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一种基于BRAM分段同步查表的测试向量编解码方案
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作者 易茂祥 张佳桐 +2 位作者 鲁迎春 梁华国 马利祥 《电子与信息学报》 北大核心 2025年第9期3374-3384,共11页
基于ATE的集成电路制造测试是芯片产业链的重要一环,而逻辑测试向量的编解码及应用效率,对芯片的测试成本有着重要影响。因此,结合现代FPGA内集成高速BRAM的特点,该文提出一种基于分量统计的测试向量编码方案,用于将被测芯片的全部测试... 基于ATE的集成电路制造测试是芯片产业链的重要一环,而逻辑测试向量的编解码及应用效率,对芯片的测试成本有着重要影响。因此,结合现代FPGA内集成高速BRAM的特点,该文提出一种基于分量统计的测试向量编码方案,用于将被测芯片的全部测试向量生成分量编码表文件。与此同时,设计了一种BRAM分段同步查表控制电路,采用并行单端口BRAM结构多段地址分配模块和写优先访问时序模式,实现测试向量各分量的同步查表和并行输出。该文采用Vivado与Xilinx K7 FPGA开发平台,对查表电路进行了设计和仿真。配置了宽度64bit和定制分段地址深度的BRAM,结合数据传输和存储地址产生控制逻辑,利用UART接口将分量编码表COE文件下载到目标BRAM中,并取得分量在BRAM中的地址,将其应用于BRAM分段同步查表电路。仿真结果充分验证了同步查表电路功能的正确性。将建议方案用于工程ATE测试板的设计,可以有效提高ATE逻辑测试指令的执行效率。 展开更多
关键词 逻辑测试 测试向量 分量统计编码 块RAM 分段同步查表
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28 nm体硅工艺FPGA BRAM脉冲激光试验及翻转特性
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作者 薛国凤 周昌义 +2 位作者 安军社 吴昊 王天文 《空间科学学报》 CAS CSCD 北大核心 2024年第6期1147-1154,共8页
针对SRAM型FPGA内部BRAM在轨出现翻转错误以及如何有效进行容错设计的问题,提出了测试BRAM空间单粒子效应和多位翻转图样的方法.多位翻转图样可以表征单次单粒子事件导致的BRAM中相邻单元的翻转特征,进而用于分析逻辑字内是否存在多位翻... 针对SRAM型FPGA内部BRAM在轨出现翻转错误以及如何有效进行容错设计的问题,提出了测试BRAM空间单粒子效应和多位翻转图样的方法.多位翻转图样可以表征单次单粒子事件导致的BRAM中相邻单元的翻转特征,进而用于分析逻辑字内是否存在多位翻转.以XC7K410T-FFG900为研究对象,分析其内部资源的组织结构,采用脉冲激光试验测试BRAM的翻转特性.通过试验测得FPGA内BRAM的翻转阈值以及在不同激光能量下的翻转截面,并分析得到BRAM在不同能量照射下的多位翻转图样.试验结果表明, BRAM中单个单元翻转所占比例随激光能量的增加而降低,而多单元翻转所占比例随激光能量的增加呈上升趋势. BRAM在不同脉冲激光能量下可产生2 bit到11 bit的多单元翻转,但通过错误注入试验验证,该多单元翻转在单个字或者字节内并无多位翻转问题.研究结果为提高SRAM型FPGA在航天应用中的可靠性提供了试验支持,并依据BRAM的翻转特性给出了SRAM型FPGA在轨加固方法和建议. 展开更多
关键词 单粒子效应 脉冲激光 多单元翻转(MCU) bram翻转图样 单粒子翻转容错
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基于BRAM的NVMe控制器原型仿真平台设计 被引量:1
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作者 冯志华 王华卓 +2 位作者 安东博 罗重 王红艳 《计算机工程与设计》 北大核心 2021年第4期1181-1187,共7页
为加快NVMe控制器的开发进程,实现NVMe标准命令的快速仿真验证,提出一种基于BRAM的NVMe控制器原型仿真平台的设计方法。将采用块随机存储器代替闪存作为存储介质,处理器直接将数据写入块随机存储器,缩短数据的存储路径,极大地降低工程... 为加快NVMe控制器的开发进程,实现NVMe标准命令的快速仿真验证,提出一种基于BRAM的NVMe控制器原型仿真平台的设计方法。将采用块随机存储器代替闪存作为存储介质,处理器直接将数据写入块随机存储器,缩短数据的存储路径,极大地降低工程结构的复杂度,克服NVMe控制器工程仿真过程耗时较多的缺点。仿真结果表明了该方法的可行性,相比于原始NVMe控制器,其结构更简单,仿真过程用时明显减少。 展开更多
关键词 存储介质 非易失性存储 原型仿真 现场可编程逻辑门阵列 块随机存储器
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基于SoC的非对称数字系统算法设计与实现
