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TFT-LCD改善Particle Gap的研究
被引量：
4
1
作者
高欢
陈文智
+7 位作者
姚晔
张南红
汤展峰
辛志远
李静
范恒亮
韩君奇
尹文祥
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2018年第2期129-137,共9页
Particle Gap是TFT-LCD制程中常见的一种缺陷。以55UHD产品为例,Particle Gap发生率约为1.0%,对产品良率影响较大,为提升液晶屏品质和客户满意度,急需改善此不良。文章结合不良现象研究Particle Gap的主要异物模式,最终通过改善CF研磨...
Particle Gap是TFT-LCD制程中常见的一种缺陷。以55UHD产品为例,Particle Gap发生率约为1.0%,对产品良率影响较大,为提升液晶屏品质和客户满意度,急需改善此不良。文章结合不良现象研究Particle Gap的主要异物模式,最终通过改善CF研磨失败异物、沙粒状异物和透明状异物这种模式达到整体Particle Gap降低的效果。首先利用流程图分析影响异物模式的关键步骤,然后通过鱼骨图、决策矩阵、假设检验验证找出影响异物模式的显著因素,最后通过合力促进法总结出显著因素的最佳改善方案,导入量产并文件标准化,可平行推广至55UHD以外的其它尺寸。改善结果表明:通过以上3种异物类型的改善,55UHD Particle Gap发生率降低至少30%,为公司带来了巨大且显著的硬性节省。
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关键词
薄膜电晶体-液晶显示器
PARTICLE
GAP
cf研磨失败异物
透明状
异物
沙粒状
异物
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职称材料
题名
TFT-LCD改善Particle Gap的研究
被引量：
4
1
作者
高欢
陈文智
姚晔
张南红
汤展峰
辛志远
李静
范恒亮
韩君奇
尹文祥
机构
合肥鑫晟光电科技有限公司
群龙企业咨询(上海)有限公司
合肥乐凯科技产业有限公司
出处
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2018年第2期129-137,共9页
文摘
Particle Gap是TFT-LCD制程中常见的一种缺陷。以55UHD产品为例,Particle Gap发生率约为1.0%,对产品良率影响较大,为提升液晶屏品质和客户满意度,急需改善此不良。文章结合不良现象研究Particle Gap的主要异物模式,最终通过改善CF研磨失败异物、沙粒状异物和透明状异物这种模式达到整体Particle Gap降低的效果。首先利用流程图分析影响异物模式的关键步骤,然后通过鱼骨图、决策矩阵、假设检验验证找出影响异物模式的显著因素,最后通过合力促进法总结出显著因素的最佳改善方案,导入量产并文件标准化,可平行推广至55UHD以外的其它尺寸。改善结果表明:通过以上3种异物类型的改善,55UHD Particle Gap发生率降低至少30%,为公司带来了巨大且显著的硬性节省。
关键词
薄膜电晶体-液晶显示器
PARTICLE
GAP
cf研磨失败异物
透明状
异物
沙粒状
异物
Keywords
TFT-LCD
Particle gap
cf
grinding failure particle
transparent particle
sandy particle
分类号
TN141.9 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
TFT-LCD改善Particle Gap的研究
高欢
陈文智
姚晔
张南红
汤展峰
辛志远
李静
范恒亮
韩君奇
尹文祥
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2018
4
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