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超薄的金属/LB绝缘膜/半导体结构的C—V和I-V特性 被引量:1
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作者 郑茳 林慈 +2 位作者 孟江生 魏同立 韦钰 《电子科学学刊》 CSCD 1990年第4期415-417,共3页
本文研究了超薄的金属/LB绝缘膜/半导体(MLS)结构的C-V和I-V特性,理论分析与实验结果相一致,结论如下:(1)超薄MLS结构具有正常的C-V特性和I-V特性;(2)以LB薄膜作为绝缘层可调整肖特基器件势垒高度。
关键词 lb绝缘薄膜 C-V特性 I-V特性
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