期刊导航
期刊开放获取
上海教育软件发展有限公..
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
2
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
基于FPGA的FLASH存储器三温功能测试系统设计
被引量：
3
1
作者
侯晓宇
郭贺
常艳昭
《现代电子技术》
北大核心
2024年第4期39-42,共4页
由于大容量FLASH存储器全地址功能测试时间较长,在自动化测试设备(ATE)上进行高低温测试时,长时间使用热流罩会导致测试设备运行异常。为把存储器测试过程中耗时最长的全地址功能测试部分从ATE机台上分离出来,设计一个基于FPGA的驱动板...
由于大容量FLASH存储器全地址功能测试时间较长,在自动化测试设备(ATE)上进行高低温测试时,长时间使用热流罩会导致测试设备运行异常。为把存储器测试过程中耗时最长的全地址功能测试部分从ATE机台上分离出来,设计一个基于FPGA的驱动板卡,结合MSCAN和Checkerboard算法实现了对被测芯片激励信号的施加;然后,设计一个12工位的驱动板卡,实现了在三温条件下的多芯片同步测试;接着,设计一个基于Qt的上位机软件,实现了对测试结果的实时显示与存储;最后,对2 GB大容量FLASH存储器进行测试验证。测试结果表明,与传统的ATE测试相比,基于驱动板和工位板的测试系统可实现对大容量FLASH的全地址功能的高低温测试,且工位板具有的高可扩展性可实现多芯片的同步测试,大幅提高了测试效率。
展开更多
关键词
FPGA
FLASH存储器
三温测试
自动化测试设备
mscan
多工位测试
在线阅读
下载PDF
职称材料
支持IEEE1149.7标准的边界扫描控制器的设计与研究
被引量：
1
2
作者
颜学龙
尹亮亮
陈寿宏
《现代电子技术》
北大核心
2017年第4期147-150,共4页
为解决复杂芯片的测试与调试问题,提出支持IEEE 1149.7标准的边界扫描控制器。在对IEEE 1149.7标准和边界扫描测试技术进行深入研究的基础上,利用上位机进行软件编程,通过QuartusⅡ平台进行IP核的开发,成功设计出了支持IEEE 1149.7标准...
为解决复杂芯片的测试与调试问题,提出支持IEEE 1149.7标准的边界扫描控制器。在对IEEE 1149.7标准和边界扫描测试技术进行深入研究的基础上,利用上位机进行软件编程,通过QuartusⅡ平台进行IP核的开发,成功设计出了支持IEEE 1149.7标准的边界扫描测试控制器。实验结果表明,控制器能够产生符合IEEE 1149.7标准的两线星型信号和四线输出信号。
展开更多
关键词
IEEE1149.7标准
USB总线
mscan
扫描格式
边界扫描控制器
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
基于FPGA的FLASH存储器三温功能测试系统设计
被引量：
3
1
作者
侯晓宇
郭贺
常艳昭
机构
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出处
《现代电子技术》
北大核心
2024年第4期39-42,共4页
文摘
由于大容量FLASH存储器全地址功能测试时间较长,在自动化测试设备(ATE)上进行高低温测试时,长时间使用热流罩会导致测试设备运行异常。为把存储器测试过程中耗时最长的全地址功能测试部分从ATE机台上分离出来,设计一个基于FPGA的驱动板卡,结合MSCAN和Checkerboard算法实现了对被测芯片激励信号的施加;然后,设计一个12工位的驱动板卡,实现了在三温条件下的多芯片同步测试;接着,设计一个基于Qt的上位机软件,实现了对测试结果的实时显示与存储;最后,对2 GB大容量FLASH存储器进行测试验证。测试结果表明,与传统的ATE测试相比,基于驱动板和工位板的测试系统可实现对大容量FLASH的全地址功能的高低温测试,且工位板具有的高可扩展性可实现多芯片的同步测试,大幅提高了测试效率。
关键词
FPGA
FLASH存储器
三温测试
自动化测试设备
mscan
多工位测试
Keywords
FPGA
FLASH memory
three-temperature test
automated test equipment
mscan
multi-site test
分类号
TN307-34 [电子电信—物理电子学]
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
支持IEEE1149.7标准的边界扫描控制器的设计与研究
被引量：
1
2
作者
颜学龙
尹亮亮
陈寿宏
机构
桂林电子科技大学电子工程与自动化学院
广西自动检测技术与仪器重点实验室
出处
《现代电子技术》
北大核心
2017年第4期147-150,共4页
基金
广西自动检测技术与仪器重点实验室基金项目(YQ15101)
文摘
为解决复杂芯片的测试与调试问题,提出支持IEEE 1149.7标准的边界扫描控制器。在对IEEE 1149.7标准和边界扫描测试技术进行深入研究的基础上,利用上位机进行软件编程,通过QuartusⅡ平台进行IP核的开发,成功设计出了支持IEEE 1149.7标准的边界扫描测试控制器。实验结果表明,控制器能够产生符合IEEE 1149.7标准的两线星型信号和四线输出信号。
关键词
IEEE1149.7标准
USB总线
mscan
扫描格式
边界扫描控制器
Keywords
IEEE Std 1149.7
USB bus
mscan
scanning format
boundary scan controller
分类号
TN820.2-34 [电子电信—信息与通信工程]
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于FPGA的FLASH存储器三温功能测试系统设计
侯晓宇
郭贺
常艳昭
《现代电子技术》
北大核心
2024
3
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
支持IEEE1149.7标准的边界扫描控制器的设计与研究
颜学龙
尹亮亮
陈寿宏
《现代电子技术》
北大核心
2017
1
在线阅读
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部
