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MOSFET亚阈特性分析与低温按比例缩小理论的研究
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作者 吴金 魏同立 于宗光 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第11期26-30,共5页
器件尺寸按比例缩小是实现超大规模集成电路的有效途径,但寄生和二级效应却将器件尺寸限在一定的水平。本文在对比分析常温与低温下小尺寸器件效应的基础上,重点研究了MOS器件亚阈特性对器件性能及按比例缩小的影响,并根据低温工... 器件尺寸按比例缩小是实现超大规模集成电路的有效途径,但寄生和二级效应却将器件尺寸限在一定的水平。本文在对比分析常温与低温下小尺寸器件效应的基础上,重点研究了MOS器件亚阈特性对器件性能及按比例缩小的影响,并根据低温工作的特点,提出了MOS器件一种低温按比例缩小规则,该原则对低温器件的优化设计,从而更大程度地提高电路与系统性能具有重要的指导意义。 展开更多
关键词 mosfet 亚阈特性 低温 按比例缩小 场效应器件
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