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题名嵌入式高速存储器中数据质量控制方法分析
被引量：12
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作者
郭杰
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机构
西安航空学院计算机学院
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出处
《电子测量技术》
2019年第18期118-122,共5页
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基金
国家自然基金(61871313)
西安航空学院校级科研基金(2016KY1211)项目资助
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文摘
为提升Flash存储器中的数据质量水平,达到SOC芯片对大容量数据高速率、可靠性的存储需求,首先介绍了嵌入式Flash高速存储器的应用性能及基本构成,并透过FLASH存储器中数据坏块和位交换故障对数据存储质量的影响性,引入基于阈值控制的损耗均衡算法,将损耗均分至不同的物理块上,控制坏块发生率;同时,融合ECC校验算法对发生位交换故障的数据进行修正。研究发现,损耗均衡算法通过将各数据块的擦除次数达到近似均衡,延长了Flash存储器的使用寿命,而ECC通过写校验码和读校验码的异或运算,便可实现对错误数据的纠正,两种算法的流程简单、可操作性强,可对Flash存储器数据质量进行有效控制。
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关键词
FLASH存储器
数据质量控制
损耗均衡算法
ecc校验算法
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Keywords
FLASH memory
data quality control
loss equalization algorithm
ecc verification algorithm
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分类号
TP274
[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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