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SCANGIN:一种降低扫描测试中动态功耗的方法
被引量：
1
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作者
李佳
胡瑜
+1 位作者
李晓维
王伟
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2006年第9期1391-1396,共6页
通过调整扫描链上扫描单元顺序与逻辑门插入相结合,以减少扫描移入阶段扫描链上不必要的状态跳变,从而达到降低测试中电路动态功耗的目的.在ISCAS’89基准电路上进行的实验表明,该方法最多能将扫描移入阶段峰值功耗降低94.5%,平均功耗降...
通过调整扫描链上扫描单元顺序与逻辑门插入相结合,以减少扫描移入阶段扫描链上不必要的状态跳变,从而达到降低测试中电路动态功耗的目的.在ISCAS’89基准电路上进行的实验表明,该方法最多能将扫描移入阶段峰值功耗降低94.5%,平均功耗降低93.8%,而面积开销可以忽略不计.
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关键词
可测试性设计
动态功耗
扫描链
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职称材料
多链扫描可测性设计中扫描链的选取
被引量：
2
2
作者
叶波
韦和民
郑增钰
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1997年第2期11-15,共5页
本文提出了多链扫描可测性设计中扫描链的构造方法．根据电路的规模、输人／输出管脚数及测试时间的要求确定扫描链个数，引人临界时间的概念，采用动态编程的方法确定每条链中的扫描触发器．采用该方法，计算速度比传统方法显著提高，...
本文提出了多链扫描可测性设计中扫描链的构造方法．根据电路的规模、输人／输出管脚数及测试时间的要求确定扫描链个数，引人临界时间的概念，采用动态编程的方法确定每条链中的扫描触发器．采用该方法，计算速度比传统方法显著提高，同时节省了存储空间．
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关键词
VLSI
多链扫描
可测性设计
扫描链
在线阅读
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职称材料
题名
SCANGIN:一种降低扫描测试中动态功耗的方法
被引量：
1
1
作者
李佳
胡瑜
李晓维
王伟
机构
中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室
出处
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2006年第9期1391-1396,共6页
基金
国家重点基础研究发展规划项目(2005CB321604)
国家自然科学基金(90207002)
+1 种基金
中国科学院计算技术研究所基金(20056330
20056600-16)
文摘
通过调整扫描链上扫描单元顺序与逻辑门插入相结合,以减少扫描移入阶段扫描链上不必要的状态跳变,从而达到降低测试中电路动态功耗的目的.在ISCAS’89基准电路上进行的实验表明,该方法最多能将扫描移入阶段峰值功耗降低94.5%,平均功耗降低93.8%,而面积开销可以忽略不计.
关键词
可测试性设计
动态功耗
扫描链
Keywords
design for testability
dynamic
power dissipation
scan
chain
分类号
TP391.72 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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职称材料
题名
多链扫描可测性设计中扫描链的选取
被引量：
2
2
作者
叶波
韦和民
郑增钰
机构
复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室
出处
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1997年第2期11-15,共5页
文摘
本文提出了多链扫描可测性设计中扫描链的构造方法．根据电路的规模、输人／输出管脚数及测试时间的要求确定扫描链个数，引人临界时间的概念，采用动态编程的方法确定每条链中的扫描触发器．采用该方法，计算速度比传统方法显著提高，同时节省了存储空间．
关键词
VLSI
多链扫描
可测性设计
扫描链
Keywords
multiple scan
,
design for testability
,
dynamic programming
,
scan chains
分类号
TN470.2 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
SCANGIN:一种降低扫描测试中动态功耗的方法
李佳
胡瑜
李晓维
王伟
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2006
1
在线阅读
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职称材料
2
多链扫描可测性设计中扫描链的选取
叶波
韦和民
郑增钰
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1997
2
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