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波长色散X射线荧光光谱法测定纯金中金 被引量:9
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作者 吴奕阳 叶晓珉 方名戌 《理化检验(化学分册)》 CAS CSCD 北大核心 2003年第11期639-640,共2页
应用波长色散X射线荧光光谱法 (WDXRF)对纯金 (金含量为 98.0 0 %~ 99.95 % )中金含量进行定量分析。利用国家标准物质和自行研制的工作标样建立校准曲线 ,采用Lachance Trill浓度校正模式消除吸收 增强效应 ;进行背景修正以提高测低... 应用波长色散X射线荧光光谱法 (WDXRF)对纯金 (金含量为 98.0 0 %~ 99.95 % )中金含量进行定量分析。利用国家标准物质和自行研制的工作标样建立校准曲线 ,采用Lachance Trill浓度校正模式消除吸收 增强效应 ;进行背景修正以提高测低浓度组分的准确度。对样品的测试结果与其它方法结果比较 ,证明此法可行。金含量在 98.0 0 %~ 99.95 %范围内 ,分析结果与其他方法结果的偏差绝对值均小于 0 .10 %。 展开更多
关键词 波长色散X射线荧光光谱法 纯金 背景修正 吸收-增强效应 lachance-trill浓度校正模式
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