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碳化硅CMOS倒相器温度特性 被引量:2
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作者 王平 杨银堂 王旭 《西安电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第3期396-399,共4页
建立了6H SiC材料和器件模型,应用二维器件仿真软件MEDICI对所设计的亚微米6H SiC CMOS倒相器的温度特性进行了研究.研究结果表明,该倒相器在600K的高温下仍可以正常工作,且具有良好的电压转移特性和瞬态特性;在300~600K的温度范围内,... 建立了6H SiC材料和器件模型,应用二维器件仿真软件MEDICI对所设计的亚微米6H SiC CMOS倒相器的温度特性进行了研究.研究结果表明,该倒相器在600K的高温下仍可以正常工作,且具有良好的电压转移特性和瞬态特性;在300~600K的温度范围内,倒相器阈值电压由1.218V变化到1.274V,变化幅度较小. 展开更多
关键词 6H-SIC cmos倒相器 温度特性 电压转移 阈值电压
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