗志富 曹梦丹 《空间控制技术与应用》 CSCD 北大核心 2020年第3期60-65,共6页
本文提出了一种基于虚拟页地址映射的NAND Flash管理算法.该算法通过定义坏块表、对应表等结构,以及设计的坏块替换策略和虚拟页地址到实际物理页地址的转换算法,实现上层软件采用虚拟地址对NAND Flash的无坏块连续页地址访问.该算法是... 本文提出了一种基于虚拟页地址映射的NAND Flash管理算法.该算法通过定义坏块表、对应表等结构,以及设计的坏块替换策略和虚拟页地址到实际物理页地址的转换算法,实现上层软件采用虚拟地址对NAND Flash的无坏块连续页地址访问.该算法是一种高效的地址映射算法,能高效地对数据进行索引,占用SRAM空间较少,使系统达到高性能,并使得闪存使用的更加稳定持久. 展开更多
关键词 nand flash 虚拟页 地址映射
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NAND flash图像记录系统坏块管理关键技术 被引量:13
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作者 徐永刚 任国强 +1 位作者 吴钦章 张峰 《红外与激光工程》 EI CSCD 北大核心 2012年第4期1101-1106,共6页
提出了NAND flash型高速大容量图像记录系统的高效坏块管理方案。针对坏块表的快速检索和可靠存储问题,提出了基于位索引的坏块信息快速检索结构;为解决坏块快速匹配问题,提出了基于滑动窗口的无效块预匹配机制;对于突发坏块造成写入速... 提出了NAND flash型高速大容量图像记录系统的高效坏块管理方案。针对坏块表的快速检索和可靠存储问题,提出了基于位索引的坏块信息快速检索结构;为解决坏块快速匹配问题,提出了基于滑动窗口的无效块预匹配机制;对于突发坏块造成写入速度下降问题,提出了滞后回写机制。系统架构全部用硬件方式在FPGA中实现,实验结果表明:检索8个物理块坏块信息仅耗时2个时钟周期;预匹配和正确物理地址生成耗时都为0个时钟周期;突发坏块发生时系统写入速度不受影响,滞后写回在最差情况下耗时也仅22.280 36 ms;系统持续写入速度最大为848.65 MB/s,读取速度为1 265.5 MB/s,擦除速度为9 120.245 MB/s,系统存储容量为160 GB,坏块管理保留容量为8 GB,纠错能力为1 bit/512 B。 展开更多
关键词 nand flash 坏块管理 交叉写入 FPGA 图像记录
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基于NAND Flash的高速大容量存储系统的设计 被引量:11
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作者 赵亚慧 金龙旭 +2 位作者 陶宏江 韩双丽 张敏 《电光与控制》 北大核心 2016年第5期71-75,79,共6页
针对空间相机地面检测设备数据信息量大、存储速度快的特点,采用性能优良的NAND型Flash为存储介质,FPGA为控制核心,实现了高速大容量存储系统的设计。针对数据存储速度的提升,引入双plane操作、并行及流水线的方式控制Flash阵列。通过对... 针对空间相机地面检测设备数据信息量大、存储速度快的特点,采用性能优良的NAND型Flash为存储介质,FPGA为控制核心,实现了高速大容量存储系统的设计。针对数据存储速度的提升,引入双plane操作、并行及流水线的方式控制Flash阵列。通过对Flash芯片中坏块特点的研究,引入了坏块管理部分。实验结果表明,该系统能够完成空间相机大量原始数据的高速记录工作,保证了数据记录的实时性及可靠性。 展开更多
关键词 航空电子 空间相机 地面检测设备 存储系统 nand flash 并行技术
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NAND Flash控制器硬件设计与仿真验证 被引量:6
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作者 冉计全 郭林 +3 位作者 张三刚 马捷中 翟正军 郭阳明 《西北工业大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2017年第2期304-309,共6页
NAND Flash存储芯片的整体性能,在很大程度上会受到NAND Flash控制器的影响。为此在对NAND Flash的存储结构和接口进行仔细分析的基础上,设计了控制器的硬件功能,确定了各个命令执行时的设备状态转换关系,并在仿真环境下,利用NAND Flas... NAND Flash存储芯片的整体性能,在很大程度上会受到NAND Flash控制器的影响。为此在对NAND Flash的存储结构和接口进行仔细分析的基础上,设计了控制器的硬件功能,确定了各个命令执行时的设备状态转换关系,并在仿真环境下,利用NAND Flash控制器进行存储介质的读写及擦除等操作,全面验证了控制器的功能。结果表明,控制器工作正常,符合设计目标。 展开更多
关键词 nand flash 控制器 存储结构 接口
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大容量NAND Flash文件系统中的地址映射算法研究 被引量:7
