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利用Mirau显微干涉仪测量微器件的纳米级运动 被引量:8
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作者 郭彤 胡春光 +4 位作者 胡晓东 栗大超 金翠云 傅星 胡小唐 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第10期1542-1545,共4页
描述了一种用于微机电系统(MEMS)纳米级微运动测量的Mirau显微干涉系统.该系统利用商业化的Mirau显微干涉仪,它直接安装在光学显微镜上,用于测量一个表面微加工水平谐振器的三维运动.面内运动取决于亮场在最佳焦平面处的图像,而离面运... 描述了一种用于微机电系统(MEMS)纳米级微运动测量的Mirau显微干涉系统.该系统利用商业化的Mirau显微干涉仪,它直接安装在光学显微镜上,用于测量一个表面微加工水平谐振器的三维运动.面内运动取决于亮场在最佳焦平面处的图像,而离面运动则取决于频闪得到的干涉图像,该图像在物镜纳米定位器的8个不同位置处得到.实验结果表明了系统进行面内和离面运动测量的纳米级分辨力. 展开更多
关键词 机电系统 mirau显微干涉仪 面内运动 离面运动 频闪照明
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基于双频激光干涉仪的显微模板精密测量 被引量:1
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作者 薛媛 陈青山 +1 位作者 刘力双 吕勇 《应用光学》 CAS CSCD 北大核心 2015年第2期259-265,共7页
为了对光纤阵列测量的高精度显微模板进行精密检测,采用双频激光干涉仪结合显微视觉系统,通过骨架化、腐蚀法、质心法等算法对显微图像进行计算处理,实现模板特征刻线的提取与精确定位。对模板上8条刻度线之间的间距分别进行重复测量和... 为了对光纤阵列测量的高精度显微模板进行精密检测,采用双频激光干涉仪结合显微视觉系统,通过骨架化、腐蚀法、质心法等算法对显微图像进行计算处理,实现模板特征刻线的提取与精确定位。对模板上8条刻度线之间的间距分别进行重复测量和组合测量,实验结果表明重复测量的标准偏差不大于0.07μm,组合测量的标准偏差不大于0.04μm。介绍了测量系统构成与工作原理,并对测量过程进行了精度分析,分析结果表明测量过程的极限误差不大于0.10μm。 展开更多
关键词 视觉 双频激光干涉仪 光纤阵列 精密测量
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20^(×) Mirau型白光干涉显微物镜的设计 被引量:2
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作者 陈卉 《激光与红外》 CAS CSCD 北大核心 2022年第9期1402-1406,共5页
对于具有动态特性的MEMS陀螺仪表面形貌的检测,采用传统接触式检测方式难以实现。本文设计一款无限远场校正的20^(×) Mirau型白光干涉显微物镜成像系统,实现对MEMS陀螺仪无接触式的表面缺陷检测。系统工作于可见光波段,数值孔径NA=... 对于具有动态特性的MEMS陀螺仪表面形貌的检测,采用传统接触式检测方式难以实现。本文设计一款无限远场校正的20^(×) Mirau型白光干涉显微物镜成像系统,实现对MEMS陀螺仪无接触式的表面缺陷检测。系统工作于可见光波段,数值孔径NA=0.3,放大倍率为20倍,工作距离3.1 mm,总体长度为45.85 mm。系统包含光学成像部分和Mirau型干涉部分,光学成像部分的成像质量接近衍射极限,各项设计指标均满足要求;通过VirtualLab软件对干涉物镜进行光路的干涉仿真并得到清晰的干涉条纹,验证了设计的合理性。 展开更多
关键词 白光干涉 物镜 mirau 光学设计
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激光双光路显微干涉仪
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作者 陈瑜 《四川激光》 1981年第A02期79-79,共1页
本文介绍了一种激光显微干涉仪器,它的基本原理和结构是:借助沙敏干涉仅的结构,可得到等光程的双光路测量系统;采用He-Ne激光(TEM00模)做光源,为了能观察到微小光学材料或介质材料的光学性能,在等光程的一个光路中置入样品,则... 本文介绍了一种激光显微干涉仪器,它的基本原理和结构是:借助沙敏干涉仅的结构,可得到等光程的双光路测量系统;采用He-Ne激光(TEM00模)做光源,为了能观察到微小光学材料或介质材料的光学性能,在等光程的一个光路中置入样品,则视场中将出现样品引起的干涉图案,此外,又设置了显微系统进行观察,必要时还可对图象摄影记录。 展开更多
关键词 HE-NE激光 干涉 干涉仪 双光路 TEM00模 测量系统 光学性能 介质材料 光学材料 系统
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显微剪切干涉表面粗糙度轮廓测量 被引量:1
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作者 刘晓军 高咏生 《中国测试技术》 CAS 2004年第2期3-5,共3页
介绍一种显微剪切干涉仪 ,其基于剪切干涉是自干涉 ,因而具有相当的抗环境干扰和抗振动的特性 ,结合剪切干涉技术与显微干涉技术 ,实现制造环境下表面粗糙度精密测量。本文介绍了该显微剪切干涉仪的原理 ,给出了实验结果。
关键词 剪切干涉 干涉 抗振 表面粗糙度 精密测量 剪切干涉仪
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测量透明颗粒形状及变形的显微干涉系统
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作者 赵兵 方如华 《同济大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第12期1627-1630,共4页
结合激光干涉及图像处理技术研究测量透明颗粒形状及监测其变形的光学系统 ;对共路偏光干涉仪进行改进 ,使之更好地测量由温度场变化引起的小试件变形 ;对柱及球形试件进行理论和数值分析及实验研究 .
关键词 偏光干涉仪 透明颗粒 共路干涉 图像处理
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白光干涉表面结构测量仪的优化设计与应用 被引量:4
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作者 王生怀 王淑珍 +1 位作者 陈育荣 谢铁邦 《仪表技术与传感器》 CSCD 北大核心 2010年第2期22-27,共6页
为测量微机电系统的表面结构,研制了一种基于白光干涉法的表面结构测量仪。设计了显微干涉仪,通过实验分析了显微干涉仪关键设计参数中的光源带宽、物镜数值孔径、孔径光阑大小对垂直扫描白光显微干涉测量中干涉条纹光强分布的影响;设计... 为测量微机电系统的表面结构,研制了一种基于白光干涉法的表面结构测量仪。设计了显微干涉仪,通过实验分析了显微干涉仪关键设计参数中的光源带宽、物镜数值孔径、孔径光阑大小对垂直扫描白光显微干涉测量中干涉条纹光强分布的影响;设计了Z向一维位移工作台,提出了一种以显微干涉图像灰度值归一化标准方差为依据的白光干涉测量条纹自动搜索定位方法。相关实验结果为白光干涉表面结构测量仪的优化设计提供了参考依据。 展开更多
关键词 干涉仪 白光干涉 光源 数值孔径 孔径光阑
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