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双面光伏组件I-V测试方法研究 被引量:2
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作者 曾祥超 张鹤仙 +2 位作者 王水威 黄国华 马海真 《太阳能学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2021年第3期370-374,共5页
主要研究双面光伏组件的电性能测试,通过选择6种不同的双面光伏组件,分别采用等效光强法、双面同步打光法以及公式法进行实验验证。通过实验发现:不同测试方法对同一块组件进行I-V测试的结果差异较大,但这种差异在不同类型组件测试中并... 主要研究双面光伏组件的电性能测试,通过选择6种不同的双面光伏组件,分别采用等效光强法、双面同步打光法以及公式法进行实验验证。通过实验发现:不同测试方法对同一块组件进行I-V测试的结果差异较大,但这种差异在不同类型组件测试中并不一致,所以3种测试方法并不能简单地等同。最后根据光伏组件应用场景分析,推荐使用SEMI的双面同步闪光法对双面光伏组件进行I-V测试。 展开更多
关键词 光伏 i-v测试 测试标准 双面光伏组件
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光伏组件用太阳模拟器I-V测试仪校准方法研究 被引量:1
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作者 林剑春 《质量技术监督研究》 2015年第3期6-9,13,共5页
光伏组件的功率测量与太阳模拟器I-V测试仪密切相关。为了满足光伏组件制造企业在产线上对I-V测试仪进行快速校准的需求,文中提出了一种基于标准光伏组件比较测量的校准方法,并进行了不确定度分析计算。测量时,将标准光伏组件放置在太... 光伏组件的功率测量与太阳模拟器I-V测试仪密切相关。为了满足光伏组件制造企业在产线上对I-V测试仪进行快速校准的需求,文中提出了一种基于标准光伏组件比较测量的校准方法,并进行了不确定度分析计算。测量时,将标准光伏组件放置在太阳模拟器有效工作面上并保持位置不变,再用数字信号采集装置分别对标准光伏组件的开路电压和短路电流进行测量,然后将测量结果与太阳模拟器I-V测试仪得到的数值进行比较,得到修正系数。该方法综合考虑了辐照度、温度、采样时间等因素。根据分析,开路电压校准结果的相对扩展不确定度为1.6%(k=2),短路电流校准结果的相对扩展不确定度为1.8%(k=2),该过程能够较好地保证光伏组件功率的准确测量。 展开更多
关键词 光伏组件 太阳模拟器 i-v测试 校准
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吉时利全新测试卡扩展了4500-MTS多通道I-V测试系统的功能
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《电子质量》 2004年第2期22-22,共1页
Keithley仪器公司,推出适用于4500—MTS多通道I—V测试系统的两款全新的多通道源一测量测试卡,这两款新品的操作量程都得到了扩展。
关键词 吉时利公司 4500—MTS i-v测试系统 测试
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便携式I-V测试仪测试结果准确性的影响因素研究
4
作者 张果 王瑜 +2 位作者 卢刚 马晓龙 雷鸣宇 《太阳能》 2022年第2期23-30,共8页
采用便携式I-V测试仪在户外进行光伏组件最大功率测试时,测试结果会不同程度地受到外界因素的影响,从而使得到的光伏组件最大功率测试结果出现偏差。本文通过对比不同外界因素(比如:太阳辐照度、辐照计摆放位置、光伏组件工作温度及风速... 采用便携式I-V测试仪在户外进行光伏组件最大功率测试时,测试结果会不同程度地受到外界因素的影响,从而使得到的光伏组件最大功率测试结果出现偏差。本文通过对比不同外界因素(比如:太阳辐照度、辐照计摆放位置、光伏组件工作温度及风速等)下测试得到的光伏组件最大输出功率值,分析不同外界因素对户外采用便携式I-V测试仪进行光伏组件最大功率测试结果的影响,以期为户外光伏组件最大功率测试提供一种最优的测试方案。 展开更多
关键词 便携式i-v测试 最大输出功率 外界因素 光伏组件 最大功率测试 辐照计
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无主栅太阳电池电性能测试接触及方法研究
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作者 张鹤仙 孙悦 +3 位作者 刘皎 雷小军 李涛 杜国帅 《太阳能》 2024年第9期49-57,共9页
在太阳电池持续提效降本的过程中,其栅线金属化技术一直是其关键路径之一。太阳电池的主栅结构已从2~6根的常规主栅方案演变至12~24根的多主栅方案;自2022年起,无主栅方案开始在太阳电池产业端应用。I-V测试中常规的探针方案是依赖于探... 在太阳电池持续提效降本的过程中,其栅线金属化技术一直是其关键路径之一。太阳电池的主栅结构已从2~6根的常规主栅方案演变至12~24根的多主栅方案;自2022年起,无主栅方案开始在太阳电池产业端应用。I-V测试中常规的探针方案是依赖于探针在主栅上进行电性能参数采集,这一方法与无主栅太阳电池存在着设计上的不匹配,无法实现有效I-V测试。因此,提出一种适用于无主栅太阳电池并兼容多主栅太阳电池的测试系统,确保测试过程中测试夹具与细栅电极可靠接触,实现I-V特性的准确测试。同时,通过结构与材料的优选设计,整套测试系统的可靠性与稳定性均得到提升,满足了量产测试的要求。 展开更多
