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题名Bi系铜氧化物射频介电性质的研究
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作者
冯双久
张显良
倪江利
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机构
安徽大学物理与材料科学学院信息材料与器件重点实验室
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出处
《材料导报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010年第18期15-16,27,共3页
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基金
国家自然科学基金(50672001)
安徽大学人才队伍建设经费项目资助
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文摘
测量了不同离子掺杂Bi2Sr2CaCu2Oy多晶样品的射频介电常数,发现样品的介电常数存在明显差别,分析认为这是由于离子掺杂改变了材料中的载流子浓度,导致材料的空间电荷极化差异所引起的。基于这种机制,成功解释了不掺杂样品在1700MHz附近的弛豫现象和不同样品损耗性质的差异。
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关键词
电工材料
介电性质
bi系铜氧化物
空间电荷极化
损耗角正切
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Keywords
electric materials, dielectric properties, bi based cuprates, interracial polarization, loss tangent
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分类号
TM201.44
[一般工业技术—材料科学与工程]
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