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作者 时正 陈香兰 +1 位作者 纪金松 龚育昌 《小型微型计算机系统》 CSCD 北大核心 2010年第1期155-159,共5页
随着Flash芯片容量的日益增长,如何设计低空间复杂度的Flash管理算法已经成为RAM空间受限的嵌入式存储系统的一个关键问题.本文根据文件在Flash介质上连续存放的特性,引入区段的概念,提出基于极大映射区段的地址映射算法,并使用简单的... 随着Flash芯片容量的日益增长,如何设计低空间复杂度的Flash管理算法已经成为RAM空间受限的嵌入式存储系统的一个关键问题.本文根据文件在Flash介质上连续存放的特性,引入区段的概念,提出基于极大映射区段的地址映射算法,并使用简单的数据结构和高效的算法来维护映射中的区段,大大减小了Flash文件系统的RAM用量.最后,通过不同应用负载的实验验证了该算法的有效性.在部分应用负载下,可降低高达95%的RAM使用量. 展开更多
关键词 nand flash 文件系统 地址映射算法 嵌入式系统
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基于NAND FLASH的多路并行存储系统中坏块策略的研究 被引量:9
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作者 贾源泉 肖侬 +1 位作者 赖明澈 欧洋 《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 2012年第S1期68-72,共5页
大规模固态闪存系统可以引入多路并行技术来支持高速数据传输,但随着闪存存储容量增加也需要采取有效的坏块处理机制来解决严重的坏块访存问题.面向NAND FLASH多路并行固态存储系统,提出了一种高效坏块管理策略,采取并行存储坏块编码技... 大规模固态闪存系统可以引入多路并行技术来支持高速数据传输,但随着闪存存储容量增加也需要采取有效的坏块处理机制来解决严重的坏块访存问题.面向NAND FLASH多路并行固态存储系统,提出了一种高效坏块管理策略,采取并行存储坏块编码技术来节约坏块表存储空间,减少坏块处理功耗,同时采取坏块表重构处理技术有效解决了系统中的同位置坏块难题.针对四路并行的NAND FLASH存储系统,实验结果表明:该策略节约了25%的坏块表RAM存储空间,提高了约1.5倍的查询效率,降低了约30%的坏块处理功耗,并对并行存储数量具有良好的可扩展性. 展开更多
关键词 nand flash 多路并行存储系统 坏块处理策略
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模式可配置的NAND Flash纠错系统设计与实现 被引量:5
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作者 徐富新 刘应 +1 位作者 刘雁群 向超 《中南大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第5期1918-1925,共8页
针对NAND flash存储器设计一种模式可配置的纠错系统的电路结构,该结构可以预防错误位数大于设计纠错位数的情况发生。提出一种高速并行BCH编译码的电路设计方法,并导出一种无需有限域求逆运算的BM迭代算法的硬件实现方法。通过复用编... 针对NAND flash存储器设计一种模式可配置的纠错系统的电路结构,该结构可以预防错误位数大于设计纠错位数的情况发生。提出一种高速并行BCH编译码的电路设计方法,并导出一种无需有限域求逆运算的BM迭代算法的硬件实现方法。通过复用编码算法电路与译码算法电路,同时结合流水线技术与乒乓操作技术,实现以较小的硬件资源开销提高纠错系统性能。该纠错系统电路在EP4CE15E22C8系列FPGA芯片上实现,并进行测试分析。测试结果表明:在相同的系统工作频率下,该纠错系统电路的数据吞吐率是传统串行纠错电路的8倍,而硬件资源开销只增加1倍;与传统的NAND flash纠错电路相比,该纠错电路结构相对独立,可移植性强,可满足多种应用场合的需要。 展开更多
关键词 nand flash存储器 纠错电路 可配置模式 BCH码 现场可编程门阵列
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一种新型NAND Flash坏块管理算法的研究与实现 被引量:8
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作者 乔立岩 张鹏 +1 位作者 魏德宝 王世元 《电子测量技术》 2015年第11期37-41,共5页
本文在研究NAND Flash常用坏块管理方法的基础上,提出了一种基于FPGA的NAND Flash坏块管理方案。该方案运用坏块替换策略,将所有块分为数据块区和好块保留区,通过在FPGA片内RAM建立基于位索引的坏块位标记表BBT(bad block table)和块保... 本文在研究NAND Flash常用坏块管理方法的基础上,提出了一种基于FPGA的NAND Flash坏块管理方案。该方案运用坏块替换策略,将所有块分为数据块区和好块保留区,通过在FPGA片内RAM建立基于位索引的坏块位标记表BBT(bad block table)和块保留映射表RTT(reserved translate table)实现坏块的识别和替换,同时将两表保存于NAND Flash中,保证了坏块信息的非易失存储和坏块查询的高速性能。本方案全面考虑了坏块产生、坏块识别、坏块信息存储、坏块高速替换,是坏块管理的完整解决方案。经实验表明该方案具有坏块信息容量小、替换速度快、实现可靠等优点。 展开更多