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作者 姜智 肖昊 《合肥工业大学学报(自然科学版)》 CAS 北大核心 2024年第5期655-659,677,共6页
文章提出一种在片上系统(System on Chip,SoC)实现高吞吐率的有限状态熵编码(finite state entropy,FSE)算法。通过压缩率、速度、资源消耗、功耗4个方面对所提出的编码器和解码器与典型的硬件哈夫曼编码(Huffman coding,HC)进行性能比... 文章提出一种在片上系统(System on Chip,SoC)实现高吞吐率的有限状态熵编码(finite state entropy,FSE)算法。通过压缩率、速度、资源消耗、功耗4个方面对所提出的编码器和解码器与典型的硬件哈夫曼编码(Huffman coding,HC)进行性能比较,结果表明,所提出的硬件FSE编码器和解码器具有显著优势。硬件FSE(hFSE)架构实现在SoC的处理系统和可编程逻辑块(programmable logic,PL)上,通过高级可扩展接口(Advanced eXtensible Interface 4,AXI4)总线连接SoC的处理系统和可编程逻辑块。算法测试显示,FSE算法在非均匀数据分布和大数据量情况下,具有更好的压缩率。该文设计的编码器和解码器已在可编程逻辑块上实现,其中包括1个可配置的缓冲模块,将比特流作为单字节或双字节配置输出到8 bit位宽4096深度或16 bit位宽2048深度的块随机访问存储器(block random access memory,BRAM)中。所提出的FSE硬件架构为实时压缩应用提供了高吞吐率、低功耗和低资源消耗的硬件实现。 展开更多
关键词 有限状态熵编码(FSE) 哈夫曼编码(HC) 片上系统(SoC) 高吞吐率 块随机访问存储器(bram)
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Flash存储阵列坏块管理方法的设计与实现 被引量:8
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作者 张雪钰 焦新泉 刘东海 《电子测量技术》 2020年第20期21-25,共5页
目前高速大容量存储多采用Flash阵列架构,解决高速存储阵列中Flash芯片的坏块管理是提高该阵列存储可靠性和存储速度的关键。针对Flash阵列的坏块管理,提出基于整合块映射的坏块管理策略和基于BRAM查表法的坏块管理策略,并对这两种方案... 目前高速大容量存储多采用Flash阵列架构,解决高速存储阵列中Flash芯片的坏块管理是提高该阵列存储可靠性和存储速度的关键。针对Flash阵列的坏块管理,提出基于整合块映射的坏块管理策略和基于BRAM查表法的坏块管理策略,并对这两种方案进行对比,同时对传统突发坏块的管理方法进行优化,通过空闲回读模式来保证数据存储速度。经在线仿真与实际测试,可正确找出坏块地址且数据正确无误码,验证了上述方法的正确性和可操作性,同时对整合块管理方法造成的容量损失进行极限计算与实际测试,损失容量在1%以下,完全满足工程需求。 展开更多
关键词 NAND Flash 整合块 bram查表 坏块管理
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存储紧缩性高速QC-LDPC译码器的FPGA实现 被引量:1
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作者 谢天娇 李波 +1 位作者 杨懋 闫中江 《西北工业大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2019年第3期515-522,共8页
提出了一种高速部分并行准循环低密度奇偶校验码(quasi-cyclic low density parity check codes,QC-LDPC)译码器架构和该架构下的2种紧缩性存储策略,采用将多个相邻行的硬判决码字和外信息压缩到一个存储单元、硬判决待输出码字信息紧... 提出了一种高速部分并行准循环低密度奇偶校验码(quasi-cyclic low density parity check codes,QC-LDPC)译码器架构和该架构下的2种紧缩性存储策略,采用将多个相邻行的硬判决码字和外信息压缩到一个存储单元、硬判决待输出码字信息紧缩性存储及相对应的高速译码器架构,不仅减少了用于硬判决码字的存储块的数量,而且可以便于一个时钟周期内对多个数据同时进行访问并处理,从而提高了译码器的数据处理吞吐量。通过采用Xilinx XC4VLX160 FPGA 实现CCSDS标准中的LDPC译码器验证了文中提出的这种紧缩性存储策略及其高速译码器架构可以有效地利用FPGA资源来实现高速译码器,实现结果显示该译码器在布局布线后时钟频率可以工作在250 MHz,译码器采用14次迭代,对应2 Gb/s的译码吞吐量。 展开更多
关键词 QC-LDPC码 LDPC译码器 bram存储器 FPGA CCSDS
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