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MOSFET亚阈特性分析与低温按比例缩小理论的研究
1
作者
吴金
魏同立
于宗光
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1995年第11期26-30,共5页
器件尺寸按比例缩小是实现超大规模集成电路的有效途径,但寄生和二级效应却将器件尺寸限在一定的水平。本文在对比分析常温与低温下小尺寸器件效应的基础上,重点研究了MOS器件亚阈特性对器件性能及按比例缩小的影响,并根据低温工...
器件尺寸按比例缩小是实现超大规模集成电路的有效途径,但寄生和二级效应却将器件尺寸限在一定的水平。本文在对比分析常温与低温下小尺寸器件效应的基础上,重点研究了MOS器件亚阈特性对器件性能及按比例缩小的影响,并根据低温工作的特点,提出了MOS器件一种低温按比例缩小规则,该原则对低温器件的优化设计,从而更大程度地提高电路与系统性能具有重要的指导意义。
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关键词
mosfet
亚阈特性
低温
按比例缩小
场效应器件
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职称材料
题名
MOSFET亚阈特性分析与低温按比例缩小理论的研究
1
作者
吴金
魏同立
于宗光
机构
南京东南大学微电子中心
出处
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1995年第11期26-30,共5页
基金
国家自然科学基金博士点基金
文摘
器件尺寸按比例缩小是实现超大规模集成电路的有效途径,但寄生和二级效应却将器件尺寸限在一定的水平。本文在对比分析常温与低温下小尺寸器件效应的基础上,重点研究了MOS器件亚阈特性对器件性能及按比例缩小的影响,并根据低温工作的特点,提出了MOS器件一种低温按比例缩小规则,该原则对低温器件的优化设计,从而更大程度地提高电路与系统性能具有重要的指导意义。
关键词
mosfet
亚阈特性
低温
按比例缩小
场效应器件
Keywords
mosfet
,
subthreshold behaviour
,
low temperature
,
scale down principles
分类号
TN386.01 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
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1
MOSFET亚阈特性分析与低温按比例缩小理论的研究
吴金
魏同立
于宗光
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1995
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