关键词 太阳电池 无主栅 接触 i-v测试 产业化可行性
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快热退火对Co/n-Poly-SiGe肖特基结I-V-T特性的影响
6
作者 王光伟 姚素英 +1 位作者 徐文慧 王雅欣 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2011年第5期582-586,共5页
采用射频磁控溅射法在n-Si(100)衬底上沉积Si1-xGex薄膜,俄歇电子谱(AES)测定Si1-xGex薄膜的Ge含量约为17%。对薄膜进行高温磷扩散掺杂,制得n-poly-Si0.83Ge0.17。在n-poly-Si0.83Ge0.17薄膜上溅射一层Co膜,制成Co/n-poly-Si0.83Ge0.17/... 采用射频磁控溅射法在n-Si(100)衬底上沉积Si1-xGex薄膜,俄歇电子谱(AES)测定Si1-xGex薄膜的Ge含量约为17%。对薄膜进行高温磷扩散掺杂,制得n-poly-Si0.83Ge0.17。在n-poly-Si0.83Ge0.17薄膜上溅射一层Co膜,制成Co/n-poly-Si0.83Ge0.17/n-Si肖特基结样品。在300~600℃范围内,对样品做快热退火。对不同退火温度下的样品做I-V-T测试。研究发现,测试温度升高,不同退火温度样品的肖特基势垒高度(SBH)的差别变小,500℃退火的样品,表观SBH最小。总体上,SBH随测试温度的升高而变大,理想因子的变化趋势则与之相反。基于SBH的不均匀分布建模,对实验结果给出了较为合理的解释。 展开更多
关键词 变温i-v测试 肖特基结 快热退火 理想因子 肖特基势垒高度的不均匀性
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高空用标准太阳电池特性测试与拟合
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作者 张玉燕 刘勇 +1 位作者 温银堂 罗小元 《光电工程》 CAS CSCD 北大核心 2017年第7期725-731,共7页
高空条件下太阳电池特性测试对于研究航天用太阳电池具有重要意义。本文提出了一种高空太阳电池I-V特性曲线测量方案,研究基于FPGA的硬件测试系统、并行数据采集测量方式和系统软件自动测量方法。提出基于混沌算法与遗传算法融合的太阳... 高空条件下太阳电池特性测试对于研究航天用太阳电池具有重要意义。本文提出了一种高空太阳电池I-V特性曲线测量方案,研究基于FPGA的硬件测试系统、并行数据采集测量方式和系统软件自动测量方法。提出基于混沌算法与遗传算法融合的太阳电池I-V特性曲线拟合算法。针对地面测试实验数据,利用太阳电池单二极管数学模型进行曲线拟合计算,结果表明混沌遗传算法优化结果适应度值为4.0289?10-4,曲线拟合效果优于粒子群算法和遗传算法。 展开更多
关键词 太阳电池 i-v特性测试 混沌遗传算法 曲线拟合
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太阳电池Ⅰ-Ⅴ测试仪校准实质的研究 被引量:2
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作者 张治 董鹏 +2 位作者 吕欣 崇锋 王雪松 《太阳能》 2013年第8期47-50,共4页
测试分析了不同辐照、不同温度下太阳电池的短路电流、开路电压和功率的变化,比较了采用短路电流和功率校准后太阳电池电性能的测量结果,得到太阳电池Ⅰ-Ⅴ测试的校准实质。
关键词 i-v测试 太阳电池 校准实质
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Keithley推出多通道源——测量测试卡
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《电子与电脑》 2004年第3期27-27,共1页
Keithley仪器公司(NYSE:KEI)日前宣布,推出适用于4500-MTS多通道I-V测试系统的两款全新的多通道源一测量测试卡,这两款新品的操作量程都得到了扩展。对于4500-MTS PCI主机9个插槽中的任何一个,每一个450O-及4511-QIVC(Quad I-V卡)... Keithley仪器公司(NYSE:KEI)日前宣布,推出适用于4500-MTS多通道I-V测试系统的两款全新的多通道源一测量测试卡,这两款新品的操作量程都得到了扩展。对于4500-MTS PCI主机9个插槽中的任何一个,每一个450O-及4511-QIVC(Quad I-V卡)都可以提供4个源——测量通道,因此一共可以实现多达36个I-V测量通道。4500-MTS及其Quad I-V卡可以在很短的时间内完成这些测量,而且成本仅为同样的分立仪器系统的很小一部分。 展开更多
关键词 Keithley仪器公司 多通道源 测量测试 4500-MTS多通道 i-v测试系统 电压测量 电流测量
