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电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定矿样中痕量金 被引量:22
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作者 季春红 李建强 +3 位作者 黄文杰 包蕊 郭茹 胡俊杰 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2010年第5期1396-1399,共4页
建立了电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定低品位金矿样品中痕量金的方法,优化了仪器分析条件,对测定介质、干扰等进行了系统研究,结果标明:在小于10%(φ)王水介质中,所用酸不影响测定;矿中常见的阳离子的干扰,通过用10%盐酸(... 建立了电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定低品位金矿样品中痕量金的方法,优化了仪器分析条件,对测定介质、干扰等进行了系统研究,结果标明:在小于10%(φ)王水介质中,所用酸不影响测定;矿中常见的阳离子的干扰,通过用10%盐酸(φ)进行预溶解去除,残留的基体元素对测定没有影响。试样中存在的硅对金208.2nm产生严重的光谱干扰,用硅的251.6nm线进行干扰系数法校正。采用上述条件测定了高硫尾矿中的痕量金,结果与活性炭富集-原子吸收法所得结果一致。在实验条件下,对金矿的检测限为0.10g·t-1。 展开更多
关键词 icp-aes 痕量金 基体效应 干扰系数校正法
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ICP-AES分析中干扰及其校正方法的进展(Ⅰ) 被引量:23
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作者 李帆 范健 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1998年第3期325-328,共4页
本文对ICPAES分析中的光谱干扰、非光谱干扰及其校正方法的研究及应用的新进展进行了综述。
关键词 icp-aes 综述 干扰校正 aes 校正
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ICP-AES测定高纯钨中杂质元素 被引量:22
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作者 范健 黄进宇 +3 位作者 邹玫玫 裘立奋 王吉申 杜方才 《中南工业大学学报》 CSCD 北大核心 1999年第1期71-73,共3页
采用电感耦合等离子体原子发射光谱法(即ICPAES法)测定钨中的14种杂质元素,并对19种微量元素的基体效应和光谱干扰进行了研究,建立了ICPAES与基体分离及干扰系数校正相结合的方法.此法解决了钨在分析测定时的基体... 采用电感耦合等离子体原子发射光谱法(即ICPAES法)测定钨中的14种杂质元素,并对19种微量元素的基体效应和光谱干扰进行了研究,建立了ICPAES与基体分离及干扰系数校正相结合的方法.此法解决了钨在分析测定时的基体干扰问题,能快速、准确、同时测定高纯钨中14种微量元素,回收率高于90%,相对标准偏差为1%~6%.它为钨产品的检测提供了新的切实可行的分析手段. 展开更多
关键词 微量元素 钨基体效应 光谱干扰 沉淀分离
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ICP-AES初级专家系统中的谱线干扰校正的研究 被引量:7
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作者 应海 王小如 黄本立 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1998年第6期687-692,共6页
本工作建立了ICP-AES初级专家系统中的谱线干扰校正模块,并运用于实际光谱干扰校正问题。
关键词 icp aes 干扰校正 专家系统 光谱干扰
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矩阵投影算法用于校正ICP-AES中的光谱干扰 被引量:5