关键词 nand flash 坏块管理 FPGA逻辑设计
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基于缩短极化码的MLC NAND Flash差错控制技术研究 被引量:6
13
作者 郭锐 王美洁 王杰 《电子与信息学报》 EI CSCD 北大核心 2017年第7期1658-1665,共8页
为了提高MLC NAND Flash的抗误码性能,该文提出一种基于优化缩短极化码的MLC NAND Flash差错控制方法。优化缩短极化码通过优化删减图样得到,首先通过比特翻转重排序的方式得到基本删减图样,进而选择具有更低信道容量的冻结比特组成优... 为了提高MLC NAND Flash的抗误码性能,该文提出一种基于优化缩短极化码的MLC NAND Flash差错控制方法。优化缩短极化码通过优化删减图样得到,首先通过比特翻转重排序的方式得到基本删减图样,进而选择具有更低信道容量的冻结比特组成优化删减图样,使得到的删减比特全为冻结比特,可以显著提高删减算法的纠错性能。同时,根据MLC单元错误的不对称性,采用码率自适应的码字对FLASH中MSB和LSB进行不等错误保护。仿真结果表明:当误帧率为310-时,优化缩短极化码较相同码长的LDPC码和基本缩短极化码分别约有3.72~5.89 d B和1.47~3.49 d B增益;相比基于同一码率的优化缩短极化码方案,不等错误保护的差错控制方案获得约0.25 d B增益。 展开更多
关键词 极化码 多层单元 nand flash 缩短码 不等错误保护
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NAND Flash图像记录系统底层写入控制技术 被引量:3
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作者 徐永刚 任国强 +1 位作者 吴钦章 孙健 《光电工程》 CAS CSCD 北大核心 2012年第9期138-144,共7页
为提高图像记录系统中NAND flash阵列的存储带宽,分别研究和实现了NAND flash的片内交叉写入、片内并行写入和片内交叉并行写入控制技术,在此基础上提出了片内交叉写入和片外2级流水线结合的写入方法,该方法利用两组NAND flash片内交叉... 为提高图像记录系统中NAND flash阵列的存储带宽,分别研究和实现了NAND flash的片内交叉写入、片内并行写入和片内交叉并行写入控制技术,在此基础上提出了片内交叉写入和片外2级流水线结合的写入方法,该方法利用两组NAND flash片内交叉写入的命令地址和数据加载时间来填补烧写时间。最后用硬件方式在FPGA中分别实现了上述各种写入控制方式的控制器。实验结果表明:本文实现的片内并行写入和片内交叉并行写入是普通写入方式速度的1.48903倍和3.27706倍,而本文提出的写入控制方法的写入速度是普通写入方式的3.96038倍,高于片外4级流水线的性能情况下,将FPGA管脚资源占用节省20%,有效降低了成本和记录系统实现难度。 展开更多
关键词 交叉写入 流水线 nand flash控制器 FPGA
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基于NAND Flash的FFS设计与实现 被引量:7
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作者 沈建华 罗悦怿 《计算机应用与软件》 CSCD 北大核心 2005年第6期87-89,共3页
NANDFlash以其大容量低价格等优势迅速成为嵌入式系统存储的新宠,因此研究其上的文件系统也日益重要。本文先分析了NANDFlash上FFS的功能结构,然后给出了一个在无OS支持的嵌入式系统中,可与Windows文件系统完全兼容的FFS的设计和实现方案。
关键词 flash nand FFS 设计与实现 Windows 嵌入式系统 文件系统 功能结构 实现方案 低价格 大容量 全兼容 OS
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大容量NAND Flash文件系统转换层优化设计 被引量:5
16
作者 张辉 晏益慧 罗宇 《计算机工程与科学》 CSCD 北大核心 2011年第4期81-85,共5页
针对基于NAND Flash转换层(NFTL)架构的Flash文件系统在大容量NAND Flash设备上存在的性能不足,本文分析了NFTL的存储管理机制,基于vxworks嵌入式系统平台提出了对NFTL模块的优化设计方法并进行了具体实现。实验表明,优化后的NFTL模块... 针对基于NAND Flash转换层(NFTL)架构的Flash文件系统在大容量NAND Flash设备上存在的性能不足,本文分析了NFTL的存储管理机制,基于vxworks嵌入式系统平台提出了对NFTL模块的优化设计方法并进行了具体实现。实验表明,优化后的NFTL模块有效提高了文件系统的读写性能,缩短了加载时间。 展开更多