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DOE方法在ESD及LU测试故障定位方面的应用研究 被引量:2
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作者 鹿祥宾 陈燕宁 +3 位作者 张海峰 原义栋 钟明琛 张志刚 《固体电子学研究与进展》 CAS 北大核心 2020年第3期226-232,共7页
介绍了一种通过因果图及DOE(试验设计)对ESD及LU测试中出现的复杂失效问题进行快速分析定位的方法。该方法通过因果图的制定,全面建立可能造成失效的各个层级的影响因子;通过两个层次DOE设计,以最少的测试次数筛选出最关键的影响因子。... 介绍了一种通过因果图及DOE(试验设计)对ESD及LU测试中出现的复杂失效问题进行快速分析定位的方法。该方法通过因果图的制定,全面建立可能造成失效的各个层级的影响因子;通过两个层次DOE设计,以最少的测试次数筛选出最关键的影响因子。最终发现I-V曲线测量时电压设定过大以及I-V曲线测量达到一定次数是触发本次失效问题产生的根本原因。该分析方法可以作为ESD及LU测试中失效分析的有力补充。 展开更多
关键词 静电放电 闩锁效应 i-v曲线测试 因果图 试验设计 失效分析
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干法刻蚀InSb时Ar气含量的选取 被引量:2
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作者 李海燕 谭振 +1 位作者 陈慧卿 亢喆 《激光与红外》 CAS CSCD 北大核心 2018年第12期1503-1508,共6页
感应耦合等离子体(ICP)刻蚀技术是目前国际制备InSb台面结型焦平面阵列技术的主流技术之一。文章研究采用ICP刻蚀技术,以CH4/H2/Ar刻蚀气体体系对InSb材料进行干法刻蚀时刻蚀气体体系中Ar气体积组分对材料刻蚀形貌及器件性能的影响。实... 感应耦合等离子体(ICP)刻蚀技术是目前国际制备InSb台面结型焦平面阵列技术的主流技术之一。文章研究采用ICP刻蚀技术,以CH4/H2/Ar刻蚀气体体系对InSb材料进行干法刻蚀时刻蚀气体体系中Ar气体积组分对材料刻蚀形貌及器件性能的影响。实验方案设置为在控制其他实验变量相同的情况下设置不同Ar气体积分数的刻蚀气体体系对InSb材料进行台面蚀刻,通过扫描电子显微镜(SEM)、激光共聚焦显微镜考察台面刻蚀形貌,通过I-V测试得到的器件性能结果考察刻蚀损伤情况。从实验结果得到,Ar体积占据总气体体积的30%~35%时台面刻蚀形貌良好,表面损伤轻,器件性能良好,刻蚀工艺满足要求。 展开更多
关键词 锑化铟 感应耦合等离子体刻蚀 氩气 表面形貌 化学计量比 i-v测试
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集成式低倍聚光光伏组件模块开发 被引量:1
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作者 刘大为 高虎 +1 位作者 彭文博 赵志国 《太阳能学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第3期709-715,共7页
提出一套集成式低倍聚光光伏组件光路的优化算法,并设计制作聚光比为2.2的晶体硅聚光电池模块,在标准光照条件(AM1.5)下,开路电压为0.69 V,短路电流密度为35 m A/cm^2,最大功率点效率约为14.2%。与使用相同电池材料制作的普通晶体硅模... 提出一套集成式低倍聚光光伏组件光路的优化算法,并设计制作聚光比为2.2的晶体硅聚光电池模块,在标准光照条件(AM1.5)下,开路电压为0.69 V,短路电流密度为35 m A/cm^2,最大功率点效率约为14.2%。与使用相同电池材料制作的普通晶体硅模块相比,效率可提高0.7%。相比普通晶体硅组件,该型组件可节约50%~60%的电池材料使用量。 展开更多
关键词 集成式低倍聚光光伏 晶体硅组件 光路设计 电池开发 i-v测试
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工程应用中的光伏组件输出功率衰减率评估 被引量:2
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作者 周猛 周义君 刘好 《太阳能》 2022年第2期58-61,共4页
本文利用型号为HT I-V 525W的I-V曲线测试仪对实际工程应用中光伏组件的电性能数据进行了实地测试,通过该测试仪将测试数据折算为标准测试条件(STC)下的最大输出功率,然后统计STC下光伏组件的最大输出功率并计算其输出功率衰减率,以评... 本文利用型号为HT I-V 525W的I-V曲线测试仪对实际工程应用中光伏组件的电性能数据进行了实地测试,通过该测试仪将测试数据折算为标准测试条件(STC)下的最大输出功率,然后统计STC下光伏组件的最大输出功率并计算其输出功率衰减率,以评估光伏组件在工程应用中的输出功率衰减率情况。该研究可为光伏组件的清洗周期提供依据。 展开更多
关键词 i-v曲线测试 光伏组件 输出功率衰减率 评估 清洗周期
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