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作者 孙大海 张志刚 +2 位作者 庄峙厦 谷胜 王小如 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1998年第2期194-198,共5页
本文将矩阵投影算法应用于ICP-AES中光谱干扰的校正。在有关文献方法基础上,对残差作了进一步的校正,并采用最优化技术确定背景光谱的最优解,因而提高了方法的准确度。对实际干扰体系的校正结果表明,本方法能够对ICP-A... 本文将矩阵投影算法应用于ICP-AES中光谱干扰的校正。在有关文献方法基础上,对残差作了进一步的校正,并采用最优化技术确定背景光谱的最优解,因而提高了方法的准确度。对实际干扰体系的校正结果表明,本方法能够对ICP-AES中比较复杂的结构背景以及谱线重叠干扰进行较为准确地校正。 展开更多
关键词 矩阵投影算法 icp-aes aes干扰校正
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ICP-AES中迭代干扰校正法在稀土配分上的应用 被引量:7
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作者 张涵 杨毅芸 黄坚锋 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1995年第2期49-56,共8页
本文采用干扰系数迭代校正法测定稀土氧化物富集样中稀土元素的含量。应用迭代校正程序,计算机可以迅速得出准确结果。为了减少分析波长选择的盲目性,建立了一套扫描峰形图谱库。将ICP-AES与微机联用直接选出了各个稀土元素的... 本文采用干扰系数迭代校正法测定稀土氧化物富集样中稀土元素的含量。应用迭代校正程序,计算机可以迅速得出准确结果。为了减少分析波长选择的盲目性,建立了一套扫描峰形图谱库。将ICP-AES与微机联用直接选出了各个稀土元素的最优测量条件,综合确定仪器的最佳工作参数。本法的回收率为90~108%,R.S.D小于6%。 展开更多
关键词 icp-aes 迭代校正 稀土氧化物 富集样
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ICP-AES法测定仲钨酸铵中微量硼 被引量:3
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作者 范健 黄进宇 +2 位作者 曹玲江 王丽群 李天瑞 《中南工业大学学报》 CSCD 北大核心 2000年第1期64-66,共3页
为了解决高纯仲钨酸铵中杂质元素硼的测定问题 ,采用ICP AES测定方法 ,对测定中基体效应及光谱干扰进行了研究 ,考察了酸度、蒸干程度、放置时间等因素对钨的沉淀程度及硼的回收率的影响 ;此外 ,将基体分离与干扰系数校正法相结合 ,建... 为了解决高纯仲钨酸铵中杂质元素硼的测定问题 ,采用ICP AES测定方法 ,对测定中基体效应及光谱干扰进行了研究 ,考察了酸度、蒸干程度、放置时间等因素对钨的沉淀程度及硼的回收率的影响 ;此外 ,将基体分离与干扰系数校正法相结合 ,建立了简便、快速、准确测定高纯仲钨酸铵中微量硼的新方法 .结果表明 :用该法测定硼的回收率大于 95 .8% ,测定仲钨酸铵中 0 0 0 0x%~ 0 0 0x%硼的相对标准偏差小于 3% ,其准确度及精密度均符合要求 ,能用于出口产品控制分析 . 展开更多
关键词 仲钨酸铵 icp-aes 基体效应 光谱干扰 微量硼
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基于差分进化算法的ICP-AES谱线重叠干扰校正方法研究 被引量:4
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作者 廉小亲 陈彦铭 +3 位作者 刘钰 黄静 龚永罡 霍亮生 《电子测量与仪器学报》 CSCD 北大核心 2020年第11期72-83,共12页
