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用于红外晶体双折射测量的单1/4波片法
被引量：
4
1
作者
唐玉国
何淼
+2 位作者
崔继承
巴音贺希格
陈少杰
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2012年第10期2176-2183,共8页
提出了一种基于单1/4波片法的测量方法以实现红外波段光学晶体双折射光程差的精确测量。采用厚度差小于一个周期厚度的两个样品进行比对,有效克服了单1/4波片法测量厚度的限制。依照此原理研制了测试波长为3.39μm的晶体双折射测试设备...
提出了一种基于单1/4波片法的测量方法以实现红外波段光学晶体双折射光程差的精确测量。采用厚度差小于一个周期厚度的两个样品进行比对,有效克服了单1/4波片法测量厚度的限制。依照此原理研制了测试波长为3.39μm的晶体双折射测试设备。应用琼斯矩阵理论,推导了存在主要误差因素时的信号光强解析表达式,并由此分析了起偏器方位角误差、1/4波片定位精度、样品方位角偏差、检偏器旋转定位精度对测量结果的影响,综合评价了本测量方法的精度。实验结果表明,应用研制的设备实测标准1/4波片的双折射光程差误差为0.003 76μm,相对误差为0.44%,满足系统要求。得到的结果表明,采用基于单1/4波片法的新测量方法能够有效、精确测得红外晶体的双折射光程差。
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关键词
红外晶体
双折射测量
单1/4波片法
精度分析
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职称材料
题名
用于红外晶体双折射测量的单1/4波片法
被引量：
4
1
作者
唐玉国
何淼
崔继承
巴音贺希格
陈少杰
机构
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院大学
出处
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2012年第10期2176-2183,共8页
基金
国家创新方法工作计划专项资助项目(No.2008IM040700)
吉林省科技支撑计划资助项目(No.20106011)
文摘
提出了一种基于单1/4波片法的测量方法以实现红外波段光学晶体双折射光程差的精确测量。采用厚度差小于一个周期厚度的两个样品进行比对,有效克服了单1/4波片法测量厚度的限制。依照此原理研制了测试波长为3.39μm的晶体双折射测试设备。应用琼斯矩阵理论,推导了存在主要误差因素时的信号光强解析表达式,并由此分析了起偏器方位角误差、1/4波片定位精度、样品方位角偏差、检偏器旋转定位精度对测量结果的影响,综合评价了本测量方法的精度。实验结果表明,应用研制的设备实测标准1/4波片的双折射光程差误差为0.003 76μm,相对误差为0.44%,满足系统要求。得到的结果表明,采用基于单1/4波片法的新测量方法能够有效、精确测得红外晶体的双折射光程差。
关键词
红外晶体
双折射测量
单1/4波片法
精度分析
Keywords
key words ： infrared crystal
birefringence measurement
Senamont
precision analysis
分类号
O734.2 [理学—晶体学]
O436.3 [机械工程—光学工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
用于红外晶体双折射测量的单1/4波片法
唐玉国
何淼
崔继承
巴音贺希格
陈少杰
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2012
4
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