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正电子淹没寿命谱学法检测石英片上硬脂酸铅皂膜晶体(LS)质量
被引量：
2
1
作者
史子康
俞贤椿
郑桂英
《激光技术》
CAS
CSCD
1990年第4期35-39,共5页
本文首次用正电子淹没寿命谱学法研究LS晶体质量。发现膜制备工艺对质量影响很大,并分析了影响质量的原因。最后提出了合理的热处理是提高LS晶体质量的一个途径。
关键词
硬脂酸铅
ls晶体
石英片
检测
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题名
正电子淹没寿命谱学法检测石英片上硬脂酸铅皂膜晶体(LS)质量
被引量：
2
1
作者
史子康
俞贤椿
郑桂英
机构
中国科学院福建物质结构研究所
出处
《激光技术》
CAS
CSCD
1990年第4期35-39,共5页
文摘
本文首次用正电子淹没寿命谱学法研究LS晶体质量。发现膜制备工艺对质量影响很大,并分析了影响质量的原因。最后提出了合理的热处理是提高LS晶体质量的一个途径。
关键词
硬脂酸铅
ls晶体
石英片
检测
分类号
TN244 [电子电信—物理电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
正电子淹没寿命谱学法检测石英片上硬脂酸铅皂膜晶体(LS)质量
史子康
俞贤椿
郑桂英
《激光技术》
CAS
CSCD
1990
2
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