在电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测量系统中,光谱的叠加现象会导致大部分谱线受到不同程度的重叠干扰,引起后续的定量分析误差。根据光谱叠加产生机理,重点阐述谱线重叠干扰校正思路,建立干扰校正评价函数;基于有限差分法计... 在电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测量系统中,光谱的叠加现象会导致大部分谱线受到不同程度的重叠干扰,引起后续的定量分析误差。根据光谱叠加产生机理,重点阐述谱线重叠干扰校正思路,建立干扰校正评价函数;基于有限差分法计算重叠谱线的近似二阶导数,根据其极小值分布确定重叠谱线中子峰谱线特征波长的最小取值区间,并以此作为差分进化算法的初始条件之一,然后利用差分进化算法求解评价函数的最优解,作为重叠谱线的最佳特征向量,进而解析出重叠谱线中的干扰谱线和目标谱线。通过构造的模拟重叠谱线数据,研究差分进化算法的种群数量和进化代数对算法性能的影响,并通过实测重叠谱线数据验证了提出的谱线重叠干扰校正方法在工程领域中应用的可行性。实验结果表明,差分进化算法能够较为准确地计算出评价函数的最佳特征向量,并解析出重叠谱线中的目标谱线和干扰谱线,从而实现谱线重叠干扰校正,为待测溶液中元素含量的定量分析奠定了基础。 展开更多
关键词 icp-aes 谱线重叠 干扰校正 差分进化算法 有限差分法
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电感耦合等离子体原子发射光谱分析中的光谱干扰及其校正的研究进展 被引量:63
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作者 赵君威 梅坛 +2 位作者 鄢国强 陶美娟 陈忠颖 《理化检验(化学分册)》 CAS CSCD 北大核心 2013年第3期364-369,共6页
对电感耦合等离子体原子发射光谱法分析中的光谱干扰来源(包括谱线重叠干扰和背景干扰)及其校正方法(仪器装置的改进、选择合适的分析线、背景校正法、干扰系数校正法、标准加入法、谱线拟合法、卡尔曼滤波法和导数光谱法等)的研究进展... 对电感耦合等离子体原子发射光谱法分析中的光谱干扰来源(包括谱线重叠干扰和背景干扰)及其校正方法(仪器装置的改进、选择合适的分析线、背景校正法、干扰系数校正法、标准加入法、谱线拟合法、卡尔曼滤波法和导数光谱法等)的研究进展进行了综述(引用文献58篇)。 展开更多
关键词 电感耦合等离子体原子发射光谱法 光谱干扰 干扰校正 综述
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电感耦合等离子体原子发射光谱法测定镍基单晶高温合金中Mo、W、Ta、Re、Ru时元素之间相互干扰的消除与校正的研究 被引量:3
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作者 朱天一 冯典英 +3 位作者 李本涛 黄辉 李颖 巩琛 《理化检验(化学分册)》 CAS CSCD 北大核心 2020年第4期443-448,共6页
称取镍基单晶高温合金0.100 0g于聚四氟乙烯烧杯中,先令其与盐酸9mL和硝酸1mL加热反应,待反应缓慢时滴加氢氟酸2mL并继续加热使样品完全溶解。加入500g·L^-1酒石酸溶液2mL,冷却至室温,在塑料容量瓶中加水定容至100.0mL。按仪器工... 称取镍基单晶高温合金0.100 0g于聚四氟乙烯烧杯中,先令其与盐酸9mL和硝酸1mL加热反应,待反应缓慢时滴加氢氟酸2mL并继续加热使样品完全溶解。加入500g·L^-1酒石酸溶液2mL,冷却至室温,在塑料容量瓶中加水定容至100.0mL。按仪器工作条件采用电感耦合等离子体原子发射光谱法测定其中5种合金元素(Mo、W、Ta、Re、Ru)的含量,选择分析谱线依次为204.598,207.911,240.063,197.312,240.272nm。结果发现:除了Re外,其余4种元素的测定中均受共存元素的光谱干扰,严重影响了测定结果的准确性。为克服其干扰,除了采用基体匹配法消除镍的基体干扰外,试验采用混合校正系数矩阵法对测定结果进行校准。通过一系列试验计算得到混合校准系数矩阵K,并应用于模拟样品的分析。结果表明:经过矩阵K的校准,所测定的5种元素的准确度显著提高,达到了消除共存元素之间光谱干扰的目的。通过精密度试验,测得上述5种元素测定值的相对标准偏差(n=11)均在1.5%以下,并通过标准加入法进行回收试验,测得5种元素的回收率为97.0%~105%。 展开更多
关键词 电感耦合等离子体原子发射光谱法 镍基单晶高温合金 光谱干扰
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电感耦合等离子体原子发射光谱法结合干扰元素校正测定茶叶中的重金属 被引量:9
