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DI型64×64元InSb焦面探测器CADI注入方式的研究
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作者 王巍 《航空兵器》 2001年第4期30-33,共4页
研究了一种直接注入(DI)型64×64元InSb焦面探测器的电流辅助注入(CADI)工作方式,对CADI注入方式进行了分析,并同DI方式进行了比较。经研究发现:将两种注入方式结合使用,可以发挥各自的特长,弥补彼此的不足,从而提高现有焦面探测器... 研究了一种直接注入(DI)型64×64元InSb焦面探测器的电流辅助注入(CADI)工作方式,对CADI注入方式进行了分析,并同DI方式进行了比较。经研究发现:将两种注入方式结合使用,可以发挥各自的特长,弥补彼此的不足,从而提高现有焦面探测器的性能。最后,对两种注入方式结合使用的情况作了一些讨论。 展开更多
关键词 读出电路 红外阵列 直接注入 电流辅助注入 di型insb焦面探测器 CAdi方式
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InSb焦平面探测器的J-T制冷器 被引量:3
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作者 黄水安 刘永春 王巍 《红外与激光工程》 EI CSCD 北大核心 2002年第6期530-533,共4页
论述了InSb红外探测器制冷的必要性及所需的制冷温度,分析了InSb焦平面探测器对制冷的要求比分立引出(或单元)探测器更为严格的原因,指出InSb焦平面探测器的制冷温度在77~90K区间,其探测率变化不大;在137K时,分立引出(或单元)InSb探测... 论述了InSb红外探测器制冷的必要性及所需的制冷温度,分析了InSb焦平面探测器对制冷的要求比分立引出(或单元)探测器更为严格的原因,指出InSb焦平面探测器的制冷温度在77~90K区间,其探测率变化不大;在137K时,分立引出(或单元)InSb探测器仍有较高输出信噪比,但这时焦平面探测器的SNR却有较严重的下降。试验表明,采用J T节流制冷器的InSb焦平面探测器可以实现高性能。 展开更多
关键词 insb 多元红外探测器 探测器 J-T制冷器 量子效率 铟锑二元化合物 光伏
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准平面型InSb光伏列阵红外探测器
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作者 俞振中 王留福 +3 位作者 陈新强 沈寿珍 葛友放 胡文军 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS 1984年第2期147-149,共3页
在台式光敏面基础上,采用SiO_2介质掩蔽,金属膜延伸电极和衬底区超声引焊电极引线,研制成InSb光伏型列阵的准平面型器件。由本工艺制备的器件具有无串音、结阻抗高、反向耐压高、稳定性好等良好性能。
关键词 光敏 串音 串话 红外探测器 IR 探测器 实验设备 光伏器件 insb
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北京G120型Q3D磁谱仪焦面探测器系统
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作者 李志常 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2002年第5期385-392,共8页
根据 HI- 13串列加速器及 Q3D磁谱仪的特点和物理研究课题的要求 ,提出了与谱仪配用的焦面探测器的重要技术性能的要求。对磁谱仪和焦面探测器的联合系统的离子鉴别方法予以较详细的讨论。提出了模型设计的参数 ,并估算了各种可能的贡... 根据 HI- 13串列加速器及 Q3D磁谱仪的特点和物理研究课题的要求 ,提出了与谱仪配用的焦面探测器的重要技术性能的要求。对磁谱仪和焦面探测器的联合系统的离子鉴别方法予以较详细的讨论。提出了模型设计的参数 ,并估算了各种可能的贡献及最后可获得的性能及修正方法。最后给出了运行中的轻、重离子探测器的性能的实验结果。 展开更多
关键词 北京G120Q3D磁谱仪 探测器系统 串列加速器 粒子鉴别 核物理实验设备 离子探测器
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混成式焦面器件中InSb背面减反/钝化膜研制 被引量:4
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作者 张国栋 龚启兵 《航空兵器》 2001年第5期13-15,共3页
InSb凝视焦平面器件(FPA)制造中,InSb芯片背面经磨抛减薄后需在表面沉积减反/钝化膜,增大InSb芯片对红外光的吸收,同时减少载流子的表面复合。本文介绍了采用等离子化学气相沉积(PECVD)方法在几种不同沉积条件下生长的SiO_x,测量其光谱... InSb凝视焦平面器件(FPA)制造中,InSb芯片背面经磨抛减薄后需在表面沉积减反/钝化膜,增大InSb芯片对红外光的吸收,同时减少载流子的表面复合。本文介绍了采用等离子化学气相沉积(PECVD)方法在几种不同沉积条件下生长的SiO_x,测量其光谱透过率及C-V特性,通过对沉积条件进行优化分析,获得了适合于FPA中InSb芯片的既能有效减反又可以有效降低表面复合的沉积条件。 展开更多
关键词 FPA PECVD SIOX 复合 insb芯片 减反/钝化膜 等离子化学气相沉积 红外探测器 混成式器件
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面阵焦平面阵列积分方式的研究
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作者 王巍 龚启兵 《航空兵器》 2002年第4期47-48,共2页
研究了面阵焦平面阵列的两种积分工作方式:先积分后读出方式和边积分边读出方式。对两种积分方式及其优缺点进行了分析与比较,给出了焦平面阵列在两种积分方式下的性能测试,为面阵焦平面阵列两种积分方式的应用提供了重要的参考依据。
关键词 红外阵列 insb 硅处理器 电流积分 探测器
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