关键词 nand flash flash转换层 VXWORKS 文件系统
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基于NAND Flash的嵌入式文件系统的改进与优化 被引量:10
17
作者 杨春林 雷航 《计算机应用》 CSCD 北大核心 2007年第12期3102-3104,共3页
以NAND Flash为介质的嵌入式文件系统主要存在两方面的不足:启动加载过长、对磨损平衡考虑不足。针对这两点不足,实现了一个新的NAND Flash文件系统,它通过改变数据节点的管理,将文件的控制信息和数据信息分开存储,缩短了启动加载时间;... 以NAND Flash为介质的嵌入式文件系统主要存在两方面的不足:启动加载过长、对磨损平衡考虑不足。针对这两点不足,实现了一个新的NAND Flash文件系统,它通过改变数据节点的管理,将文件的控制信息和数据信息分开存储,缩短了启动加载时间;通过在垃圾回收时使擦除块交替存储冷热数据,实现了各擦除块间的磨损平衡。 展开更多
关键词 嵌入式文件系统 nand flash YAFFS
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一种NAND Flash坏块管理优化方法的实现 被引量:10
18
作者 乔立岩 李元亨 +1 位作者 王戈 徐红伟 《电子测量技术》 2015年第7期19-21,26,共4页
由于高速数据采集系统中数据传输的高速性,系统后端需要保证高速的数据存储速度。在基于NAND Flash的存储系统中,提出了一种以页为单元跳过和替换坏块的NAND Flash坏块管理方法。与传统的以块为单位处理坏块的方法不同,此方法保证了不... 由于高速数据采集系统中数据传输的高速性,系统后端需要保证高速的数据存储速度。在基于NAND Flash的存储系统中,提出了一种以页为单元跳过和替换坏块的NAND Flash坏块管理方法。与传统的以块为单位处理坏块的方法不同,此方法保证了不会因为坏块的出现而大幅降低写入速度,提高了Flash存储资源的利用率,并且降低了缓存资源的占用。此设计应用在一个基于FPGA的高速数据采集系统中,测试表明该方法能够正确处理NAND Flash的相关坏块问题,在坏块出现时使存储的瞬时速度几乎保持不变,并且具有较高的稳定性。 展开更多
关键词 nand flash 坏块管理方法 高速数据传输
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NAND Flash存储控制器的软硬件划分设计 被引量:7
19
作者 沈浩 付宇卓 《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心 2004年第24期168-170,185,共4页
介绍了现代数码产品中NANDFlashMemory控制器的基本控制和4种软硬件划分不同的控制器设计。作者用VerilogHDL语言分别实现了这4种不同的控制器的,并进行了硬件面积、DSP占用率和接口灵活性的量化比较,指出了各种方案适用的范围。通过对... 介绍了现代数码产品中NANDFlashMemory控制器的基本控制和4种软硬件划分不同的控制器设计。作者用VerilogHDL语言分别实现了这4种不同的控制器的,并进行了硬件面积、DSP占用率和接口灵活性的量化比较,指出了各种方案适用的范围。通过对一个SOC项目的需要分析,设定了基准函数,从而选出了合适的软硬件划分方案。 展开更多
关键词 nand flash Memory控制器 SOC外围设备设计 软硬件划分
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重离子辐照引发的25 nm NAND Flash存储器数据位翻转
20
作者 盛江坤 许鹏 +6 位作者 邱孟通 丁李利 罗尹虹 姚志斌 张凤祁 缑石龙 王祖军 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2023年第12期2264-2273,共10页
为研究不同注量下浮栅存储单元位翻转特点及其翻转截面变化,以及重离子入射导致的多单元翻转,以两款25 nm NAND Flash存储器为载体开展了重离子实验研究。实验结果表明,单个重离子在击中存储单元灵敏体积的情况下足以引起位翻转,位翻转... 为研究不同注量下浮栅存储单元位翻转特点及其翻转截面变化,以及重离子入射导致的多单元翻转,以两款25 nm NAND Flash存储器为载体开展了重离子实验研究。实验结果表明,单个重离子在击中存储单元灵敏体积的情况下足以引起位翻转,位翻转比率随着注量累积基本呈线性变化。由于处于编程状态阈值电压分布低压区的存储单元倾向于在相邻或靠近的地址上集中分布,随着注量累积,这类存储单元数量迅速减少,而其他大量存储单元的翻转数增长率变化不明显,因此位翻转截面随注量累积呈下降趋势。重离子导致两款器件出现多单元翻转,多单元翻转呈现单列、双列以及列间隔等结构。利用离子电离径迹模型估算得到离子电离有效径迹半径,可以判定多单元翻转是由于一个离子的电离有效径迹覆盖了多个存储单元。 展开更多
关键词 nand flash 浮栅 重离子辐照 注量相关性 多单元翻转
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