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作者 许雯雯 冯旭 +2 位作者 宋晓红 段伟亚 杨桂香 《理化检验(化学分册)》 CAS CSCD 北大核心 2015年第7期921-924,共4页
用微波消解法处理茶叶样品,采用电感耦合等离子体原子发射光谱法测定其中的钡、钴、铬、铜、镍、铅、锶和钒。通过光谱干扰校正技术消除元素干扰。钡、钴、铬、铜、镍、铅、锶和钒的检出限(3s/k)分别为0.17,1.1,3.2,2.6,2.0,5.1,0.17,... 用微波消解法处理茶叶样品,采用电感耦合等离子体原子发射光谱法测定其中的钡、钴、铬、铜、镍、铅、锶和钒。通过光谱干扰校正技术消除元素干扰。钡、钴、铬、铜、镍、铅、锶和钒的检出限(3s/k)分别为0.17,1.1,3.2,2.6,2.0,5.1,0.17,0.78μg·L^-1。方法用于测定GBW10052标准物质中的重金属元素,测定值与认定值相吻合,相对标准偏差(n=6)在0.41%-1.6%之间。 展开更多
关键词 电感耦合等离子体原子发射光谱法 光谱干扰校正 重金属 茶叶
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电感耦合等离子体原子发射光谱法测定铁基合金中铅量——联合应用FACT技术及标准加入法消除干扰 被引量:6
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作者 叶晨 《理化检验(化学分册)》 CAS CSCD 北大核心 2014年第10期1291-1295,共5页
联合应用随同仪器提供的快速自动曲线拟合技术(FACT)校正软件和标准加入法同时消除了在电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定铁基材料中铅含量时的基体干扰和光谱干扰。试验按1常规方法,2标准加入法和3联合应用FACT校正法和标... 联合应用随同仪器提供的快速自动曲线拟合技术(FACT)校正软件和标准加入法同时消除了在电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定铁基材料中铅含量时的基体干扰和光谱干扰。试验按1常规方法,2标准加入法和3联合应用FACT校正法和标准加入法校正后,用ICP-AES分别测定混合标准溶液中的铅。选用的分析谱线为182,217,220nm。结果表明:按1测得的铅量,由于基体负干扰而偏低;按2所得结果接近已知值,这是由于仪器附带的软件有"Fitted"校正功能,当发生光谱干扰时能自动进行校正;按3所得结果准确性最好。将上述成果应用于铁钉样品分析,测得结果的准确度和精密度均较好,基体干扰和光谱干扰都得到了消除。 展开更多
关键词 电感耦合等离子体原子发射光谱法 FACT校正 光谱干扰 铁基合金
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氢氧化铁共沉淀-电感耦合等离子体原子发射光谱法测定钨精矿中磷 被引量:3
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作者 丁思远 谭彬 +2 位作者 代小吕 杨利华 帅琴 《理化检验(化学分册)》 CAS CSCD 北大核心 2020年第9期1021-1024,共4页
钨精矿样品经盐酸和硝酸-氢氟酸-高氯酸(体积比为1∶1∶1)混合溶液于聚四氟乙烯溶样罐中进行消解,在氨水介质中,样品中的微量磷与氢氧化铁形成共沉淀,从而与基体中钨和铜进行分离,再用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定其中... 钨精矿样品经盐酸和硝酸-氢氟酸-高氯酸(体积比为1∶1∶1)混合溶液于聚四氟乙烯溶样罐中进行消解,在氨水介质中,样品中的微量磷与氢氧化铁形成共沉淀,从而与基体中钨和铜进行分离,再用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定其中磷的含量。试验选择214.914nm谱线作为磷的分析谱线,结合干扰系数校正法消除了钨对磷的光谱干扰。磷的质量浓度在10mg·L^-1以内与其光谱强度呈线性关系,检出限(3σ)为28μg·g^-1。方法应用于钨精矿样品中磷的测定,测定值的相对标准偏差(n=12)为2.4%~5.1%,测定结果与国家标准方法的测定结果有良好的一致性。 展开更多
关键词 电感耦合等离子体原子发射光谱法 钨精矿 共沉淀 干扰系数校正
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