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电路中的ESD保护
被引量：
9
1
作者
吴昱旻
张金平
张定会
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006年第z3期2560-2561,共2页
静电放电(ESD)常常是导致设备损坏的根源之一。本文详细阐述ESD的来源、造成的危害以及讨论如何测试集成电路的防静电冲击能力,并提供一些抗ESD冲击的应用技术。
关键词
esd
hmb
通用串行总线
电磁兼容性
在线阅读
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职称材料
题名
电路中的ESD保护
被引量：
9
1
作者
吴昱旻
张金平
张定会
机构
上海理工大学光学与电子信息工程学院
出处
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006年第z3期2560-2561,共2页
文摘
静电放电(ESD)常常是导致设备损坏的根源之一。本文详细阐述ESD的来源、造成的危害以及讨论如何测试集成电路的防静电冲击能力,并提供一些抗ESD冲击的应用技术。
关键词
esd
hmb
通用串行总线
电磁兼容性
Keywords
esd hmb universal serial bus electro magnetic compatibility
分类号
TH7-55 [机械工程—精密仪器及机械]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
电路中的ESD保护
吴昱旻
张金平
张定会
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006
9
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