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题名CRC生成与同构逆序校验方法
被引量：1
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作者
梁海华
盘丽娜
李克清
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机构
常熟理工学院计算机科学与工程学院
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出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2014年第9期167-169,172,共4页
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基金
国家自然科学基金资助项目(61202440
61300186)
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文摘
循环冗余校验码(CRC)被广泛应用于通信领域,CRC生成有两种电路:I型、II型.现有的逆序校验方法是基于II型电路生成、I型电路逆序校验,存在CRC生成与逆序校验电路不同构的问题,不便于模块化设计.根据I、II型电路特性,基于全状态转移矩阵,给出一般情况下,即CRC生成电路寄存器为非零初态时,CRC生成为I型或II型对应的同构I型或II型逆序校验方法.生成与逆序校验同构后,中间处理电路结构不变,参数不同,可以根据需要对其进行优化,提高处理速率.最后,通过实例计算,验证了同构逆序校验方法的正确性.
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关键词
循环冗余校验
同构逆序校验
i型电路
Ii型电路
非零初态
全状态转移矩阵
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Keywords
Cyclic Redundancy Check(CRC)
Isomorphic Reverse Decoding
Type I
Type II
Non-zero initial state
Full State Transition Matrix
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分类号
TN911.2
[电子电信—通信与信息系统]
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