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基于单片机的同位素过程测量仪表信号处理方法
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作者 李兰君 唐耀庚 高嵩 《仪表技术与传感器》 CSCD 北大核心 2001年第3期20-21,共2页
介绍一种同位素过程参数检测的脉冲数字测量方法 ,该方法采用单片机技术和简单实用的测量算法 ,测量信号脉冲计数率 ,可减少仪表测量误差 ,改善仪表动态性能。文中讨论了测量算法 ,给出了应用结果。
关键词 同位素 过程参数检测 信号脉冲 测量算法 单处机 信号处理
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