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统计分析

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序列二次逼近下的集成电路统计最优化方法被引量：3: 1; 作者郝跃《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1994年第2期8-14,共7页; 基于对电路特性函数的序列正交二次逼近，本文给出了考虑工艺参数随机起伏引起电路特性随机变化的统计最优化方法。该方法是根据集成电路设计和制造的特殊性提出的，它与传统的统计最优化模型和方法有显著区别，适合于电路设计参数和工... 展开更多; 关键词集成电路统计参数设计最佳化; 在线阅读下载PDF 职称材料

统计DCTT最佳容差分配方法: 2; 作者郝跃过润秋《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1996年第2期28-31,共4页; 本文提出了集成电路参数最佳容差分配的新模型和方法，该方法利用精确罚函数方法求解一类特殊的不可微最优化问题；它不仅可提供最佳容差分配结果，而且可为ＤＣＴＴ统计最优化提供满意的可行点。同时，这类方法可直接解决集成电路的泛... 展开更多; 关键词集成电路设计容差分配统计最优化; 在线阅读下载PDF 职称材料

	题名	作者	出处	发文年	被引量	操作
1	序列二次逼近下的集成电路统计最优化方法	郝跃	《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心	1994	3	在线阅读下载PDF 职称材料
2	统计DCTT最佳容差分配方法	郝跃过润秋	《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心	1996	0	在线阅读下载PDF 职称材料

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